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Innovative thermo-mechanical prediction and optimisation methods for virtual prototyping of miniaturised electronic packages and assemblies

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Conseguenze della fatica termica in microelettronica

È stata sviluppata una nuova tecnica, particolarmente centrata sui test dei cicli termici, per indagini avanzate sull'affidabilità delle leghe usate nei sistemi microelettromeccanici.

Visto lo sviluppo tendenziale della microelettronica verso una miniaturizzazione a livello di nanoscala, la ricerca nel settore della fatica termica e meccanica dei materiali elettronici è diventata un prerequisito. Numerose inomogeneità, fatiche residue generate nel processo di fabbricazione, e condizioni ambientali estreme, contribuiscono allo sfaldamento dell'interfaccia e alla fatica delle saldature. Poiché al momento non esiste una metodologia standardizzata di prova, ne è stata messa a punto una nel quadro del progetto MEVIPRO, con simulazioni numeriche che consentono di valutare questo tipo di difetto. Pensata per l'indagine sperimentale della deformazione delle leghe sottoposte a carichi di tagli indotti termicamente, la metodologia, è stata quindi chiamata 'Thermal Lap Shear Test'. Il test si basa sul disaccoppiamento termico di un campione lap-shear, con una giunzione arbitrariamente tagliata e montata su un quadro di carico a coefficiente di espansione termica leggermente differente. L'obiettivo è di rendere visibile la deformazione e il degrado della superficie della giunzione grazie a osservazioni microscopiche, o di fornire misurazioni in situ usando il metodo MicroDAC. L'analisi microscopica in situ della superficie deformata della giunzione consente di osservare le deformazioni a differenti temperature, che possono essere visualizzate come sequenza video per mettere in risalto i movimenti microstrutturali locali. Sono così disponibili i mezzi essenziali per regolare la propagazione della frattura da fatica a quella calcolata con l'analisi dell'elemento finito, e per confrontarle con le simulazioni numeriche. Il test può essere applicato sia ai carichi statici, indotti dal riscaldamento e successivo raffreddamento a valori differenti, che ai carichi con cicli termici indotti nella camera di temperatura del microscopio. È stato usato dai ricercatori del FhG-IZM per analizzare la deformazione e rottura di campioni SnPb-, SnAg- e SnAgCu a differenti momenti del ciclo termico. La metodologia combinata sperimentale/numerica ha mostrato le possibilità di uso universale negli studi sul degrado per fatica delle saldature con elementi di lega spuri, adesivi elettronici e altro.

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