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Resultado final
Properties of lithographic patterning for a positive & a negative tone resist series to generate binary (2D), grayscale 2.5D and 3D patterns by using 1) a mask aligner process, 2) one photon laser & a two/ multi photon process and 3) interference lithography process, Summary of chemical, optical, mechanical, and thermal properties of resist patterns.
Plan for Dissemination and Communication (se abrirá en una nueva ventana)The Plan for Dissemination and Communication is a working document where the dissemination strategy and tools to be used during the life of the project are described.
Publicaciones
Autores:
Christine Schuster, Gerda Ekindorf, Anja Voigt, Arne Schleunitz, Gabi Grützner
Publicado en:
Proceedings Volume 12497, Novel Patterning Technologies, Edición Volume 12497, 2023
Editor:
SPIE - Proceedings Volume 12497, Novel Patterning Technologies 2023; 124970P (2023)
DOI:
10.1117/12.2661526
Autores:
Christine Schuster, Marina Heinrich, Anja Voigt, Andy Zanzal, Patrick Reynolds, Stephen DeMoor, Gerda Ekindorf, Arne Schleunitz, Gabi Gruetzner
Publicado en:
Novel Patterning Technologies 2024, 2024
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.3010852
Autores:
Daniel Mrena, Daniel Jandura, Matej Goraus, Dušan Pudiš, Christine Schuster, Anja Voigt, David Kuhness, Christine Prietl, Ladislav Kuna, Markus Postl
Publicado en:
Holography: Advances and Modern Trends IX, 2025
Editor:
SPIE
DOI:
10.1117/12.3056720
Autores:
Adrian H. A. Lutey, David Kuhness, Seyyedhossein Mckee, Vincenzo Ferraro, Marco Negozio, Walter Belardi, Luca Romoli, Markus Postl, Barbara Stadlober
Publicado en:
Scientific Reports, Edición 15, 2025, ISSN 2045-2322
Editor:
Springer Science and Business Media LLC
DOI:
10.1038/S41598-025-24652-X
Autores:
D. Mrena, D. Pudis, M. Goraus, Ch. Schuster, A. Voigt, D. Kuhness, Ch. Prietl, L. Kuna, M. Postl
Publicado en:
2024 15th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems (ASDAM), 2025, ISSN 2474-9737
Editor:
IEEE
DOI:
10.1109/ASDAM63148.2024.10844637
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