Rezultaty
1-2 newsletters/year over the duration of the project.
Promotion guide about TUTPromotion guide about TUT.
Project websiteProject leaflet and poster
• Project leaflet (2 pages, A4 size) and Powerpoint presentation providing overview of the project • Project poster (A1 size)
Publikacje
Autorzy:
Gadi Aleksandrowicz, Eli Arbel, Roderick Bloem, Timon D. ter Braak, Sergei Devadze, Goerschwin Fey, Maksim Jenihhin, Artur Jutman, Hans G. Kerkhoff, Robert Könighofer, Shlomit Koyfman, Jan Malburg, Shiri Moran, Jaan Raik, Gerard Rauwerda, Heinz Riener, Franz Röck, Konstantin Shibin, Kim Sunesen, Jinbo Wan, Yong Zhao
Opublikowane w:
Lecture Notes in Electrical Engineering, 2018, Strona(/y) 15-38
Wydawca:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-62920-9_2
Autorzy:
Jevgeni Marenkov, Tarmo Robal, Ahto Kalja
Opublikowane w:
Databases and Information Systems, Numer 615, 2016, Strona(/y) 257-271, ISBN 978-3-319-40179-9
Wydawca:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-40180-5_18
Autorzy:
Jevgeni Marenkov, Tarmo Robal, Ahto Kalja
Opublikowane w:
Advances in Databases and Information Systems, Numer 10509, 2017, Strona(/y) 394-407, ISBN 978-3-319-66916-8
Wydawca:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-66917-5_26
Autorzy:
Yue Zhao, Tarmo Robal, Christoph Lofi, Claudia Hauff
Opublikowane w:
Lifelong Technology-Enhanced Learning - 13th European Conference on Technology Enhanced Learning, EC-TEL 2018, Leeds, UK, September 3-5, 2018, Proceedings, Numer 11082, 2018, Strona(/y) 101-115, ISBN 978-3-319-98571-8
Wydawca:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-98572-5_8
Autorzy:
Ardo Allik, Kristjan Pilt, Deniss Karai, Ivo Fridolin, Mairo Leier, Gert Jervan
Opublikowane w:
World Congress on Medical Physics and Biomedical Engineering 2018, Numer 68/3, 2019, Strona(/y) 13-17, ISBN 978-981-10-9022-6
Wydawca:
Springer Singapore
DOI:
10.1007/978-981-10-9023-3_3
Autorzy:
Laura Päeske, Maie Bachmann, Jaan Raik, Hiie Hinrikus
Opublikowane w:
World Congress on Medical Physics and Biomedical Engineering 2018 - June 3-8, 2018, Prague, Czech Republic (Vol.2), Numer 68/2, 2019, Strona(/y) 237-240, ISBN 978-981-10-9037-0
Wydawca:
Springer Singapore
DOI:
10.1007/978-981-10-9038-7_44
Autorzy:
Jüri Vain, Leonidas Tsiopoulos, Vyacheslav Kharchenko, Apneet Kaur, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Sven Nõmm
Opublikowane w:
Green IT Engineering: Social, Business and Industrial Applications, Numer 171, 2019, Strona(/y) 273-297, ISBN 978-3-030-00252-7
Wydawca:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-030-00253-4_12
Autorzy:
Raimund Ubar, Lembit Jürimägi, Elmet Orasson, Jaan Raik
Opublikowane w:
VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power, Numer 483, 2016, Strona(/y) 23-45, ISBN 978-3-319-46096-3
Wydawca:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-46097-0_2
Autorzy:
Marco Gaudesi, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Ernesto Sanchez, Giovanni Squillero, Valentin Tihhomirov, Raimund Ubar
Opublikowane w:
Applications of Evolutionary Computation, 2014, Strona(/y) 425-436, ISBN 978-3-662-45523-4
Wydawca:
Springer Berlin Heidelberg
DOI:
10.1007/978-3-662-45523-4_35
Autorzy:
Raimund Ubar, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Lembit Jürimägi
Opublikowane w:
Microelectronics Reliability, Numer 81, 2018, Strona(/y) 252-261, ISSN 0026-2714
Wydawca:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2017.11.027
Autorzy:
Raimund Ubar, Lembit Jürimägi, Jaan Raik, Vladimir Viies
Opublikowane w:
Microprocessors and Microsystems, Numer 48, 2017, Strona(/y) 56-61, ISSN 0141-9331
Wydawca:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2016.09.006
Autorzy:
Konstantin Shibin, Sergei Devadze, Artur Jutman, Martin Grabmann, Robin Pricken
Opublikowane w:
IEEE Design & Test, Numer 34/6, 2017, Strona(/y) 27-35, ISSN 2168-2356
Wydawca:
IEEE Computer Society
DOI:
10.1109/MDAT.2017.2750902
Autorzy:
Igor Aleksejev, Artur Jutman, Sergei Devadze
Opublikowane w:
IEEE Instrumentation & Measurement Magazine, Numer 20/4, 2017, Strona(/y) 23-30, ISSN 1094-6969
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/MIM.2017.8006390
Autorzy:
Valery Sklyarov, Iouliia Skliarova, Artjom Rjabov, Alexander Sudnitson
Opublikowane w:
International Journal of Computers Communications & Control, Numer 11/1, 2015, Strona(/y) 126, ISSN 1841-9836
Wydawca:
Agora University
DOI:
10.15837/ijccc.2016.1.1442
Autorzy:
Valery Sklyarov, Iouliia Skliarova, Alexander Sudnitson
Opublikowane w:
