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Contenuto archiviato il 2024-05-21

Sensor encapsulation by silicon bonding (SESIBON)

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Materiali prima incompatibili per la creazione di legami sui wafer vengono resi compatibili

Grazie a un finanziamento della Commissione Europea nell'ambito del Quinto programma quadro GROWTH, un'università svedese ha condotto un progetto di creazione di legami sui wafer di silicio a temperatura ambiente attivata mediante plasma.

Il processo di creazione di legami sui wafer viene impiegato, nel settore della microelettronica, per la fabbricazione di microsistemi e di materiali "silicio su isolante". I processi attualmente utilizzati richiedono l'attivazione con sostanze chimiche allo stato liquido e temperature elevate, che possono anche raggiungere 1000 gradi Celsius. Temperature di tale ordine di grandezza impediscono ad alcuni composti metallici di tollerare i processi di fabbricazione, con notevoli limitazioni. Per risolvere questo problema, un'università svedese ha studiato i processi di creazione di legami sui wafer di silicio a temperatura ambiente. Con la tecnica di evaporazione e sputtering, le superfici dei wafer vengono esposte a un plasma di ossigeno, azoto o argo; il gas ionizzato viene diretto sulla superficie metallica e quindi il materiale può essere depositato sul wafer di silicio. Questo processo innovativo consente di unire, in un singolo componente stabile e a temperatura ambiente, strutture elettriche e meccaniche caratterizzate da temperature di fusione diverse. L'esperimento ha rivelato anche che il silicio di tipo N (100), il biossido di silicio e il quarzo cristallino presentano energie superficiali elevate, equivalenti a quelle ottenibili con le tecniche convenzionali di tempra ad alta temperatura. Benché l'impiego principale sia la fabbricazione di microsistemi, i ricercatori prevedono altre applicazioni in tutti gli ambiti del settore della microelettronica. L'università sta conducendo ulteriori ricerche e sarebbe interessata a stabilire accordi di licenza e di supporto allo sviluppo.

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