Leistungen
1-2 newsletters/year over the duration of the project.
Promotion guide about TUTPromotion guide about TUT.
Project websiteProject leaflet and poster
• Project leaflet (2 pages, A4 size) and Powerpoint presentation providing overview of the project • Project poster (A1 size)
Veröffentlichungen
Autoren:
Gadi Aleksandrowicz, Eli Arbel, Roderick Bloem, Timon D. ter Braak, Sergei Devadze, Goerschwin Fey, Maksim Jenihhin, Artur Jutman, Hans G. Kerkhoff, Robert Könighofer, Shlomit Koyfman, Jan Malburg, Shiri Moran, Jaan Raik, Gerard Rauwerda, Heinz Riener, Franz Röck, Konstantin Shibin, Kim Sunesen, Jinbo Wan, Yong Zhao
Veröffentlicht in:
Lecture Notes in Electrical Engineering, 2018, Seite(n) 15-38
Herausgeber:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-62920-9_2
Autoren:
Jevgeni Marenkov, Tarmo Robal, Ahto Kalja
Veröffentlicht in:
Databases and Information Systems, Ausgabe 615, 2016, Seite(n) 257-271, ISBN 978-3-319-40179-9
Herausgeber:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-40180-5_18
Autoren:
Jevgeni Marenkov, Tarmo Robal, Ahto Kalja
Veröffentlicht in:
Advances in Databases and Information Systems, Ausgabe 10509, 2017, Seite(n) 394-407, ISBN 978-3-319-66916-8
Herausgeber:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-66917-5_26
Autoren:
Yue Zhao, Tarmo Robal, Christoph Lofi, Claudia Hauff
Veröffentlicht in:
Lifelong Technology-Enhanced Learning - 13th European Conference on Technology Enhanced Learning, EC-TEL 2018, Leeds, UK, September 3-5, 2018, Proceedings, Ausgabe 11082, 2018, Seite(n) 101-115, ISBN 978-3-319-98571-8
Herausgeber:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-98572-5_8
Autoren:
Ardo Allik, Kristjan Pilt, Deniss Karai, Ivo Fridolin, Mairo Leier, Gert Jervan
Veröffentlicht in:
World Congress on Medical Physics and Biomedical Engineering 2018, Ausgabe 68/3, 2019, Seite(n) 13-17, ISBN 978-981-10-9022-6
Herausgeber:
Springer Singapore
DOI:
10.1007/978-981-10-9023-3_3
Autoren:
Laura Päeske, Maie Bachmann, Jaan Raik, Hiie Hinrikus
Veröffentlicht in:
World Congress on Medical Physics and Biomedical Engineering 2018 - June 3-8, 2018, Prague, Czech Republic (Vol.2), Ausgabe 68/2, 2019, Seite(n) 237-240, ISBN 978-981-10-9037-0
Herausgeber:
Springer Singapore
DOI:
10.1007/978-981-10-9038-7_44
Autoren:
Jüri Vain, Leonidas Tsiopoulos, Vyacheslav Kharchenko, Apneet Kaur, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Sven Nõmm
Veröffentlicht in:
Green IT Engineering: Social, Business and Industrial Applications, Ausgabe 171, 2019, Seite(n) 273-297, ISBN 978-3-030-00252-7
Herausgeber:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-030-00253-4_12
Autoren:
Raimund Ubar, Lembit Jürimägi, Elmet Orasson, Jaan Raik
Veröffentlicht in:
VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power, Ausgabe 483, 2016, Seite(n) 23-45, ISBN 978-3-319-46096-3
Herausgeber:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-46097-0_2
Autoren:
Marco Gaudesi, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Ernesto Sanchez, Giovanni Squillero, Valentin Tihhomirov, Raimund Ubar
Veröffentlicht in:
Applications of Evolutionary Computation, 2014, Seite(n) 425-436, ISBN 978-3-662-45523-4
Herausgeber:
Springer Berlin Heidelberg
DOI:
10.1007/978-3-662-45523-4_35
Autoren:
Raimund Ubar, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Lembit Jürimägi
Veröffentlicht in:
Microelectronics Reliability, Ausgabe 81, 2018, Seite(n) 252-261, ISSN 0026-2714
Herausgeber:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2017.11.027
Autoren:
Raimund Ubar, Lembit Jürimägi, Jaan Raik, Vladimir Viies
Veröffentlicht in:
Microprocessors and Microsystems, Ausgabe 48, 2017, Seite(n) 56-61, ISSN 0141-9331
Herausgeber:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2016.09.006
Autoren:
Konstantin Shibin, Sergei Devadze, Artur Jutman, Martin Grabmann, Robin Pricken
Veröffentlicht in:
IEEE Design & Test, Ausgabe 34/6, 2017, Seite(n) 27-35, ISSN 2168-2356
Herausgeber:
IEEE Computer Society
DOI:
10.1109/MDAT.2017.2750902
Autoren:
Igor Aleksejev, Artur Jutman, Sergei Devadze
Veröffentlicht in:
IEEE Instrumentation & Measurement Magazine, Ausgabe 20/4, 2017, Seite(n) 23-30, ISSN 1094-6969
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/MIM.2017.8006390
Autoren:
Valery Sklyarov, Iouliia Skliarova, Artjom Rjabov, Alexander Sudnitson
Veröffentlicht in:
International Journal of Computers Communications & Control, Ausgabe 11/1, 2015, Seite(n) 126, ISSN 1841-9836
Herausgeber:
Agora University
DOI:
10.15837/ijccc.2016.1.1442
Autoren:
Valery Sklyarov, Iouliia Skliarova, Alexander Sudnitson