Elektronika ir Elektrotechnika, Numer 22/4, 2016, ISSN 1392-1215
Wydawca:
Kauno Technologijos Universitetas
DOI:
10.5755/j01.eie.22.4.15920
Autorzy:
V Sklyarov, I Skliarova, A Rjabov, A Sudnitson
Opublikowane w:
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences, Numer 66/3, 2017, Strona(/y) 323, ISSN 1736-6046
Wydawca:
Estonian Academy Publishers
DOI:
10.3176/proc.2017.3.07
Autorzy:
Peeter Ellervee, Jari Nurmi
Opublikowane w:
Journal of Signal Processing Systems, Numer 87/3, 2017, Strona(/y) 269-270, ISSN 1939-8018
Wydawca:
Springer Verlag
DOI:
10.1007/s11265-017-1242-x
Autorzy:
Igor Aleksejev, Sergei Devadze, Artur Jutman, Konstantin Shibin
Opublikowane w:
Journal of Electronic Testing, Numer 32/3, 2016, Strona(/y) 245-255, ISSN 0923-8174
Wydawca:
Kluwer Academic Publishers
DOI:
10.1007/s10836-016-5588-y
Autorzy:
Syed Mohammad Asad Hassan Jafri, Muhammad Adeel Tajammul, Ahmed Hemani, Kolin Paul, Juha Plosila, Peeter Ellervee, Hannu Tenuhnen
Opublikowane w:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Numer 24/1, 2016, Strona(/y) 403-407, ISSN 1063-8210
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tvlsi.2015.2402392
Autorzy:
Laura Päeske, Maie Bachmann, Toomas Põld, Sara Pereira Mendes de Oliveira, Jaanus Lass, Jaan Raik, Hiie Hinrikus
Opublikowane w:
Frontiers in Physiology, Numer 9, 2018, ISSN 1664-042X
Wydawca:
Frontiers Research Foundation
DOI:
10.3389/fphys.2018.01350
Autorzy:
Maksim Jenihhin, Giovanni Squillero, Thiago Santos Copetti, Valentin Tihhomirov, Sergei Kostin, Marco Gaudesi, Fabian Vargas, Jaan Raik, Matteo Sonza Reorda, Leticia Bolzani Poehls, Raimund Ubar, Guilherme Cardoso Medeiros
Opublikowane w:
Journal of Electronic Testing, Numer 32/3, 2016, Strona(/y) 273-289, ISSN 0923-8174
Wydawca:
Kluwer Academic Publishers
DOI:
10.1007/s10836-016-5589-x
Autorzy:
Maksim Gorev, Raimund Ubar, Peeter Ellervee, Sergei Devadze, Jaan Raik, Mart Min
Opublikowane w:
Microprocessors and Microsystems, Numer 01419331, 2015, Strona(/y) 909-918, ISSN 0141-9331
Wydawca:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2014.11.002
Autorzy:
Jaak Kõusaar, Raimund Ubar, Sergei Devadze, Jaan Raik
Opublikowane w:
Microprocessors and Microsystems, Numer 01419331, 2015, Strona(/y) 1130-1138, ISSN 0141-9331
Wydawca:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2015.05.003
Autorzy:
Maksim Jenihhin, Anton Tsepurov, Valentin Tihhomirov, Jaan Raik, Hanno Hantson, Raimund Ubar, Gunter Bartsch, JorgeHernan Meza Escobar, Heinz-Dietrich Wuttke
Opublikowane w:
IEEE Design & Test, Numer 21682356, 2014, Strona(/y) 83-92, ISSN 2168-2356
Wydawca:
IEEE Computer Society
DOI:
10.1109/MDAT.2013.2271420
Autorzy:
Jaan Raik, Urmas Repinski, Anton Chepurov, Hanno Hantson, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin
Opublikowane w:
Microprocessors and Microsystems, Numer 01419331, 2013, Strona(/y) 505-513, ISSN 0141-9331
Wydawca:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2012.11.004
Autorzy:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Karl Janson, Thilo Kogge, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Opublikowane w:
2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2017, Strona(/y) 1-4, ISBN 978-1-4673-6853-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ISCAS.2017.8050634
Autorzy:
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Siavoosh Payandeh Azad, Jaan Raik
Opublikowane w:
2017 12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2017, Strona(/y) 1-8, ISBN 978-1-5386-3344-1
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
Autorzy:
Tsotne Putkaradze, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Gert Jervan
Opublikowane w:
2017 12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2017, Strona(/y) 1-8, ISBN 978-1-5386-3344-1
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2017.8016161
Autorzy:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Apneet Kaur Sandhu, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Opublikowane w:
2017 22nd IEEE European Test Symposium (ETS), 2017, Strona(/y) 1-2, ISBN 978-1-5090-5457-2
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ETS.2017.7968211
Autorzy:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Karl Janson, Nevin George, Adeboye Stephen Oyeniran, Tsotne Putkaradze, Apneet Kaur, Jaan Raik, Gert Jervan, Raimund Ubar, Thomas Hollstein
Opublikowane w:
2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2017, Strona(/y) 48-53, ISBN 978-1-5386-0472-4
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/DDECS.2017.7934565
Autorzy:
