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14 Angstroms Module Integration

Descripción del proyecto

Avanzar en la tecnología de semiconductores de nueva generación

La industria de los semiconductores se enfrenta a desafíos en su lucha por mantener el rápido ritmo de progreso tecnológico dictado por la ley de Moore. El avance hacia nodos más pequeños exige avances en litografía, metrología y diseño de transistores para garantizar el rendimiento, la eficiencia y la capacidad de fabricación. En la escala de catorce ángstroms, mantener la precisión en la fabricación, la inspección y el control de calidad es crucial para las tecnologías de computación, inteligencia artificial y comunicación de próxima generación. Además, los problemas de sostenibilidad exigen alternativas más ecológicas a los materiales y procesos tradicionales. En este contexto, el proyecto 14AMI, financiado con fondos europeos, desarrollará soluciones de vanguardia para el nodo CMOS de 14Å. Se centra en el perfeccionamiento de la litografía ultravioleta extrema, el desarrollo de métodos de metrología holística y la integración de transistores de efecto de campo complementario. El proyecto también aboga por la sostenibilidad con fotorresistencias sin sustancias perfluoroalquiladas y polifluoroalquiladas, así como mejoras de la eficiencia impulsadas por la inteligencia artificial.

Objetivo

The 14AMI project is about creating technological solutions for the 14 Angstrom CMOS technology node, including a fully integrated functional CFET (Complementary Field Effect Transistor) as new active CMOS device, and state-of-the-art holistic metrology techniques for both wafer and mask inspection and review. All is aimed to keep the pace in the industry to follow Moores law.
The project addresses the following 3 main pillars that are relevant in enabling manufacture of 14A technology, 1) lithography, 2) metrology and 3) process module integration.

In lithography the aim is to realize solutions for the 0.55NA EUV scanner platform to secure 14Angstrom node compliance in performance, that is, resolution, alignment, throughput and optics lifetime. In Metrology the objective is to cover wafer and mask metrology and quality control. The aim is to develop holistic metrology, tools & methods and data analytics to improve overlay, CD and focus measurement and quality control with a Precision to Tolerance, P/T, ratio between 0.1 and 0.3. In process module integration work covers the realization and demonstration of a CFET Complementary Field Effect Transistor - CMOS device. Three options will be investigated for integration; a monolithic, sequential and a hybrid solution. In addition, the partners will develop a PFAS-free photo resist to reduce the ecological footprint of photolithography processes, and a smart AI based sensor technology to improve vacuum chambers' efficiency and reduce waste.

At societal level the expected impact of the 14AMI project will support the partners and their supplier network to stay at the leading edge of high-tech developments, crucial to meet the digitization challenges of the European society. Moreover, 14AMI will boost industrial competitiveness, and attract talent in Europe, while enabling new application in areas such as security, communication and enabling of further automation in mobility, health and research.

Ámbito científico (EuroSciVoc)

CORDIS clasifica los proyectos con EuroSciVoc, una taxonomía plurilingüe de ámbitos científicos, mediante un proceso semiautomático basado en técnicas de procesamiento del lenguaje natural. Véase: https://op.europa.eu/en/web/eu-vocabularies/euroscivoc.

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Coordinador

ASML NETHERLANDS B.V.
Aportación neta de la UEn
€ 3 917 654,98
Dirección
DE RUN 6501
5504DR Veldhoven
Países Bajos

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Región
Zuid-Nederland Noord-Brabant Zuidoost-Noord-Brabant
Tipo de actividad
Private for-profit entities (excluding Higher or Secondary Education Establishments)
Enlaces
Coste total
€ 25 000 000,00

Participantes (36)

Socios (2)