Veröffentlicht in:
Elektronika ir Elektrotechnika, Ausgabe 22/4, 2016, ISSN 1392-1215
Herausgeber:
Kauno Technologijos Universitetas
DOI:
10.5755/j01.eie.22.4.15920
Autoren:
V Sklyarov, I Skliarova, A Rjabov, A Sudnitson
Veröffentlicht in:
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences, Ausgabe 66/3, 2017, Seite(n) 323, ISSN 1736-6046
Herausgeber:
Estonian Academy Publishers
DOI:
10.3176/proc.2017.3.07
Autoren:
Peeter Ellervee, Jari Nurmi
Veröffentlicht in:
Journal of Signal Processing Systems, Ausgabe 87/3, 2017, Seite(n) 269-270, ISSN 1939-8018
Herausgeber:
Springer Verlag
DOI:
10.1007/s11265-017-1242-x
Autoren:
Igor Aleksejev, Sergei Devadze, Artur Jutman, Konstantin Shibin
Veröffentlicht in:
Journal of Electronic Testing, Ausgabe 32/3, 2016, Seite(n) 245-255, ISSN 0923-8174
Herausgeber:
Kluwer Academic Publishers
DOI:
10.1007/s10836-016-5588-y
Autoren:
Syed Mohammad Asad Hassan Jafri, Muhammad Adeel Tajammul, Ahmed Hemani, Kolin Paul, Juha Plosila, Peeter Ellervee, Hannu Tenuhnen
Veröffentlicht in:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Ausgabe 24/1, 2016, Seite(n) 403-407, ISSN 1063-8210
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tvlsi.2015.2402392
Autoren:
Laura Päeske, Maie Bachmann, Toomas Põld, Sara Pereira Mendes de Oliveira, Jaanus Lass, Jaan Raik, Hiie Hinrikus
Veröffentlicht in:
Frontiers in Physiology, Ausgabe 9, 2018, ISSN 1664-042X
Herausgeber:
Frontiers Research Foundation
DOI:
10.3389/fphys.2018.01350
Autoren:
Maksim Jenihhin, Giovanni Squillero, Thiago Santos Copetti, Valentin Tihhomirov, Sergei Kostin, Marco Gaudesi, Fabian Vargas, Jaan Raik, Matteo Sonza Reorda, Leticia Bolzani Poehls, Raimund Ubar, Guilherme Cardoso Medeiros
Veröffentlicht in:
Journal of Electronic Testing, Ausgabe 32/3, 2016, Seite(n) 273-289, ISSN 0923-8174
Herausgeber:
Kluwer Academic Publishers
DOI:
10.1007/s10836-016-5589-x
Autoren:
Maksim Gorev, Raimund Ubar, Peeter Ellervee, Sergei Devadze, Jaan Raik, Mart Min
Veröffentlicht in:
Microprocessors and Microsystems, Ausgabe 01419331, 2015, Seite(n) 909-918, ISSN 0141-9331
Herausgeber:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2014.11.002
Autoren:
Jaak Kõusaar, Raimund Ubar, Sergei Devadze, Jaan Raik
Veröffentlicht in:
Microprocessors and Microsystems, Ausgabe 01419331, 2015, Seite(n) 1130-1138, ISSN 0141-9331
Herausgeber:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2015.05.003
Autoren:
Maksim Jenihhin, Anton Tsepurov, Valentin Tihhomirov, Jaan Raik, Hanno Hantson, Raimund Ubar, Gunter Bartsch, JorgeHernan Meza Escobar, Heinz-Dietrich Wuttke
Veröffentlicht in:
IEEE Design & Test, Ausgabe 21682356, 2014, Seite(n) 83-92, ISSN 2168-2356
Herausgeber:
IEEE Computer Society
DOI:
10.1109/MDAT.2013.2271420
Autoren:
Jaan Raik, Urmas Repinski, Anton Chepurov, Hanno Hantson, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin
Veröffentlicht in:
Microprocessors and Microsystems, Ausgabe 01419331, 2013, Seite(n) 505-513, ISSN 0141-9331
Herausgeber:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2012.11.004
Autoren:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Karl Janson, Thilo Kogge, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Veröffentlicht in:
2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2017, Seite(n) 1-4, ISBN 978-1-4673-6853-7
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ISCAS.2017.8050634
Autoren:
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Siavoosh Payandeh Azad, Jaan Raik
Veröffentlicht in:
2017 12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2017, Seite(n) 1-8, ISBN 978-1-5386-3344-1
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
Autoren:
Tsotne Putkaradze, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Gert Jervan
Veröffentlicht in:
2017 12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2017, Seite(n) 1-8, ISBN 978-1-5386-3344-1
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2017.8016161
Autoren:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Apneet Kaur Sandhu, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Veröffentlicht in:
2017 22nd IEEE European Test Symposium (ETS), 2017, Seite(n) 1-2, ISBN 978-1-5090-5457-2
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ETS.2017.7968211
Autoren:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Karl Janson, Nevin George, Adeboye Stephen Oyeniran, Tsotne Putkaradze, Apneet Kaur, Jaan Raik, Gert Jervan, Raimund Ubar, Thomas Hollstein
Veröffentlicht in:
2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2017, Seite(n) 48-53, ISBN 978-1-5386-0472-4
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/DDECS.2017.7934565