Raimund Ubar, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
Opublikowane w:
2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2017, Strona(/y) 152-157, ISBN 978-1-5386-0472-4
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/DDECS.2017.7934568
Autorzy:
Sergei Odintsov, Artur Jutman, Sergei Devadze
Opublikowane w:
2017 IEEE International Test Conference (ITC), 2017, Strona(/y) 1-10, ISBN 978-1-5386-3413-4
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/TEST.2017.8242070
Autorzy:
Sergei Odintsov, Artur Jutman, Sergei Devadze, Igor Aleksejev
Opublikowane w:
2017 IEEE AUTOTESTCON, 2017, Strona(/y) 1-9, ISBN 978-1-5090-4922-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/AUTEST.2017.8080516
Autorzy:
Juri Vain, Apneet Kaur, Leonidas Tsiopoulos, Jaan Raik, Maksim Jenihhin
Opublikowane w:
2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-5386-7312-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2018.8600986
Autorzy:
Behrad Niazmand, Siavoosh Payandeh Azad, Tara Ghasempouri, Jaan Raik, Gert Jervan
Opublikowane w:
2018 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2018, Strona(/y) 139-144, ISBN 978-1-5386-5180-3
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/itc-asia.2018.00034
Autorzy:
Emmanuel Ovie Osimiry, Raimund Ubar, Sergei Kostin, Jaan Raik
Opublikowane w:
2016 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS), 2016, Strona(/y) 1-4, ISBN 978-1-5090-1095-0
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/norchip.2016.7792915
Autorzy:
Anton Tsertov, Artur Jutman, Sergei Devadze, Matteo Sonza Reorda, Erik Larsson, Farrokh Ghani Zadegan, Riccardo Cantoro, Mehrdad Montazeri, Rene Krenz-Baath
Opublikowane w:
2016 IEEE International Test Conference (ITC), 2016, Strona(/y) 1-10, ISBN 978-1-4673-8773-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/test.2016.7805840
Autorzy:
Anton Karputkin, Jaan Raik
Opublikowane w:
Proceedings of the 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2016, Strona(/y) 1124-1127, ISBN 978-3-9815370-7-9
Wydawca:
Research Publishing Services
DOI:
10.3850/9783981537079_0260
Autorzy:
Emmanuel Ovie Osimiry, Sergei Kostin, Jaan Raik, Raimund Ubar
Opublikowane w:
2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2016, Strona(/y) 79-82, ISBN 978-1-5090-1393-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2016.7743733
Autorzy:
S. Kostin, E. Orasson, R. Ubar
Opublikowane w:
2016 11th European Workshop on Microelectronics Education (EWME), 2016, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-4673-8584-8
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ewme.2016.7496466
Autorzy:
Ardo Allik, Kristjan Pilt, Deniss Karai, Ivo Fridolin, Mairo Leier, Gert Jervan
Opublikowane w:
2016 IEEE EMBS Conference on Biomedical Engineering and Sciences (IECBES), 2016, Strona(/y) 460-464, ISBN 978-1-4673-7791-1
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/iecbes.2016.7843493
Autorzy:
Ahto Kalja, Tarmo Robal, Triin Gailan
Opublikowane w:
2017 Portland International Conference on Management of Engineering and Technology (PICMET), 2017, Strona(/y) 1-7, ISBN 978-1-890843-36-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/picmet.2017.8125312
Autorzy:
Tara Ghasempouri, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Jaan Raik
Opublikowane w:
2018 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2018, Strona(/y) 61-66, ISBN 978-1-5386-5180-3
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/itc-asia.2018.00021
Autorzy:
Karl Janson, Rene Pihlak, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Gert Jervan, Jaan Raik
Opublikowane w:
2018 13th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2018, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-5386-7957-9
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/recosoc.2018.8449374
Autorzy:
Yu. Gordienko, S. Stirenko, O. Alienin, K. Skala, Z. Sojat, A. Rojbi, J.R. Lopez Benito, E. Artetxe Gonzalez, U. Lushchyk, L. Sajn, A. Llorente Coto, G. Jervan
Opublikowane w:
2017 40th International Convention on Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics (MIPRO), 2017, Strona(/y) 359-364, ISBN 978-953-233-090-8
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/mipro.2017.7973449
Autorzy:
Adeboye Stephen Oyeniran, Siavoosh Payandeh Azad, Raimund Ubar
Opublikowane w:
2018 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR), 2018, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-5386-2205-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/aqtr.2018.8402708
Autorzy:
Priit Ruberg, Keijo Lass, Peeter Ellervee
