Optimal DC/AC data bus inversion coding
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Jan Lucas, Sohan Lal, Ben Juurlink
Opublikowane w:
2018 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Numer 2018, 2018, Strona(/y) 1063-1068, ISBN 978-3-9819263-0-9
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/DATE.2018.8342169
Enabling GPU software developers to optimize their applications — The LPGPU 2 approach
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Ben Juurlink, Jan Lucas, Nadjib Mammeri, Georgios Keramidas, Katerina Pontzolkova, Ignacio Aransay, Chrysa Kokkala, Martyn Bliss, Andrew Richards
Opublikowane w:
2017 Conference on Design and Architectures for Signal and Image Processing (DASIP), Numer 2017, 2017, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-5386-3534-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/DASIP.2017.8122116
The LPGPU2 Project - Low-Power Parallel Computing on GPUs: Extended Abstract
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Ben Juurlink, Jan Lucas, Nadjib Mammeri, Martyn Bliss, Georgios Keramidas, Chrysa Kokkala, Andrew Richards
Opublikowane w:
Proceedings of the 20th International Workshop on Software and Compilers for Embedded Systems - SCOPES '17, Numer 2017, 2017, Strona(/y) 76-80, ISBN 9781-450350396
Wydawca:
ACM Press
DOI:
10.1145/3078659.3078672
E^2MC: Entropy Encoding Based Memory Compression for GPUs
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Sohan Lal, Jan Lucas, Ben Juurlink
Opublikowane w:
2017 IEEE International Parallel and Distributed Processing Symposium (IPDPS), Numer 2017, 2017, Strona(/y) 1119-1128, ISBN 978-1-5386-3914-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/IPDPS.2017.101
VComputeBench: A Vulkan Benchmark Suite for GPGPU on Mobile and Embedded GPUs
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Nadjib Mammeri, Ben Juurlink
Opublikowane w:
Proceedings 2018 IEEE International Symposium on Workload Characterization (IISWC), Numer 2018, 2018
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.14279/depositonce-7346
SLC: Memory Access Granularity Aware Selective Lossy Compression for GPUs
Autorzy:
Sohan Lal, Jan Lucas, Ben Juurlink
Opublikowane w:
2019 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Numer 2019, 2019
Wydawca:
IEEE