Autoren:
Raimund Ubar, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
Veröffentlicht in:
2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2017, Seite(n) 152-157, ISBN 978-1-5386-0472-4
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/DDECS.2017.7934568
Autoren:
Sergei Odintsov, Artur Jutman, Sergei Devadze
Veröffentlicht in:
2017 IEEE International Test Conference (ITC), 2017, Seite(n) 1-10, ISBN 978-1-5386-3413-4
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/TEST.2017.8242070
Autoren:
Sergei Odintsov, Artur Jutman, Sergei Devadze, Igor Aleksejev
Veröffentlicht in:
2017 IEEE AUTOTESTCON, 2017, Seite(n) 1-9, ISBN 978-1-5090-4922-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/AUTEST.2017.8080516
Autoren:
Juri Vain, Apneet Kaur, Leonidas Tsiopoulos, Jaan Raik, Maksim Jenihhin
Veröffentlicht in:
2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-5386-7312-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2018.8600986
Autoren:
Behrad Niazmand, Siavoosh Payandeh Azad, Tara Ghasempouri, Jaan Raik, Gert Jervan
Veröffentlicht in:
2018 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2018, Seite(n) 139-144, ISBN 978-1-5386-5180-3
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/itc-asia.2018.00034
Autoren:
Emmanuel Ovie Osimiry, Raimund Ubar, Sergei Kostin, Jaan Raik
Veröffentlicht in:
2016 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS), 2016, Seite(n) 1-4, ISBN 978-1-5090-1095-0
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/norchip.2016.7792915
Autoren:
Anton Tsertov, Artur Jutman, Sergei Devadze, Matteo Sonza Reorda, Erik Larsson, Farrokh Ghani Zadegan, Riccardo Cantoro, Mehrdad Montazeri, Rene Krenz-Baath
Veröffentlicht in:
2016 IEEE International Test Conference (ITC), 2016, Seite(n) 1-10, ISBN 978-1-4673-8773-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/test.2016.7805840
Autoren:
Anton Karputkin, Jaan Raik
Veröffentlicht in:
Proceedings of the 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2016, Seite(n) 1124-1127, ISBN 978-3-9815370-7-9
Herausgeber:
Research Publishing Services
DOI:
10.3850/9783981537079_0260
Autoren:
Emmanuel Ovie Osimiry, Sergei Kostin, Jaan Raik, Raimund Ubar
Veröffentlicht in:
2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2016, Seite(n) 79-82, ISBN 978-1-5090-1393-7
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2016.7743733
Autoren:
S. Kostin, E. Orasson, R. Ubar
Veröffentlicht in:
2016 11th European Workshop on Microelectronics Education (EWME), 2016, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-4673-8584-8
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ewme.2016.7496466
Autoren:
Ardo Allik, Kristjan Pilt, Deniss Karai, Ivo Fridolin, Mairo Leier, Gert Jervan
Veröffentlicht in:
2016 IEEE EMBS Conference on Biomedical Engineering and Sciences (IECBES), 2016, Seite(n) 460-464, ISBN 978-1-4673-7791-1
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/iecbes.2016.7843493
Autoren:
Ahto Kalja, Tarmo Robal, Triin Gailan
Veröffentlicht in:
2017 Portland International Conference on Management of Engineering and Technology (PICMET), 2017, Seite(n) 1-7, ISBN 978-1-890843-36-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.23919/picmet.2017.8125312
Autoren:
Tara Ghasempouri, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Jaan Raik
Veröffentlicht in:
2018 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2018, Seite(n) 61-66, ISBN 978-1-5386-5180-3
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/itc-asia.2018.00021
Autoren:
Karl Janson, Rene Pihlak, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Gert Jervan, Jaan Raik
Veröffentlicht in:
2018 13th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2018, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-5386-7957-9
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/recosoc.2018.8449374
Autoren:
Yu. Gordienko, S. Stirenko, O. Alienin, K. Skala, Z. Sojat, A. Rojbi, J.R. Lopez Benito, E. Artetxe Gonzalez, U. Lushchyk, L. Sajn, A. Llorente Coto, G. Jervan
Veröffentlicht in:
2017 40th International Convention on Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics (MIPRO), 2017, Seite(n) 359-364, ISBN 978-953-233-090-8
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.23919/mipro.2017.7973449
Autoren:
Adeboye Stephen Oyeniran, Siavoosh Payandeh Azad, Raimund Ubar
Veröffentlicht in:
2018 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR), 2018, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-5386-2205-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/aqtr.2018.8402708
Autoren:
Priit Ruberg, Keijo Lass, Peeter Ellervee
Veröffentlicht in:
2016 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS), 2016, Seite(n) 1-5, ISBN 978-1-5090-1095-0
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/norchip.2016.7792916
Autoren:
Priit Ruberg, Keijo Lass, Peeter Ellervee
Veröffentlicht in:
2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2016, Seite(n) 123-126, ISBN 978-1-5090-1393-7
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2016.7743744
Autoren:
Priit Ruberg, Keijo Lass, Elvar Liiv, Peeter Ellervee
Veröffentlicht in:
2017 5th IEEE Workshop on Advances in Information, Electronic and Electrical Engineering (AIEEE), 2017, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-5386-4137-8
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/aieee.2017.8270530
Autoren:
Jaak Kousaar, Raimund Ubar, Sergei Kostin, Sergei Devadze, Jaan Raik
Veröffentlicht in:
"2018 25th International Conference ""Mixed Design of Integrated Circuits and System"" (MIXDES)", 2018, Seite(n) 305-310, ISBN 978-83-63578-14-5
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.23919/mixdes.2018.8436880
Autoren:
Tarmo Robal
Veröffentlicht in:
2018 28th EAEEIE Annual Conference (EAEEIE), 2018, Seite(n) 1-9, ISBN 978-1-5386-7711-7
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/eaeeie.2018.8534256
Autoren:
Mairo Leier, Gert Jervan, Ardo Allik, Kristjan Pilt, Deniss Karai, Ivo Fridolin
Veröffentlicht in:
2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Seite(n) 1-4, ISBN 978-1-5386-7312-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2018.8600959
Autoren:
Lembit Jurimagi, Raimund Ubar
Veröffentlicht in:
2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Seite(n) 1-4, ISBN 978-1-5386-7312-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2018.8600967
Autoren:
Thiago Copetti, Guilherme Medeiros, Leticia Bolzani Poehls, Fabian Vargas, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar
Veröffentlicht in:
2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), 2016, Seite(n) 75-80, ISBN 978-1-5090-1331-9
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/latw.2016.7483343
Autoren:
Jevgeni Marenkov, Tarmo Robal, Ahto Kalja
Veröffentlicht in:
Proceedings of the 8th International Conference on Web Intelligence, Mining and Semantics - WIMS '18, 2018, Seite(n) 1-9, ISBN 9781-450354899
Herausgeber:
ACM Press
DOI:
10.1145/3227609.3227667
Autoren:
Karl Janson, Rene Pihlak, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Gert Jervan, Jaan Raik
Veröffentlicht in:
2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Seite(n) 1-4, ISBN 978-1-5386-7312-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2018.8600989
Autoren:
Sai Kumar Dwivedi, Siavoosh Payandeh Azad, Peeter Ellervee, Ratnakar Dash
Veröffentlicht in:
2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2016, Seite(n) 63-66, ISBN 978-1-5090-1393-7
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2016.7743729
Autoren:
Artjom Rjabov
Veröffentlicht in:
2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2016, Seite(n) 59-62, ISBN 978-1-5090-1393-7
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2016.7743728
Autoren:
Madis Kerner, Kalle Tammemae
Veröffentlicht in:
2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2017, Seite(n) 92-95, ISBN 978-1-5386-0472-4
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs.2017.7934577
Autoren:
Lembit Jurimagi, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Sergei Devadze, Sergei Kostin
Veröffentlicht in:
2018 28th International Symposium on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS), 2018, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-5386-6365-3
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/patmos.2018.8464176
Autoren:
Artjom Jasnetski, Stephen Adeboye Oyeniran, Anton Tsertov, Mario Scholzel, Raimund Ubar
Veröffentlicht in:
2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2016, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-5090-2467-4
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs.2016.7482445
Autoren:
Adeboye Stephen Oyeniran, Artjom Jasnetski, Anton Tsertov, Raimund Ubar
Veröffentlicht in:
2017 6th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO), 2017, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-5090-6742-8
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/meco.2017.7977167
Autoren:
Anton Tsertov, Artur Jutman, Konstantin Shibin, Sergei Devadze
Veröffentlicht in:
2018 IEEE AUTOTESTCON, 2018, Seite(n) 1-9, ISBN 978-1-5386-5223-7
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/autest.2018.8532559