Opublikowane w:
2016 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS), 2016, Strona(/y) 1-5, ISBN 978-1-5090-1095-0
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/norchip.2016.7792916
Autorzy:
Priit Ruberg, Keijo Lass, Peeter Ellervee
Opublikowane w:
2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2016, Strona(/y) 123-126, ISBN 978-1-5090-1393-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2016.7743744
Autorzy:
Priit Ruberg, Keijo Lass, Elvar Liiv, Peeter Ellervee
Opublikowane w:
2017 5th IEEE Workshop on Advances in Information, Electronic and Electrical Engineering (AIEEE), 2017, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-5386-4137-8
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/aieee.2017.8270530
Autorzy:
Jaak Kousaar, Raimund Ubar, Sergei Kostin, Sergei Devadze, Jaan Raik
Opublikowane w:
"2018 25th International Conference ""Mixed Design of Integrated Circuits and System"" (MIXDES)", 2018, Strona(/y) 305-310, ISBN 978-83-63578-14-5
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/mixdes.2018.8436880
Autorzy:
Tarmo Robal
Opublikowane w:
2018 28th EAEEIE Annual Conference (EAEEIE), 2018, Strona(/y) 1-9, ISBN 978-1-5386-7711-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/eaeeie.2018.8534256
Autorzy:
Mairo Leier, Gert Jervan, Ardo Allik, Kristjan Pilt, Deniss Karai, Ivo Fridolin
Opublikowane w:
2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Strona(/y) 1-4, ISBN 978-1-5386-7312-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2018.8600959
Autorzy:
Lembit Jurimagi, Raimund Ubar
Opublikowane w:
2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Strona(/y) 1-4, ISBN 978-1-5386-7312-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2018.8600967
Autorzy:
Thiago Copetti, Guilherme Medeiros, Leticia Bolzani Poehls, Fabian Vargas, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar
Opublikowane w:
2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), 2016, Strona(/y) 75-80, ISBN 978-1-5090-1331-9
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/latw.2016.7483343
Autorzy:
Jevgeni Marenkov, Tarmo Robal, Ahto Kalja
Opublikowane w:
Proceedings of the 8th International Conference on Web Intelligence, Mining and Semantics - WIMS '18, 2018, Strona(/y) 1-9, ISBN 9781-450354899
Wydawca:
ACM Press
DOI:
10.1145/3227609.3227667
Autorzy:
Karl Janson, Rene Pihlak, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Gert Jervan, Jaan Raik
Opublikowane w:
2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Strona(/y) 1-4, ISBN 978-1-5386-7312-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2018.8600989
Autorzy:
Sai Kumar Dwivedi, Siavoosh Payandeh Azad, Peeter Ellervee, Ratnakar Dash
Opublikowane w:
2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2016, Strona(/y) 63-66, ISBN 978-1-5090-1393-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2016.7743729
Autorzy:
Artjom Rjabov
Opublikowane w:
2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2016, Strona(/y) 59-62, ISBN 978-1-5090-1393-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2016.7743728
Autorzy:
Madis Kerner, Kalle Tammemae
Opublikowane w:
2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2017, Strona(/y) 92-95, ISBN 978-1-5386-0472-4
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs.2017.7934577
Autorzy:
Lembit Jurimagi, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Sergei Devadze, Sergei Kostin
Opublikowane w:
2018 28th International Symposium on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS), 2018, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-5386-6365-3
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/patmos.2018.8464176
Autorzy:
Artjom Jasnetski, Stephen Adeboye Oyeniran, Anton Tsertov, Mario Scholzel, Raimund Ubar
Opublikowane w:
2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2016, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-5090-2467-4
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs.2016.7482445
Autorzy:
Adeboye Stephen Oyeniran, Artjom Jasnetski, Anton Tsertov, Raimund Ubar
Opublikowane w:
2017 6th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO), 2017, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-5090-6742-8
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/meco.2017.7977167
Autorzy:
Anton Tsertov, Artur Jutman, Konstantin Shibin, Sergei Devadze
Opublikowane w:
2018 IEEE AUTOTESTCON, 2018, Strona(/y) 1-9, ISBN 978-1-5386-5223-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/autest.2018.8532559
Autorzy:
Sergei Odintsov
