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CORDIS - Resultados de investigaciones de la UE
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Reliable Powerdown for Industrial Drives

CORDIS proporciona enlaces a los documentos públicos y las publicaciones de los proyectos de los programas marco HORIZONTE.

Los enlaces a los documentos y las publicaciones de los proyectos del Séptimo Programa Marco, así como los enlaces a algunos tipos de resultados específicos, como conjuntos de datos y «software», se obtienen dinámicamente de OpenAIRE .

Resultado final

D5.1: Communication channels and project website - Project website, and communication channels (LinkedIn, Twitter, YouTube) (se abrirá en una nueva ventana)

Deliverable 5.1 - DEC – PU – M3 (Owner: TGL) Communication channels and project website - Project website, and communication channels (LinkedIn, Twitter, YouTube) (linked to T5.1, T5.2)

D5.3: Project newsletter No 1 - Report on recent news and activities from the project, the first year (se abrirá en una nueva ventana)

Deliverable 5.3 - DEC – PU – M12 (Owner: TGL) Project newsletter No. 1 - Report on recent news and activities from the project, the first year (linked to T5.1, T5.2)

Publicaciones

Thermal Modeling of SiC Power Module: A CFD-Based Approach for Junction-to-Fluid Resistance Estimate (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: Jacopo Ferretti; Lorenzo Colombini; Mariano Nerone; Igor Valic; Filippo Ferrarese; Giacomo Piero Schiapparelli
Publicado en: 2025
Editor: VDE
DOI: 10.30420/566541305

Integrated Hall-Effect Broadband Current Sensor for SiC Traction Inverter

Autores: M. Mengozzi; G. P. Gibiino ;J. Ferretti ;M. Nerone ;I. Valic;F. Ferrarese;S. F. Syeda;M. Crescentini;P. A. Traverso
Publicado en: 2025
Editor: IEEE

Intelligent Electrical Assessment of Silicon and Silicon Carbide Wafers for Power Applications in Automotive Field

Autores: F. Rundo et al
Publicado en: 2024
Editor: IEEE

HTRB effects on threshold instability of 4H-SiC PowerMOSFET with carrots defects (se abrirá en una nueva ventana)

Autores: L. Anoldo, G. Tosto, Z. Dahrouch, S. Bevilacqua, E. Schroer, S. Patanè, A. Russo
Publicado en: Microelectronics Reliability, Edición 170, 2025, ISSN 0026-2714
Editor: Elsevier BV
DOI: 10.1016/J.MICROREL.2025.115781

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