Autoren:
Sergei Odintsov
Veröffentlicht in:
2018 IEEE AUTOTESTCON, 2018, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-5386-5223-7
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/autest.2018.8532547
Autoren:
Johanna Sepulveda, Cezar Reinbrecht, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Gert Jervan
Veröffentlicht in:
Proceedings of the 18th International Conference on Embedded Computer Systems Architectures, Modeling, and Simulation - SAMOS '18, 2018, Seite(n) 162-166, ISBN 9781-450364942
Herausgeber:
ACM Press
DOI:
10.1145/3229631.3239367
Autoren:
Tarmo Robal, Yue Zhao, Christoph Lofi, Claudia Hauff
Veröffentlicht in:
Proceedings of the 29th on Hypertext and Social Media - HT '18, 2018, Seite(n) 106-114, ISBN 9781-450354271
Herausgeber:
ACM Press
DOI:
10.1145/3209542.3209547
Autoren:
Artjom Rjabov, Alexander Sudnitson, Valery Sklyarov, Iouliia Skliarova
Veröffentlicht in:
2016 18th Mediterranean Electrotechnical Conference (MELECON), 2016, Seite(n) 1-4, ISBN 978-1-5090-0058-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/melcon.2016.7495400
Autoren:
Behrad Niazmand, Siavoosh Payandeh Azad, Jose Flich, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Veröffentlicht in:
2016 Tenth IEEE/ACM International Symposium on Networks-on-Chip (NOCS), 2016, Seite(n) 1-8, ISBN 978-1-4673-9030-9
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/nocs.2016.7579317
Autoren:
Raimund Ubar, Adeboye Stephen Oyeniran, Olusiji Medaiyese
Veröffentlicht in:
2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Seite(n) 1-4, ISBN 978-1-5386-7312-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2018.8600980
Autoren:
Tarmo Robal, Ahto Kalja
Veröffentlicht in:
2016 Portland International Conference on Management of Engineering and Technology (PICMET), 2016, Seite(n) 1942-1952
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/picmet.2016.7806759
Autoren:
Raimund Ubar, Stephen Adeboye Oyeniran
Veröffentlicht in:
2016 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR), 2016, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-4673-8692-0
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/aqtr.2016.7501287
Autoren:
Artjom Jasnetski, Raimund Ubar, Anton Tsertov
Veröffentlicht in:
2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), 2016, Seite(n) 177-177, ISBN 978-1-5090-1331-9
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/latw.2016.7483357
Autoren:
Artur Jutman, Igor Aleksejev, Sergei Devadze
Veröffentlicht in:
2016 21th IEEE European Test Symposium (ETS), 2016, Seite(n) 1-2, ISBN 978-1-4673-9659-2
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ets.2016.7519295
Autoren:
Konstantin Shibin, Sergei Devadze, Artur Jutman
Veröffentlicht in:
2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), 2016, Seite(n) 69-74, ISBN 978-1-5090-1331-9
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/latw.2016.7483342
Autoren:
Tarmo Robal, Jevgeni Marenkov, Ahto Kalja
Veröffentlicht in:
2017 Portland International Conference on Management of Engineering and Technology (PICMET), 2017, Seite(n) 1-8, ISBN 978-1-890843-36-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.23919/picmet.2017.8125425
Autoren:
Adeboye Stephen Oyeniran, Siavoosh Payandeh Azad, Raimund Ubar
Veröffentlicht in:
2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2018, Seite(n) 1-5, ISBN 978-1-5386-4881-0
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/iscas.2018.8350936
Autoren:
Priit Ruberg, Keijo Lass, Elvar Liiv, Peeter Ellervee
Veröffentlicht in:
2017 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS): NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 2017, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-5386-2844-7
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/norchip.2017.8124964
Autoren:
Uljana Reinsalu, Siavoosh Payandeh Azad, Mairo Leier, Kalle Tammemae, Thomas Hollstein
Veröffentlicht in:
2016 11th European Workshop on Microelectronics Education (EWME), 2016, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-4673-8584-8
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ewme.2016.7496463
Autoren:
Serhiy Avramenko, Siavoosh Payandeh Azad, Stefano Esposito, Behrad Niazmand, Massimo Violante, Jaan Raik, Maksim Jenihhin
Veröffentlicht in:
2018 IEEE 21st International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2018, Seite(n) 67-72, ISBN 978-1-5386-5754-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs.2018.00-10
Autoren:
Artjom Rjabov, Valery Sklyarov, Iouliia Skliarova, Alexander Sudnitson
Veröffentlicht in:
2017 40th International Convention on Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics (MIPRO), 2017, Seite(n) 176-181, ISBN 978-953-233-090-8
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.23919/mipro.2017.7973413
Autoren:
Iouliia Skliarova, Valery Sklyarov, Alexander Sudnitson, Margus Kruus
Veröffentlicht in:
2017 IEEE Global Engineering Education Conference (EDUCON), 2017, Seite(n) 1084-1088, ISBN 978-1-5090-5467-1
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/educon.2017.7942983
Autoren:
Artur Jutman, Konstantin Shibin, Sergei Devadze
Veröffentlicht in:
2016 IEEE AUTOTESTCON, 2016, Seite(n) 1-10, ISBN 978-1-5090-0790-5
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/autest.2016.7589605
Autoren:
Siavoosh Payandeh Azad, Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar
Veröffentlicht in:
2018 IEEE 21st International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2018, Seite(n) 21-26, ISBN 978-1-5386-5754-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs.2018.00011
Autoren:
Raimund Ubar, Lembit Jurimagi, Elmet Orasson, Jaan Raik
Veröffentlicht in:
2015 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2015, Seite(n) 171-176, ISBN 978-1-4673-9140-5
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-soc.2015.7314411
Autoren:
Raivo Sell, Mairo Leier, Anton Rassolkin, Juhan-Peep Ernits
Veröffentlicht in:
2018 19th International Conference on Research and Education in Mechatronics (REM), 2018, Seite(n) 111-116, ISBN 978-1-5386-5413-2
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/rem.2018.8421793
Autoren:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Peeter Ellervee, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Veröffentlicht in:
2016 11th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2016, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-5090-2520-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/recosoc.2016.7533903
Autoren:
Karl Janson, Carl Johann Treudler, Thomas Hollstein, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Goerschwin Fey
Veröffentlicht in:
2018 IEEE 21st International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2018, Seite(n) 147-152, ISBN 978-1-5386-5754-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs.2018.00033
Autoren:
C. Sgouropoulou, I. Voyiatzis, A. Koutoumanos, S. Hamdioui, P. Pouyan, M. Comte, P. Prinetto, G. Airo Farulla, P. Ellervee, C. Delgado Kloos, R. Crespo Garcia
Veröffentlicht in:
2017 IEEE Global Engineering Education Conference (EDUCON), 2017, Seite(n) 1619-1621, ISBN 978-1-5090-5467-1
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/educon.2017.7943065
Autoren:
Yue Zhao, Tarmo Robal, Christoph Lofi, Claudia Hauff
Veröffentlicht in:
Adjunct Publication of the 26th Conference on User Modeling, Adaptation and Personalization - UMAP '18, 2018, Seite(n) 299-303, ISBN 9781-450357845
Herausgeber:
ACM Press
DOI:
10.1145/3213586.3225241
Autoren:
Raimund Ubar, Lembit Jurimagi, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Niyi-Leigh Olugbenga, Vladimir Viies
Veröffentlicht in:
2018 7th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO), 2018, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-5386-5683-9
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/meco.2018.8406051
Autoren:
Muhammad Adeel Tajammul, Syed M. A. H. Jafri, Ahmed Hemani, Peter Ellervee
Veröffentlicht in:
2016 26th International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS), 2016, Seite(n) 92-99, ISBN 978-1-5090-0733-2
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/patmos.2016.7833431
Autoren:
Tarmo Robal, Yue Zhao, Christoph Lofi, Claudia Hauff
Veröffentlicht in:
Proceedings of the 2018 Conference on Human Information Interaction&Retrieval - IUI '18, 2018, Seite(n) 189-197, ISBN 9781-450349451
Herausgeber:
ACM Press
DOI:
10.1145/3172944.3172987
Autoren:
Maksim Jenihhin, Alexander Kamkin, Zainalabedin Navabi, Somayeh Sadeghi-Kohan
Veröffentlicht in:
2016 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS), 2016, Seite(n) 1-5, ISBN 978-1-5090-0693-9
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ewdts.2016.7807635
Autoren:
Marenkov, Jevgeni; Robal, Tarmo; Kalja, Ahto
Veröffentlicht in:
2016
Herausgeber:
IOS Press
DOI:
10.3233/978-1-61499-714-6-283
Autoren:
Artjom Jasnetski, Raimund Ubar, Anton Tsertov
Veröffentlicht in:
"2017 MIXDES - 24th International Conference ""Mixed Design of Integrated Circuits and Systems", 2017, Seite(n) 453-458, ISBN 978-83-63578-12-1
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.23919/mixdes.2017.8005252
Autoren:
Allik, A.; Mägi, S.; Pilt, K.; Karai, D.; Fridolin I.; Leier, M.; Jervan, G.