Opublikowane w:
2018 IEEE AUTOTESTCON, 2018, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-5386-5223-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/autest.2018.8532547
Autorzy:
Johanna Sepulveda, Cezar Reinbrecht, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Gert Jervan
Opublikowane w:
Proceedings of the 18th International Conference on Embedded Computer Systems Architectures, Modeling, and Simulation - SAMOS '18, 2018, Strona(/y) 162-166, ISBN 9781-450364942
Wydawca:
ACM Press
DOI:
10.1145/3229631.3239367
Autorzy:
Tarmo Robal, Yue Zhao, Christoph Lofi, Claudia Hauff
Opublikowane w:
Proceedings of the 29th on Hypertext and Social Media - HT '18, 2018, Strona(/y) 106-114, ISBN 9781-450354271
Wydawca:
ACM Press
DOI:
10.1145/3209542.3209547
Autorzy:
Artjom Rjabov, Alexander Sudnitson, Valery Sklyarov, Iouliia Skliarova
Opublikowane w:
2016 18th Mediterranean Electrotechnical Conference (MELECON), 2016, Strona(/y) 1-4, ISBN 978-1-5090-0058-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/melcon.2016.7495400
Autorzy:
Behrad Niazmand, Siavoosh Payandeh Azad, Jose Flich, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Opublikowane w:
2016 Tenth IEEE/ACM International Symposium on Networks-on-Chip (NOCS), 2016, Strona(/y) 1-8, ISBN 978-1-4673-9030-9
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/nocs.2016.7579317
Autorzy:
Raimund Ubar, Adeboye Stephen Oyeniran, Olusiji Medaiyese
Opublikowane w:
2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Strona(/y) 1-4, ISBN 978-1-5386-7312-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2018.8600980
Autorzy:
Tarmo Robal, Ahto Kalja
Opublikowane w:
2016 Portland International Conference on Management of Engineering and Technology (PICMET), 2016, Strona(/y) 1942-1952
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/picmet.2016.7806759
Autorzy:
Raimund Ubar, Stephen Adeboye Oyeniran
Opublikowane w:
2016 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR), 2016, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-4673-8692-0
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/aqtr.2016.7501287
Autorzy:
Artjom Jasnetski, Raimund Ubar, Anton Tsertov
Opublikowane w:
2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), 2016, Strona(/y) 177-177, ISBN 978-1-5090-1331-9
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/latw.2016.7483357
Autorzy:
Artur Jutman, Igor Aleksejev, Sergei Devadze
Opublikowane w:
2016 21th IEEE European Test Symposium (ETS), 2016, Strona(/y) 1-2, ISBN 978-1-4673-9659-2
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ets.2016.7519295
Autorzy:
Konstantin Shibin, Sergei Devadze, Artur Jutman
Opublikowane w:
2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), 2016, Strona(/y) 69-74, ISBN 978-1-5090-1331-9
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/latw.2016.7483342
Autorzy:
Tarmo Robal, Jevgeni Marenkov, Ahto Kalja
Opublikowane w:
2017 Portland International Conference on Management of Engineering and Technology (PICMET), 2017, Strona(/y) 1-8, ISBN 978-1-890843-36-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/picmet.2017.8125425
Autorzy:
Adeboye Stephen Oyeniran, Siavoosh Payandeh Azad, Raimund Ubar
Opublikowane w:
2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2018, Strona(/y) 1-5, ISBN 978-1-5386-4881-0
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/iscas.2018.8350936
Autorzy:
Priit Ruberg, Keijo Lass, Elvar Liiv, Peeter Ellervee
Opublikowane w:
2017 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS): NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 2017, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-5386-2844-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/norchip.2017.8124964
Autorzy:
Uljana Reinsalu, Siavoosh Payandeh Azad, Mairo Leier, Kalle Tammemae, Thomas Hollstein
Opublikowane w:
2016 11th European Workshop on Microelectronics Education (EWME), 2016, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-4673-8584-8
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ewme.2016.7496463
Autorzy:
Serhiy Avramenko, Siavoosh Payandeh Azad, Stefano Esposito, Behrad Niazmand, Massimo Violante, Jaan Raik, Maksim Jenihhin
Opublikowane w:
2018 IEEE 21st International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2018, Strona(/y) 67-72, ISBN 978-1-5386-5754-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs.2018.00-10
Autorzy:
Artjom Rjabov, Valery Sklyarov, Iouliia Skliarova, Alexander Sudnitson
Opublikowane w:
2017 40th International Convention on Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics (MIPRO), 2017, Strona(/y) 176-181, ISBN 978-953-233-090-8
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/mipro.2017.7973413
Autorzy:
Iouliia Skliarova, Valery Sklyarov, Alexander Sudnitson, Margus Kruus
Opublikowane w:
2017 IEEE Global Engineering Education Conference (EDUCON), 2017, Strona(/y) 1084-1088, ISBN 978-1-5090-5467-1
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/educon.2017.7942983
Autorzy:
Artur Jutman, Konstantin Shibin, Sergei Devadze
Opublikowane w:
2016 IEEE AUTOTESTCON, 2016, Strona(/y) 1-10, ISBN 978-1-5090-0790-5
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/autest.2016.7589605
Autorzy:
Siavoosh Payandeh Azad, Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar
Opublikowane w:
2018 IEEE 21st International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2018, Strona(/y) 21-26, ISBN 978-1-5386-5754-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs.2018.00011
Autorzy:
Raimund Ubar, Lembit Jurimagi, Elmet Orasson, Jaan Raik
Opublikowane w:
2015 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2015, Strona(/y) 171-176, ISBN 978-1-4673-9140-5
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-soc.2015.7314411
Autorzy:
Raivo Sell, Mairo Leier, Anton Rassolkin, Juhan-Peep Ernits
Opublikowane w:
2018 19th International Conference on Research and Education in Mechatronics (REM), 2018, Strona(/y) 111-116, ISBN 978-1-5386-5413-2
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/rem.2018.8421793
Autorzy:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Peeter Ellervee, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Opublikowane w:
2016 11th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2016, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-5090-2520-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/recosoc.2016.7533903
Autorzy:
Karl Janson, Carl Johann Treudler, Thomas Hollstein, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Goerschwin Fey
Opublikowane w:
2018 IEEE 21st International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2018, Strona(/y) 147-152, ISBN 978-1-5386-5754-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs.2018.00033
Autorzy:
C. Sgouropoulou, I. Voyiatzis, A. Koutoumanos, S. Hamdioui, P. Pouyan, M. Comte, P. Prinetto, G. Airo Farulla, P. Ellervee, C. Delgado Kloos, R. Crespo Garcia
Opublikowane w:
2017 IEEE Global Engineering Education Conference (EDUCON), 2017, Strona(/y) 1619-1621, ISBN 978-1-5090-5467-1
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/educon.2017.7943065
Autorzy:
Yue Zhao, Tarmo Robal, Christoph Lofi, Claudia Hauff
Opublikowane w:
Adjunct Publication of the 26th Conference on User Modeling, Adaptation and Personalization - UMAP '18, 2018, Strona(/y) 299-303, ISBN 9781-450357845
Wydawca:
ACM Press
DOI:
10.1145/3213586.3225241
Autorzy:
Raimund Ubar, Lembit Jurimagi, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Niyi-Leigh Olugbenga, Vladimir Viies
Opublikowane w:
2018 7th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO), 2018, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-5386-5683-9
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/meco.2018.8406051
Autorzy:
Muhammad Adeel Tajammul, Syed M. A. H. Jafri, Ahmed Hemani, Peter Ellervee
Opublikowane w:
2016 26th International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS), 2016, Strona(/y) 92-99, ISBN 978-1-5090-0733-2
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/patmos.2016.7833431
Autorzy:
Tarmo Robal, Yue Zhao, Christoph Lofi, Claudia Hauff
Opublikowane w:
Proceedings of the 2018 Conference on Human Information Interaction&Retrieval - IUI '18, 2018, Strona(/y) 189-197, ISBN 9781-450349451
Wydawca:
ACM Press
DOI:
10.1145/3172944.3172987
Autorzy:
Maksim Jenihhin, Alexander Kamkin, Zainalabedin Navabi, Somayeh Sadeghi-Kohan
Opublikowane w:
2016 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS), 2016, Strona(/y) 1-5, ISBN 978-1-5090-0693-9
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ewdts.2016.7807635
Autorzy:
Marenkov, Jevgeni; Robal, Tarmo; Kalja, Ahto
Opublikowane w:
2016
Wydawca:
IOS Press
DOI:
10.3233/978-1-61499-714-6-283
Autorzy:
Artjom Jasnetski, Raimund Ubar, Anton Tsertov
Opublikowane w:
"2017 MIXDES - 24th International Conference ""Mixed Design of Integrated Circuits and Systems", 2017, Strona(/y) 453-458, ISBN 978-83-63578-12-1
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/mixdes.2017.8005252
Autorzy:
Allik, A.; Mägi, S.; Pilt, K.; Karai, D.; Fridolin I.; Leier, M.; Jervan, G.
