Intelligent Video Ingestion for Real-time Traffic Monitoring
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Xu Zhang, Yangchao Zhao, Geyong Min, Wang Miao, Haojun Huang and Zhan Ma
Opublikowane w:
ACM Transactions on Sensor Networks, 2022, ISSN 1550-4867
Wydawca:
Association for Computing Machinery
DOI:
10.1145/3529511
AI and Blockchain Empowered Metaverse for Web 3.0: Vision, Architecture, and Future Directions
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Xu Zhang, Geyong Min, Tong Li, Zhan Ma, Xun Cao, and Shaowei Wang
Opublikowane w:
IEEE Communications Magazine, 2023, ISSN 0163-6804
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/mcom.004.2200473
Performance Modelling and Quantitative Analysis of Vehicular Edge Computing with Bursty Task Arrivals
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Wang Miao, Geyong Min, Xu Zhang, Zhiwei Zhao, and Jia Hu
Opublikowane w:
IEEE Transactions on Mobile Computing, 2021, ISSN 1536-1233
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tmc.2021.3087013
OA-Cache: Oracle Approximation based Cache Replacement at the Network Edge
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Shuting Qiu, Qilin Fan, Xiuhua Li, Xu Zhang, Geyong Min, and Yongqiang Lyu
Opublikowane w:
IEEE Transactions on Network and Service Management, 2023, ISSN 1932-4537
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tnsm.2023.3239664
A Light Weight Statistical Latency Measurement Platform at Scale
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Xu Zhang, Geyong Min, Qilin Fan, Hao Yin, Dapeng Wu, and Zhan Ma
Opublikowane w:
IEEE Transactions on Industrial Informatics, 2021, ISSN 1551-3203
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tii.2021.3098796
Cooperative Edge Caching Based on Temporal Convolutional Networks
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Xu Zhang, Zhengnan Qi, Geyong Min, Wang Miao, Qilin Fan, and Zhan Ma
Opublikowane w:
IEEE Transactions on Parallel and Distributed Systems, 2021, ISSN 1045-9219
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tpds.2021.3135257
