Complementary two dimensional carrier profiles of 4H-SiC MOSFETs by Scanning Spreading Resistance Microscopy and Scanning Capacitance Microscopy
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Autoren:
Patrick Fiorenza, Marco Zignale, Edoardo. Zanetti, Mario S. Alessandrino, Beatrice Carbone, Alfio Guarnera, Mario Saggio, Filippo Giannazzo, Fabrizio Roccaforte
Veröffentlicht in:
2024
Herausgeber:
Solid State Phenomena
DOI:
10.48550/arXiv.2407.13370
Design and optimization of 3.3 kV silicon carbide semi-superjunction schottky power devices
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Autoren:
Melnyk, Kyrylo, Renz, Arne Benjamin, Cao, Qinze, Gammon, Peter M., Shah, Vishal, Lophitis, Neophytos, Rahimo, Munaf, Nistor, Iulian, Borghese, Alessandro, Maresca, Luca, Irace, Andrea and Antoniou, Marina
Veröffentlicht in:
2024, ISSN 1946-0201
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ISPSD59661.2024.10579567
Behavioural SiC IGBT Modelling Using Non-Linear Voltage and Current Dependent Capacitances
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Autoren:
Almpanis, Ioannis; Evans, Paul; Li, Ke; Lophitis, Neophytos
Veröffentlicht in:
2023, ISBN 979-8-3503-1554-7
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/DMC58182.2023.10412584
Robust and area efficient 4H-SiC 1.2 and 3.3 kV Floating Field Ring (FFR) and Trench-FFR termination designs and analysis
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Autoren:
Melnyk, Kyrylo, Gammon, Peter M., Renz, Arne Benjamin, Cao, Quize, Lophitis, Neophytos and Antoniou, Marina
Veröffentlicht in:
IEEE Energy Conversion Congress and Exposition, ECCE, 2023, ISSN 2329-3748
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ECCE53617.2023.10362098