Opublikowane w:
2017
Wydawca:
Springer
Autorzy:
Põld, Janari; Kalja, Ahto; Robal, Tarmo
Opublikowane w:
2017
Wydawca:
IOS Press
DOI:
10.3233/978-1-61499-720-7-13
Autorzy:
Artur Jutman, Christophe Lotz, Erik Larsson, Matteo Sonza Reorda, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Hans Kerkhoff, Rene Krenz-Baath, Piet Engelke
Opublikowane w:
Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017, 2017, Strona(/y) 115-120, ISBN 978-3-9815370-8-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/DATE.2017.7926968
Autorzy:
Francesco Pellerey, Maksim Jenihhin, Giovanni Squillero, Jaan Raik, Matteo Sonza Reorda, Valentin Tihhomirov, Raimund Ubar
Opublikowane w:
2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), 2016, Strona(/y) 304-309, ISBN 978-1-5090-3809-1
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ATS.2016.57
Autorzy:
Gadi Aleksandrowicz, Eli Arbel, Roderick Bloem, Timon Ter Braak, Sergei Devadze, Goerschwin Fey, Maksim Jenihhin, Artur Jutman, Hans G. Kerkhoff, Robert Konighofer, Jan Malburg, Shiri Moran, Jaan Raik, Gerard Rauwerda, Heinz Riener, Franz Rock, Konstantin Shibin, Kim Sunesen, Jinbo Wan, Yong Zhao
Opublikowane w:
2016 Forum on Specification and Design Languages (FDL), 2016, Strona(/y) 1-8, ISBN 979-10-92279-17-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/FDL.2016.7880382
Autorzy:
D. Appello, P. Bernardi, G. Giacopelli, A. Motta, A. Pagani, G. Pollaccia, C. Rabbi, M. Restifo, P. Ruberg, E. Sanchez, C.M. Villa, F. Venini
Opublikowane w:
Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017, 2017, Strona(/y) 646-649, ISBN 978-3-9815370-8-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/DATE.2017.7927068
Autorzy:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Ranganathan Hariharan, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Opublikowane w:
2015 10th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2015, Strona(/y) 1-8, ISBN 978-1-4673-7942-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2015.7238079
Autorzy:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Ranganathan Hariharan, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Opublikowane w:
2015 Euromicro Conference on Digital System Design, 2015, Strona(/y) 288-292, ISBN 978-1-4673-8035-5
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/DSD.2015.15
Autorzy:
Syed, Saif Abrar; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan.
Opublikowane w:
International Conference on Advances in Computing, Communications and Informatics (ICACCI), Kochi, India, August 10-13, 2015, 2015, Strona(/y) 1-6
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Vineeth Govind, Thomas Hollstein, Gert Jervan, Ranganathan Hariharan
Opublikowane w:
Proceedings of the 9th International Symposium on Networks-on-Chip - NOCS '15, 2015, Strona(/y) 1-8, ISBN 9781450333962
Wydawca:
ACM Press
DOI:
10.1145/2786572.2788713
Autorzy:
Palermo, N.; Tihhomirov, V.; Copetti, T.S.; Jenihhin, M.; Raik, J.; Kostin, S.; Gaudesi, M.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Vargas, F.; Bolzani Poehls, L.
