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Veröffentlichungen
Autoren:
Sven Besendörfer, Elke Meissner, Farid Medjdoub, Joff Derluyn, Jochen Friedrich, Tobias Erlbacher
Veröffentlicht in:
Scientific Reports, Ausgabe 10/1, 2020, ISSN 2045-2322
Herausgeber:
Nature Publishing Group
DOI:
10.1038/s41598-020-73977-2
Autoren:
A. Tajalli, E. Canato, A. Nardo, M. Meneghini, A. Stockman, P. Moens, E. Zanoni, G. Meneghesso
Veröffentlicht in:
Microelectronics Reliability, Ausgabe 88-90, 2018, Seite(n) 572-576, ISSN 0026-2714
Herausgeber:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2018.06.037
Autoren:
S. Besendörfer, E. Meissner, A. Lesnik, J. Friedrich, A. Dadgar, T. Erlbacher
Veröffentlicht in:
Journal of Applied Physics, Ausgabe 125/9, 2019, Seite(n) 095704, ISSN 0021-8979
Herausgeber:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5065442
Autoren:
Alaleh Tajalli, Matteo Borga, Matteo Meneghini, Carlo De Santi, Davide Benazzi, Sven Besendörfer, Roland Püsche, Joff Derluyn, Stefan Degroote, Marianne Germain, Riad Kabouche, Idriss Abid, Elke Meissner, Enrico Zanoni, Farid Medjdoub, Gaudenzio Meneghesso
Veröffentlicht in:
Micromachines, Ausgabe 11/1, 2020, Seite(n) 101, ISSN 2072-666X
Herausgeber:
Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
DOI:
10.3390/mi11010101
Autoren:
M. Borga, M. Meneghini, D. Benazzi, E. Canato, R. Püsche, J. Derluyn, I. Abid, F. Medjdoub, G. Meneghesso, E. Zanoni
Veröffentlicht in:
Microelectronics Reliability, Ausgabe 100-101, 2019, Seite(n) 113461, ISSN 0026-2714
Herausgeber:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2019.113461
Autoren:
A. Stockman, A. Tajalli, M. Meneghini, M. J. Uren, S. Mouhoubi, S. Gerardin, M. Bagatin, A. Paccagnella, G. Meneghesso, E. Zanoni, P. Moens, B. Bakeroot
Veröffentlicht in:
IEEE Transactions on Electron Devices, Ausgabe 66/1, 2019, Seite(n) 372-377, ISSN 0018-9383
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2018.2881325
Autoren:
F. Geenen, A. Constant, E. Solano, D. Deduytsche, C. Mocuta, P. Coppens, C. Detavernier
Veröffentlicht in:
Journal of Applied Physics, Ausgabe 127/21, 2020, Seite(n) 215701, ISSN 0021-8979
Herausgeber:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/5.0006003
Autoren:
Alaleh Tajalli, Matteo Meneghini, Sven Besendörfer, Riad Kabouche, Idriss Abid, Roland Püsche, Joff Derluyn, Stefan Degroote, Marianne Germain, Elke Meissner, Enrico Zanoni, Farid Medjdoub, Gaudenzio Meneghesso
Veröffentlicht in:
Materials, Ausgabe 13/19, 2020, Seite(n) 4271, ISSN 1996-1944
Herausgeber:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma13194271
Autoren:
Akira Kusaba, Guanchen Li, Pawel Kempisty, Michael von Spakovsky, Yoshihiro Kangawa
Veröffentlicht in:
Materials, Ausgabe 12/6, 2019, Seite(n) 972, ISSN 1996-1944
Herausgeber:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma12060972
Autoren:
Fumiya Shintaku, Daichi Yosho, Yoshihiro Kangawa, Jun-Ichi Iwata, Atsushi Oshiyama, Kenji Shiraishi, Atsushi Tanaka, Hiroshi Amano
Veröffentlicht in:
Applied Physics Express, Ausgabe 13/5, 2020, Seite(n) 055507, ISSN 1882-0778
Herausgeber:
Japan Soc of Applied Physics
DOI:
10.35848/1882-0786/ab8723
Autoren:
Riad Kabouche, Idriss Abid, Roland Püsche, Joff Derluyn, Stefan Degroote, Marianne Germain, Alaleh Tajalli, Matteo Meneghini, Gaudenzio Meneghesso, Farid Medjdoub
Veröffentlicht in:
physica status solidi (a), Ausgabe 217/7, 2020, Seite(n) 1900687, ISSN 1862-6300
Herausgeber:
Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co.
