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CORDIS - Forschungsergebnisse der EU
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Inhalt archiviert am 2024-04-15

DEVELOPMENT OF A NON DESTRUCTIVE TEST METHOD BASED ON ACOUSTIC MICROSCOPY FOR PROCESS MONITORING OF POWER SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURE

Ziel


Researchers have demonstrated that Scanning Acoustic Microscopy is a viable non-destructive technique for defect characterization in power semiconductor manufacturing. This technique is now used for in-line routine inspection by one of the project partners.
DURING PRODUCTION OF SEMICONDUCTOR DEVICES, DEFECTS ARE INEVITABLY INTRODUCED AT VARIOUS PROCESS STAGES, WHICH MAY RESULT IN REDUCED ELECTRICAL PERFORMANCE OR MANUFACTURING YIELD LOSS. EXAMPLES OF SUCH DEFECTS ARE MICROCRACKING OF THE SILICON WAFER OR VOIDS AT THE SILICON-CONTACT METALLIZATION INTERFACE. THE EFFECTS OF THESE DEFECTS ARE PARTICULARLY IMPORTANT IN POWER SEMICONDUCTOR DEVICES (P-I-N DIODES, BJTS, SCRS, RCTS, GTOS), SINCE HIGH VOLTAGE AND CURRENT RATINGS ARE REQUIRED FROM VERY LARGE AREA DEVICES WITH DIAMETERS UP TO 125 MM.
THE PURPOSE OF THIS PROJECT IS TO IDENTIFY AND CHARACTERIZE THE DEFECTS USING SCANNING ACOUSTIC MICROSCOPY (SAM) TECHNIQUES, WITH THE AIM OF DEVELOPING A NON-DESTRUCTIVE TEST METHOD FOR ON-LINE PROCESS MONITORING OF POWER SEMICONDUCTOR DEVICES MANUFACTURE. THIS RELATIVELY NEW TECHNIQUE IS EXPECTED TO PROVIDE UNIQUE INFORMATION FOR PROCESS AND DEVICE CHARACTERIZATION. THREE MAIN AREAS OF ACTIVITY WILL BE ADDRESSED.

THE FIRST PART OF THE PROJECT WILL BE DEVOTED TO THE CALIBRATION OF THE VARIOUS SAM EQUIPMENTS USED. A MEASUREMENT PROTOCOL AND A CALIBRATION METHODOLOGY WITH MATERIALS USED IN SEMICONDUCTOR PROCESSING WILL BE DEVELOPED.
THE CORE OF THE PROJECT WILL BE THE SAM INVESTIGATION OF POWER SEMICONDUCTOR SAMPLES CONTAINING KNOWN DEFECTS, CROSS-IDENTIFIED BY ALTERNATIVE ANALYTICAL TECHNIQUES. THIS ACTIVITY WILL PROVIDE THE ACOUSTIC CHARACTERIZATION OF THE VARIOUS DEFECTS STUDIED.

FINALLY THE DIGITAL PROCESSING OF ACOUSTIC IMAGES AND A STATISTICAL CONTROL PROCEDURE FOR THE AUTOMATIC IDENTIFICATION OF DEFECTS WILL BE CONSIDERED.
THE RESULTS OF THIS WORK ARE EXPECTED TO LEAD TO THE DEVELOPMENT, NOT NECESSARILY COMPLETED WITHIN THIS PROJECT, OF AN INDUSTRIAL SYSTEM FOR ON-LINE MONITORING OF POWER SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURE.

Wissenschaftliches Gebiet (EuroSciVoc)

CORDIS klassifiziert Projekte mit EuroSciVoc, einer mehrsprachigen Taxonomie der Wissenschaftsbereiche, durch einen halbautomatischen Prozess, der auf Verfahren der Verarbeitung natürlicher Sprache beruht. Siehe: Das European Science Vocabulary.

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Programm/Programme

Mehrjährige Finanzierungsprogramme, in denen die Prioritäten der EU für Forschung und Innovation festgelegt sind.

Thema/Themen

Aufforderungen zur Einreichung von Vorschlägen sind nach Themen gegliedert. Ein Thema definiert einen bestimmten Bereich oder ein Gebiet, zu dem Vorschläge eingereicht werden können. Die Beschreibung eines Themas umfasst seinen spezifischen Umfang und die erwarteten Auswirkungen des finanzierten Projekts.

Daten nicht verfügbar

Aufforderung zur Vorschlagseinreichung

Verfahren zur Aufforderung zur Einreichung von Projektvorschlägen mit dem Ziel, eine EU-Finanzierung zu erhalten.

Daten nicht verfügbar

Finanzierungsplan

Finanzierungsregelung (oder „Art der Maßnahme“) innerhalb eines Programms mit gemeinsamen Merkmalen. Sieht folgendes vor: den Umfang der finanzierten Maßnahmen, den Erstattungssatz, spezifische Bewertungskriterien für die Finanzierung und die Verwendung vereinfachter Kostenformen wie Pauschalbeträge.

CSC - Cost-sharing contracts

Koordinator

Ansaldo Trasporti SpA
EU-Beitrag
Keine Daten
Adresse
Via Nuova delle Brecce 260
80147 Napoli
Italien

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Gesamtkosten

Die Gesamtkosten, die dieser Organisation durch die Beteiligung am Projekt entstanden sind, einschließlich der direkten und indirekten Kosten. Dieser Betrag ist Teil des Gesamtbudgets des Projekts.

Keine Daten

Beteiligte (4)

Mein Booklet 0 0