Opublikowane w:
16th IEEE Latin-American Test Symposium March 25 - 27, 2015, Puerto Vallarta, Mexico, 2015, Strona(/y) 1-6
Wydawca:
IEEE Computer Society Press
Autorzy:
Ubar, Raimund; Jürimägi, Lembit; Orasson, Elmet; Raik, Jaan
Opublikowane w:
IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration - VLSI-SoC'2015, 2015, Strona(/y) 1-6
Wydawca:
IEEE Computer Society Press
Autorzy:
Jasnetski, Artjom; Raik, Jaan; Tsertov, Anton; Ubar, Raimund
Opublikowane w:
IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - DDECS, 2015, Strona(/y) 1-6
Wydawca:
IEEE Computer Society Press
Autorzy:
Kostin, Sergei; Raik, Jaan; Ubar, Raimund; Jenihhin, Maksim; Copetti, Thiago; Vargas, Fabian; Bolzani Poehls, Leticia
Opublikowane w:
IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems 2015, Belgrade, Serbia, 2015, Strona(/y) 1-6
Wydawca:
IEEE Computer Society Press
Autorzy:
Syed, Saif Abrar; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan
Opublikowane w:
IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems 2015, Belgrade, Serbia, 2015, Strona(/y) 1-4
Wydawca:
IEEE Computer Society Press
Autorzy:
Vierhaus, Heinrich; Raik, Jaan; Ubar, Raimund
Opublikowane w:
Proceedings of the 10th European Workshop on Microelectronics Education – EWME, 2014, Strona(/y) 1-4
Wydawca:
IEEE Computer Society
Autorzy:
Syed Saif Abrar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
Opublikowane w:
2014 IEEE International Advance Computing Conference (IACC), 2014, Strona(/y) 50-55, ISBN 978-1-4799-2572-8
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/IAdCC.2014.6779293
Autorzy:
Kõusaar, J.; Ubar, R.; Devadze, S.; Raik, J.
Opublikowane w:
17th Euromicro Conference on Digital System Design, Verona, Italy, August 27-29, 2014, 2014
Wydawca:
IEEE Computer Society
Autorzy:
Gaudesi, Marco; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Sanchez, Ernesto; Squillero, Giovanni; Tihomirov, Valentin; Ubar, Raimund
Opublikowane w:
Genetic and Evolutionary Computation Conference, Vancouver, BC, Canada, July 12-16, 2014, 2014, Strona(/y) 1-6
Wydawca:
IEEE Computer Society Press
Autorzy:
Valentin Tihhomirov, Anton Tsepurov, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar
Opublikowane w:
2013 14th Latin American Test Workshop - LATW, 2013, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-4799-0597-3
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/LATW.2013.6562665
Autorzy:
Niazmand, Behrad; Hariharan, Ranganathan; Govind, Vineeth; Jervan, Gert; Hollstein, Thomas; Raik, Jaan
Opublikowane w:
Baltic Electronic Conference, Laulasmaa, Estonia, 2014, Strona(/y) 1-4
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Syed, Saif Abrar; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan
Opublikowane w:
15th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Karlovy Vary, Czech Republic, April 8-10, 2013, 2013, Strona(/y) 112-115
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Maksim Gorev, Raimund Ubar, Peeter Ellervee, Sergei Devadze, Jaan Raik, Mart Min
Opublikowane w:
2013 NORCHIP, 2013, Strona(/y) 1-6, ISBN 978-1-4799-1647-4
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/NORCHIP.2013.6702000
Autorzy:
Syed, Saif Abrar; Shyam, Kiran A.; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Babu, C.
Opublikowane w:
Proc. of 2nd IEEE International Conference on Advances in Computing, Communications & Informatics, 2013, Strona(/y) 1-6
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Ubar, Raimund; Vargas, Fabian; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Kostin, Serge; Bolzani Poehls, Letícia
Opublikowane w:
Proceedings of the 16th Euromicro Conference on Digital System Design, 2013, Strona(/y) 136–141
Wydawca:
IEEE Computer Society Press
Autorzy:
Ubar, Raimund; Kostin, Sergei; Raik, Jaan
Opublikowane w:
8th Int. Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era - DTIS’13, 2013, Strona(/y) 1-6
Wydawca:
IEEE Computer Society
Autorzy:
Jevgeni Marenkov, Tarmo Robal, Ahto Kalja
Opublikowane w:
Complex Systems Informatics and Modeling Quarterly, Numer 15, 2018, Strona(/y) 90-109, ISSN 2255-9922
Wydawca:
0302-9743
DOI:
10.7250/csimq.2018-15.05
Wyszukiwanie danych OpenAIRE...
Podczas wyszukiwania danych OpenAIRE wystąpił błąd
Brak wyników