Veröffentlicht in:
2017
Herausgeber:
Springer
Autoren:
Põld, Janari; Kalja, Ahto; Robal, Tarmo
Veröffentlicht in:
2017
Herausgeber:
IOS Press
DOI:
10.3233/978-1-61499-720-7-13
Autoren:
Artur Jutman, Christophe Lotz, Erik Larsson, Matteo Sonza Reorda, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Hans Kerkhoff, Rene Krenz-Baath, Piet Engelke
Veröffentlicht in:
Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017, 2017, Seite(n) 115-120, ISBN 978-3-9815370-8-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.23919/DATE.2017.7926968
Autoren:
Francesco Pellerey, Maksim Jenihhin, Giovanni Squillero, Jaan Raik, Matteo Sonza Reorda, Valentin Tihhomirov, Raimund Ubar
Veröffentlicht in:
2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), 2016, Seite(n) 304-309, ISBN 978-1-5090-3809-1
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ATS.2016.57
Autoren:
Gadi Aleksandrowicz, Eli Arbel, Roderick Bloem, Timon Ter Braak, Sergei Devadze, Goerschwin Fey, Maksim Jenihhin, Artur Jutman, Hans G. Kerkhoff, Robert Konighofer, Jan Malburg, Shiri Moran, Jaan Raik, Gerard Rauwerda, Heinz Riener, Franz Rock, Konstantin Shibin, Kim Sunesen, Jinbo Wan, Yong Zhao
Veröffentlicht in:
2016 Forum on Specification and Design Languages (FDL), 2016, Seite(n) 1-8, ISBN 979-10-92279-17-7
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/FDL.2016.7880382
Autoren:
D. Appello, P. Bernardi, G. Giacopelli, A. Motta, A. Pagani, G. Pollaccia, C. Rabbi, M. Restifo, P. Ruberg, E. Sanchez, C.M. Villa, F. Venini
Veröffentlicht in:
Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017, 2017, Seite(n) 646-649, ISBN 978-3-9815370-8-6
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.23919/DATE.2017.7927068
Autoren:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Ranganathan Hariharan, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Veröffentlicht in:
2015 10th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2015, Seite(n) 1-8, ISBN 978-1-4673-7942-7
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2015.7238079
Autoren:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Ranganathan Hariharan, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Veröffentlicht in:
2015 Euromicro Conference on Digital System Design, 2015, Seite(n) 288-292, ISBN 978-1-4673-8035-5
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/DSD.2015.15
Autoren:
Syed, Saif Abrar; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan.
Veröffentlicht in:
International Conference on Advances in Computing, Communications and Informatics (ICACCI), Kochi, India, August 10-13, 2015, 2015, Seite(n) 1-6
Herausgeber:
IEEE
Autoren:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Vineeth Govind, Thomas Hollstein, Gert Jervan, Ranganathan Hariharan
Veröffentlicht in:
Proceedings of the 9th International Symposium on Networks-on-Chip - NOCS '15, 2015, Seite(n) 1-8, ISBN 9781450333962
Herausgeber:
ACM Press
DOI:
10.1145/2786572.2788713
Autoren:
Palermo, N.; Tihhomirov, V.; Copetti, T.S.; Jenihhin, M.; Raik, J.; Kostin, S.; Gaudesi, M.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Vargas, F.; Bolzani Poehls, L.
