The Silicon Vertex Detector of the Belle II experiment
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Zani L.; Adamczyk K.; Aggarwal L.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Batignani G.; Baudot J.; Behera P. K.; Bettarini S.; Bilka T.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Corona L.; Czank T.; Das S. B.; Dujany G.; Finck C.; Forti F.; Friedl M.; Gabrielli A.; Ganiev E.; Gobbo B.; Halder S.; Hara K.; Hazra S.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H. B.; Jin Y.; Kaleta M.; Kaliyar A.
Opublikowane w:
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A, Numer 5, 2022, ISSN 0168-9002
Wydawca:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.nima.2022.166952
Belle II status and prospects for studies of neutral currents
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Bertacchi, Valerio
Opublikowane w:
Journal of instrumentation, Numer 4, 2023, ISSN 1748-0221
Wydawca:
Institute of Physics
DOI:
10.1088/1748-0221/18/08/c08015
Measurement of the cluster position resolution of the Belle II Silicon Vertex Detector
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Leboucher R.; Adamczyk K.; Aggarwal L.; Aihara H.; Aziz T.; Bacher S.; Bahinipati S.; Batignani G.; Baudot J.; Behera P. K.; Bettarini S.; Bilka T.; Bozek A.; Buchsteiner F.; Casarosa G.; Corona L.; Czank T.; Das S. B.; Dujany G.; Finck C.; Forti F.; Friedl M.; Gabrielli A.; Ganiev E.; Gobbo B.; Halder S.; Hara K.; Hazra S.; Higuchi T.; Irmler C.; Ishikawa A.; Jeon H. B.; Jin Y.; Joo C.; Kaleta M.
Opublikowane w:
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A, Numer 3, 2022, ISSN 0168-9002
Wydawca:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.nima.2022.166746
The Silicon Vertex Detector of the Belle II experiment
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Irmler, C.; Adamczyk, K.; Aggarwal, L.; Aihara, H.; Aziz, T.; Bacher, S.; Bahinipati, S.; Batignani, G.; Baudot, J.; Behera, P.K.; Bettarini, S.; Bilka, T.; Bozek, A.; Buchsteiner, F.; Casarosa, G.; Corona, L.; Czank, T.; Das, S.B.; Dujany, G.; Finck, C.; Forti, F.; Friedl, M.; Gabrielli, A.; Ganiev, E.; Gobbo, B.; Halder, S.; Hara, K.; Hazra, S.; Higuchi, T.; Ishikawa, A.; Jeon, H.B.; Jin, Y.; Ka
Opublikowane w:
Journal of instrumentation, Numer 3, 2022, ISSN 1748-0221
Wydawca:
Institute of Physics
DOI:
10.1016/j.nima.2022.166688
