Skip to main content
Przejdź do strony domowej Komisji Europejskiej (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
polski pl
CORDIS - Wyniki badań wspieranych przez UE
CORDIS
Zawartość zarchiwizowana w dniu 2024-06-10

Structure investigation of laterally patterned semiconductor structures by high resolution x-ray diffraction and topography

Cel



Research objectives and content
Mesoscopic superstructures such as superlsttices, surface grstings, quantum well wires (QWW) Quantum dots (QD) play a Central role for the design of new micro- and Optoelectronic devices as as for basic physics. Such structures are successfully prepared for high power laser applications, used sensoric techniques, laser radar.... The project contains two main goals. Firstly, in order to optimize the growth- and fabrication process, influence of the relevant parameters shall be studied. Therefore several electrical, Optical and struc Characterization methods are employed. High resolution X-rsy scattering methods are required as n destructive techniques, Complementary to electron microscopically methods for the struc Characterization. The new high resolution X-rcy diffractometer, installed at the beamline ID 19 combi the unique properties of the ESRF as X-rcy source with the advantages of high resolution multiple cry arrangements. That will allow us to determine the perfection of the artificial layered superstructure, quality of the layer interfaces as well as defects and lattice deformation in the crystalline structure, wt are of crucial importance for the function of the lasers. The second goal is the investigation of residual stress and defect generation during lsser Operation. Here the X-rsy diffraction techniques are the only methods which enable an in-situ struc characterization important for the laser degradation processes.
Training content (objective, benefit and expected impact)
The applicant will become acquainted with the fabrication process and the physical propertie mesoscopic semiconductor structures for the Optoelectronic. He will expand his knowledge about novel X-ray scattering techniques in Combination with the peculiarities of the third genera synchrotron.
Links with industry / industrial relevance (22)
Links with industry clearly exist through the Applied Physics institutes Collaborating in the present project

Dziedzina nauki (EuroSciVoc)

Klasyfikacja projektów w serwisie CORDIS opiera się na wielojęzycznej taksonomii EuroSciVoc, obejmującej wszystkie dziedziny nauki, w oparciu o półautomatyczny proces bazujący na technikach przetwarzania języka naturalnego. Więcej informacji: Europejski Słownik Naukowy.

Aby użyć tej funkcji, musisz się zalogować lub zarejestrować

Program(-y)

Wieloletnie programy finansowania, które określają priorytety Unii Europejskiej w obszarach badań naukowych i innowacji.

Temat(-y)

Zaproszenia do składania wniosków dzielą się na tematy. Każdy temat określa wybrany obszar lub wybrane zagadnienie, których powinny dotyczyć wnioski składane przez wnioskodawców. Opis tematu obejmuje jego szczegółowy zakres i oczekiwane oddziaływanie finansowanego projektu.

Zaproszenie do składania wniosków

Procedura zapraszania wnioskodawców do składania wniosków projektowych w celu uzyskania finansowania ze środków Unii Europejskiej.

Brak dostępnych danych

System finansowania

Program finansowania (lub „rodzaj działania”) realizowany w ramach programu o wspólnych cechach. Określa zakres finansowania, stawkę zwrotu kosztów, szczegółowe kryteria oceny kwalifikowalności kosztów w celu ich finansowania oraz stosowanie uproszczonych form rozliczania kosztów, takich jak rozliczanie ryczałtowe.

RGI - Research grants (individual fellowships)

Koordynator

European Synchrotron Radiation Facility
Wkład UE
Brak danych
Adres
56,Avenue des Martyrs
38043 Grenoble
Francja

Zobacz na mapie

Koszt całkowity

Ogół kosztów poniesionych przez organizację w związku z uczestnictwem w projekcie. Obejmuje koszty bezpośrednie i pośrednie. Kwota stanowi część całkowitego budżetu projektu.

Brak danych

Uczestnicy (1)

Moja broszura 0 0