Veröffentlicht in:
16th IEEE Latin-American Test Symposium March 25 - 27, 2015, Puerto Vallarta, Mexico, 2015, Seite(n) 1-6
Herausgeber:
IEEE Computer Society Press
Autoren:
Ubar, Raimund; Jürimägi, Lembit; Orasson, Elmet; Raik, Jaan
Veröffentlicht in:
IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration - VLSI-SoC'2015, 2015, Seite(n) 1-6
Herausgeber:
IEEE Computer Society Press
Autoren:
Jasnetski, Artjom; Raik, Jaan; Tsertov, Anton; Ubar, Raimund
Veröffentlicht in:
IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - DDECS, 2015, Seite(n) 1-6
Herausgeber:
IEEE Computer Society Press
Autoren:
Kostin, Sergei; Raik, Jaan; Ubar, Raimund; Jenihhin, Maksim; Copetti, Thiago; Vargas, Fabian; Bolzani Poehls, Leticia
Veröffentlicht in:
IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems 2015, Belgrade, Serbia, 2015, Seite(n) 1-6
Herausgeber:
IEEE Computer Society Press
Autoren:
Syed, Saif Abrar; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan
Veröffentlicht in:
IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems 2015, Belgrade, Serbia, 2015, Seite(n) 1-4
Herausgeber:
IEEE Computer Society Press
Autoren:
Vierhaus, Heinrich; Raik, Jaan; Ubar, Raimund
Veröffentlicht in:
Proceedings of the 10th European Workshop on Microelectronics Education – EWME, 2014, Seite(n) 1-4
Herausgeber:
IEEE Computer Society
Autoren:
Syed Saif Abrar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
Veröffentlicht in:
2014 IEEE International Advance Computing Conference (IACC), 2014, Seite(n) 50-55, ISBN 978-1-4799-2572-8
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/IAdCC.2014.6779293
Autoren:
Kõusaar, J.; Ubar, R.; Devadze, S.; Raik, J.
Veröffentlicht in:
17th Euromicro Conference on Digital System Design, Verona, Italy, August 27-29, 2014, 2014
Herausgeber:
IEEE Computer Society
Autoren:
Gaudesi, Marco; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Sanchez, Ernesto; Squillero, Giovanni; Tihomirov, Valentin; Ubar, Raimund
Veröffentlicht in:
Genetic and Evolutionary Computation Conference, Vancouver, BC, Canada, July 12-16, 2014, 2014, Seite(n) 1-6
Herausgeber:
IEEE Computer Society Press
Autoren:
Valentin Tihhomirov, Anton Tsepurov, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar
Veröffentlicht in:
2013 14th Latin American Test Workshop - LATW, 2013, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-4799-0597-3
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/LATW.2013.6562665
Autoren:
Niazmand, Behrad; Hariharan, Ranganathan; Govind, Vineeth; Jervan, Gert; Hollstein, Thomas; Raik, Jaan
Veröffentlicht in:
Baltic Electronic Conference, Laulasmaa, Estonia, 2014, Seite(n) 1-4
Herausgeber:
IEEE
Autoren:
Syed, Saif Abrar; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan
Veröffentlicht in:
15th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Karlovy Vary, Czech Republic, April 8-10, 2013, 2013, Seite(n) 112-115
Herausgeber:
IEEE
Autoren:
Maksim Gorev, Raimund Ubar, Peeter Ellervee, Sergei Devadze, Jaan Raik, Mart Min
Veröffentlicht in:
2013 NORCHIP, 2013, Seite(n) 1-6, ISBN 978-1-4799-1647-4
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/NORCHIP.2013.6702000
Autoren:
Syed, Saif Abrar; Shyam, Kiran A.; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Babu, C.
Veröffentlicht in:
Proc. of 2nd IEEE International Conference on Advances in Computing, Communications & Informatics, 2013, Seite(n) 1-6
Herausgeber:
IEEE
Autoren:
Ubar, Raimund; Vargas, Fabian; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Kostin, Serge; Bolzani Poehls, Letícia
Veröffentlicht in:
Proceedings of the 16th Euromicro Conference on Digital System Design, 2013, Seite(n) 136–141
Herausgeber:
IEEE Computer Society Press
Autoren:
Ubar, Raimund; Kostin, Sergei; Raik, Jaan
Veröffentlicht in:
8th Int. Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era - DTIS’13, 2013, Seite(n) 1-6
Herausgeber:
IEEE Computer Society
Autoren:
Jevgeni Marenkov, Tarmo Robal, Ahto Kalja
Veröffentlicht in:
Complex Systems Informatics and Modeling Quarterly, Ausgabe 15, 2018, Seite(n) 90-109, ISSN 2255-9922
Herausgeber:
0302-9743
DOI:
10.7250/csimq.2018-15.05
Suche nach OpenAIRE-Daten ...
Bei der Suche nach OpenAIRE-Daten ist ein Fehler aufgetreten
Es liegen keine Ergebnisse vor