DOI:
10.1002/pssa.201900687
Autoren:
I. Rossetto, M. Meneghini, A. Tajalli, S. Dalcanale, C. De Santi, P. Moens, A. Banerjee, E. Zanoni, G. Meneghesso
Veröffentlicht in:
IEEE Transactions on Electron Devices, Ausgabe 64/9, 2017, Seite(n) 3734-3739, ISSN 0018-9383
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/TED.2017.2728785
Autoren:
Matteo Meneghini, Alaleh Tajalli, Peter Moens, Abhishek Banerjee, Enrico Zanoni, Gaudenzio Meneghesso
Veröffentlicht in:
Materials Science in Semiconductor Processing, Ausgabe 78, 2018, Seite(n) 118-126, ISSN 1369-8001
Herausgeber:
Pergamon Press
DOI:
10.1016/j.mssp.2017.10.009
Autoren:
Akira Kusaba, Guanchen Li, Michael von Spakovsky, Yoshihiro Kangawa, Koichi Kakimoto
Veröffentlicht in:
Materials, Ausgabe 10/8, 2017, Seite(n) 948, ISSN 1996-1944
Herausgeber:
MDPI Open Access Publishing
DOI:
10.3390/ma10080948
Autoren:
Pawel Kempisty, Yoshihiro Kangawa, Akira Kusaba, Kenji Shiraishi, Stanislaw Krukowski, Michal Bockowski, Koichi Kakimoto, Hiroshi Amano
Veröffentlicht in:
Applied Physics Letters, Ausgabe 111/14, 2017, Seite(n) 141602, ISSN 0003-6951
Herausgeber:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.4991608
Autoren:
Ezgi Dogmus, Malek Zegaoui, Farid Medjdoub
Veröffentlicht in:
Applied Physics Express, Ausgabe 11/3, 2018, Seite(n) 034102, ISSN 1882-0778
Herausgeber:
Japan Soc of Applied Physics
DOI:
10.7567/apex.11.034102
Autoren:
S. Besendörfer, E. Meissner, A. Tajalli, M. Meneghini, J. A. Freitas, J. Derluyn, F. Medjdoub, G. Meneghesso, J. Friedrich, T. Erlbacher
Veröffentlicht in:
Journal of Applied Physics, Ausgabe 127/1, 2020, Seite(n) 015701, ISSN 0021-8979
Herausgeber:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/1.5129248
Autoren:
S. Besendörfer, E. Meissner, T. Zweipfennig, H. Yacoub, D. Fahle, H. Behmenburg, H. Kalisch, A. Vescan, J. Friedrich, T. Erlbacher
Veröffentlicht in:
AIP Advances, Ausgabe 10/4, 2020, Seite(n) 045028, ISSN 2158-3226
Herausgeber:
American Institute of Physics Inc.
DOI:
10.1063/1.5141905
Autoren:
E. Canato, M. Meneghini, C. De Santi, F. Masin, A. Stockman, P. Moens, E. Zanoni, G. Meneghesso
Veröffentlicht in:
Microelectronics Reliability, Ausgabe 114, 2020, Seite(n) 113841, ISSN 0026-2714
Herausgeber:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2020.113841
Autoren:
Georges Pavlidis, Samuel H. Kim, Idriss Abid, Malek Zegaoui, Farid Medjdoub, Samuel Graham
Veröffentlicht in:
IEEE Electron Device Letters, Ausgabe 40/7, 2019, Seite(n) 1060-1063, ISSN 0741-3106
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/led.2019.2915984
Autoren:
E. Canato, M. Meneghini, A. Nardo, F. Masin, A. Barbato, M. Barbato, A. Stockman, A. Banerjee, P. Moens, E. Zanoni, G. Meneghesso
Veröffentlicht in:
Microelectronics Reliability, Ausgabe 100-101, 2019, Seite(n) 113334, ISSN 0026-2714
Herausgeber:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2019.06.026
Autoren:
M. Germain;Farid Medjdoub;H. Miyake;Elke Meissner;J. Derluyn;Riad Kabouche;Idriss Abid;Sven Besendörfer;S. Degroote
Veröffentlicht in:
International Conference on Compound Semiconductor Manufacturing Technology, CS MANTECH 2019, Apr 2019, Minneapolis, United States, 2019
Herausgeber:
CS MANTECH
Autoren:
Borga, M.; MENEGHINI, M.; Benazzi, D; Püsche, R; Derluyn, J; Abid, I; Medjdoub, F.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
Veröffentlicht in:
43rd Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2019, Ausgabe 2, 2019
Herausgeber:
CNRS - FR
Autoren:
Arno Stockman, Michael Uren, Alaleh Tajalli, Matteo Meneghini, Benoit Bakeroot, Peter Moens
Veröffentlicht in:
2017 47th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2017, Seite(n) 130-133, ISBN 978-1-5090-5978-2
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ESSDERC.2017.8066609
Autoren:
M. Meneghini, A. Tajalli, P. Moens, A. Banerjee, A. Stockman, M. Tack, S. Gerardin, M. Bagatin, A. Paccagnella, E. Zanoni, G. Meneghesso
Veröffentlicht in:
2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2017, Seite(n) 33.5.1-33.5.4, ISBN 978-1-5386-3559-9
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/IEDM.2017.8268492
Autoren:
A. Stockman, E. Canato, A. Tajalli, M. Meneghini, G. Meneghesso, E. Zanoni, P. Moens, B. Bakeroot
Veröffentlicht in:
2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2018, Seite(n) 4B.5-1-4B.5-4, ISBN 978-1-5386-5479-8
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/IRPS.2018.8353582
Autoren:
I. Abid, R. Kabouche, F. Medjdoub, S. Besendorfer, E. Meissner, J. Derluyn, S. Degroote, M. Germain, H. Miyake
Veröffentlicht in:
2020 32nd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2020, Seite(n) 310-312, ISBN 978-1-7281-4836-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ispsd46842.2020.9170170
Rechte des geistigen Eigentums
Antrags-/Publikationsnummer:
20
1816025085
Datum:
2018-07-02
Antragsteller:
BELGAN BV
Antrags-/Publikationsnummer:
20
1715422764
Datum:
2017-02-02
Antragsteller:
BELGAN BV
Antrags-/Publikationsnummer:
20
1715662622
Datum:
2017-07-28
Antragsteller:
BELGAN BV
Antrags-/Publikationsnummer:
20
1815916428
Datum:
2018-03-09
Antragsteller:
BELGAN BV
Antrags-/Publikationsnummer:
20
1816052041
Datum:
2018-08-01
Antragsteller:
BELGAN BV
Antrags-/Publikationsnummer:
20
1816148127
Datum:
2018-10-01
Antragsteller:
BELGAN BV
Antrags-/Publikationsnummer:
20
1815997122
Datum:
2018-06-04
Antragsteller:
BELGAN BV
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