Skip to main content
Przejdź do strony domowej Komisji Europejskiej (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
polski pl
CORDIS - Wyniki badań wspieranych przez UE
CORDIS

Automated inspection tool to unveil defects in raw Silicon Carbide crystals.

Opis projektu

Nowe narzędzia pozwalające oceniać defekty kryształów węgliku krzemu

Węglik krzemu to najpopularniejszy półprzewodnik składający się z czystego krzemu i czystego węgla. Jest to materiał, którego właściwości sprawdzają się doskonale w różnego rodzaju elementach mocy oraz urządzeniach wykorzystywanych w samochodach elektrycznych, do produkcji energii odnawialnej oraz w innych zastosowaniach przemysłowych. Węglik krzemu dobrze znosi znacznie wyższe napięcia, częstotliwości i temperatury niż czysty krzem. Jednak jego zastosowanie w elektronice było mocno utrudnione ze względu na liczne defekty, którymi charakteryzuje się sieć krystaliczna tego półprzewodnika. Naukowcy pracujący wspólnie w ramach finansowanego przez UE projektu SiC_Scope planują zaprojektować zautomatyzowane narzędzie kontrolne, które umożliwiałoby producentom ocenę kryształów węgliku krzemu pod kątem defektów, zanim przystąpiliby oni do kosztownej fazy obróbki materiału. Dzięki niemu producenci materiałów półprzewodnikowych będą mogli usprawnić procesy hodowli kryształów i podnieść jakość produktu końcowego.

Cel

Silicon Carbide (SiC) is emerging semiconductor crystal for high-power electronics. There is great demand from Electric Vehicles and Power Generation industries for SiC devices that enable to operate at higher power, higher voltages, higher temperatures, and higher frequencies, compare to traditional silicon. On top of it SiC wafers reduce energy loss at electric power control, contributing to the reduction of energy use and the environmental stress.

Unfortunately high defectiveness of produced SiC crystals is a stumbling block in its wide-spread use in electronics. Today defective volume in SiC crystals could reach 50%, and the defects are unveiled only after crystal processing, wafering and, in many cases, polishing wafers. This process is considerably costly because SiC is one of the hardest materials with hardness just below diamond.

This project is to develop an automated inspection tool to enable manufacturers to assess defectiveness of SiC crystals before they enter costly processing. It will help semiconductor manufacturers to save resources on slicing and polishing initially defective crystals, and provide insight into the crystal quality to improve the growth process.

I am PhD in Physics who studied Material science, crystal growth and characterisation. The project will be carried out at the Swiss company Scientific Visual, that has developed quality inspection tools for other industrial crystals, and it is to expand its technology to Silicon Carbide.

Dziedzina nauki (EuroSciVoc)

Słowa kluczowe

Program(-y)

Temat(-y)

System finansowania

MSCA-IF - Marie Skłodowska-Curie Individual Fellowships (IF)

Wyświetl wszystkie projekty finansowane w ramach tego programu finansowania

Zaproszenie do składania wniosków

(odnośnik otworzy się w nowym oknie) H2020-MSCA-IF-2019

Wyświetl wszystkie projekty finansowane w ramach tego zaproszenia

Koordynator

SCIENTIFIC VISUAL SA
Wkład UE netto
€ 203 149,44
Adres
8, CHEMIN DES ALLINGES
1006 Lausanne
Szwajcaria
MŚP
Tak
Region
Schweiz/Suisse/Svizzera Région lémanique Vaud
Rodzaj działalności
Private for-profit entities (excluding Higher or Secondary Education Establishments)
Linki
Koszt całkowity
€ 203 149,44