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• Project leaflet (2 pages, A4 size) and Powerpoint presentation providing overview of the project • Project poster (A1 size)
Pubblicazioni
Autori:
Gadi Aleksandrowicz, Eli Arbel, Roderick Bloem, Timon D. ter Braak, Sergei Devadze, Goerschwin Fey, Maksim Jenihhin, Artur Jutman, Hans G. Kerkhoff, Robert Könighofer, Shlomit Koyfman, Jan Malburg, Shiri Moran, Jaan Raik, Gerard Rauwerda, Heinz Riener, Franz Röck, Konstantin Shibin, Kim Sunesen, Jinbo Wan, Yong Zhao
Pubblicato in:
Lecture Notes in Electrical Engineering, 2018, Pagina/e 15-38
Editore:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-62920-9_2
Autori:
Jevgeni Marenkov, Tarmo Robal, Ahto Kalja
Pubblicato in:
Databases and Information Systems, Numero 615, 2016, Pagina/e 257-271, ISBN 978-3-319-40179-9
Editore:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-40180-5_18
Autori:
Jevgeni Marenkov, Tarmo Robal, Ahto Kalja
Pubblicato in:
Advances in Databases and Information Systems, Numero 10509, 2017, Pagina/e 394-407, ISBN 978-3-319-66916-8
Editore:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-66917-5_26
Autori:
Yue Zhao, Tarmo Robal, Christoph Lofi, Claudia Hauff
Pubblicato in:
Lifelong Technology-Enhanced Learning - 13th European Conference on Technology Enhanced Learning, EC-TEL 2018, Leeds, UK, September 3-5, 2018, Proceedings, Numero 11082, 2018, Pagina/e 101-115, ISBN 978-3-319-98571-8
Editore:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-98572-5_8
Autori:
Ardo Allik, Kristjan Pilt, Deniss Karai, Ivo Fridolin, Mairo Leier, Gert Jervan
Pubblicato in:
World Congress on Medical Physics and Biomedical Engineering 2018, Numero 68/3, 2019, Pagina/e 13-17, ISBN 978-981-10-9022-6
Editore:
Springer Singapore
DOI:
10.1007/978-981-10-9023-3_3
Autori:
Laura Päeske, Maie Bachmann, Jaan Raik, Hiie Hinrikus
Pubblicato in:
World Congress on Medical Physics and Biomedical Engineering 2018 - June 3-8, 2018, Prague, Czech Republic (Vol.2), Numero 68/2, 2019, Pagina/e 237-240, ISBN 978-981-10-9037-0
Editore:
Springer Singapore
DOI:
10.1007/978-981-10-9038-7_44
Autori:
Jüri Vain, Leonidas Tsiopoulos, Vyacheslav Kharchenko, Apneet Kaur, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Sven Nõmm
Pubblicato in:
Green IT Engineering: Social, Business and Industrial Applications, Numero 171, 2019, Pagina/e 273-297, ISBN 978-3-030-00252-7
Editore:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-030-00253-4_12
Autori:
Raimund Ubar, Lembit Jürimägi, Elmet Orasson, Jaan Raik
Pubblicato in:
VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power, Numero 483, 2016, Pagina/e 23-45, ISBN 978-3-319-46096-3
Editore:
Springer International Publishing
DOI:
10.1007/978-3-319-46097-0_2
Autori:
Marco Gaudesi, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Ernesto Sanchez, Giovanni Squillero, Valentin Tihhomirov, Raimund Ubar
Pubblicato in:
Applications of Evolutionary Computation, 2014, Pagina/e 425-436, ISBN 978-3-662-45523-4
Editore:
Springer Berlin Heidelberg
DOI:
10.1007/978-3-662-45523-4_35
Autori:
Raimund Ubar, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Lembit Jürimägi
Pubblicato in:
Microelectronics Reliability, Numero 81, 2018, Pagina/e 252-261, ISSN 0026-2714
Editore:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.microrel.2017.11.027
Autori:
Raimund Ubar, Lembit Jürimägi, Jaan Raik, Vladimir Viies
Pubblicato in:
Microprocessors and Microsystems, Numero 48, 2017, Pagina/e 56-61, ISSN 0141-9331
Editore:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2016.09.006
Autori:
Konstantin Shibin, Sergei Devadze, Artur Jutman, Martin Grabmann, Robin Pricken
Pubblicato in:
IEEE Design & Test, Numero 34/6, 2017, Pagina/e 27-35, ISSN 2168-2356
Editore:
IEEE Computer Society
DOI:
10.1109/MDAT.2017.2750902
Autori:
Igor Aleksejev, Artur Jutman, Sergei Devadze
Pubblicato in:
IEEE Instrumentation & Measurement Magazine, Numero 20/4, 2017, Pagina/e 23-30, ISSN 1094-6969
Editore:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/MIM.2017.8006390
Autori:
Valery Sklyarov, Iouliia Skliarova, Artjom Rjabov, Alexander Sudnitson
Pubblicato in:
International Journal of Computers Communications & Control, Numero 11/1, 2015, Pagina/e 126, ISSN 1841-9836
Editore:
Agora University
DOI:
10.15837/ijccc.2016.1.1442
Autori:
Valery Sklyarov, Iouliia Skliarova, Alexander Sudnitson
Pubblicato in:
Elektronika ir Elektrotechnika, Numero 22/4, 2016, ISSN 1392-1215
Editore:
Kauno Technologijos Universitetas
DOI:
10.5755/j01.eie.22.4.15920
Autori:
V Sklyarov, I Skliarova, A Rjabov, A Sudnitson
Pubblicato in:
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences, Numero 66/3, 2017, Pagina/e 323, ISSN 1736-6046
Editore:
Estonian Academy Publishers
DOI:
10.3176/proc.2017.3.07
Autori:
Peeter Ellervee, Jari Nurmi
Pubblicato in:
Journal of Signal Processing Systems, Numero 87/3, 2017, Pagina/e 269-270, ISSN 1939-8018
Editore:
Springer Verlag
DOI:
10.1007/s11265-017-1242-x
Autori:
Igor Aleksejev, Sergei Devadze, Artur Jutman, Konstantin Shibin
Pubblicato in:
Journal of Electronic Testing, Numero 32/3, 2016, Pagina/e 245-255, ISSN 0923-8174
Editore:
Kluwer Academic Publishers
DOI:
10.1007/s10836-016-5588-y
Autori:
Syed Mohammad Asad Hassan Jafri, Muhammad Adeel Tajammul, Ahmed Hemani, Kolin Paul, Juha Plosila, Peeter Ellervee, Hannu Tenuhnen
Pubblicato in:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Numero 24/1, 2016, Pagina/e 403-407, ISSN 1063-8210
Editore:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tvlsi.2015.2402392
Autori:
Laura Päeske, Maie Bachmann, Toomas Põld, Sara Pereira Mendes de Oliveira, Jaanus Lass, Jaan Raik, Hiie Hinrikus
Pubblicato in:
Frontiers in Physiology, Numero 9, 2018, ISSN 1664-042X
Editore:
Frontiers Research Foundation
DOI:
10.3389/fphys.2018.01350
Autori:
Maksim Jenihhin, Giovanni Squillero, Thiago Santos Copetti, Valentin Tihhomirov, Sergei Kostin, Marco Gaudesi, Fabian Vargas, Jaan Raik, Matteo Sonza Reorda, Leticia Bolzani Poehls, Raimund Ubar, Guilherme Cardoso Medeiros
Pubblicato in:
Journal of Electronic Testing, Numero 32/3, 2016, Pagina/e 273-289, ISSN 0923-8174
Editore:
Kluwer Academic Publishers
DOI:
10.1007/s10836-016-5589-x
Autori:
Maksim Gorev, Raimund Ubar, Peeter Ellervee, Sergei Devadze, Jaan Raik, Mart Min
Pubblicato in:
Microprocessors and Microsystems, Numero 01419331, 2015, Pagina/e 909-918, ISSN 0141-9331
Editore:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2014.11.002
Autori:
Jaak Kõusaar, Raimund Ubar, Sergei Devadze, Jaan Raik
Pubblicato in:
Microprocessors and Microsystems, Numero 01419331, 2015, Pagina/e 1130-1138, ISSN 0141-9331
Editore:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2015.05.003
Autori:
Maksim Jenihhin, Anton Tsepurov, Valentin Tihhomirov, Jaan Raik, Hanno Hantson, Raimund Ubar, Gunter Bartsch, JorgeHernan Meza Escobar, Heinz-Dietrich Wuttke
Pubblicato in:
IEEE Design & Test, Numero 21682356, 2014, Pagina/e 83-92, ISSN 2168-2356
Editore:
IEEE Computer Society
DOI:
10.1109/MDAT.2013.2271420
Autori:
Jaan Raik, Urmas Repinski, Anton Chepurov, Hanno Hantson, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin
Pubblicato in:
Microprocessors and Microsystems, Numero 01419331, 2013, Pagina/e 505-513, ISSN 0141-9331
Editore:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.micpro.2012.11.004
Autori:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Karl Janson, Thilo Kogge, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Pubblicato in:
2017 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2017, Pagina/e 1-4, ISBN 978-1-4673-6853-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ISCAS.2017.8050634
Autori:
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Siavoosh Payandeh Azad, Jaan Raik
Pubblicato in:
2017 12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2017, Pagina/e 1-8, ISBN 978-1-5386-3344-1
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2017.8016156
Autori:
Tsotne Putkaradze, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Gert Jervan
Pubblicato in:
2017 12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2017, Pagina/e 1-8, ISBN 978-1-5386-3344-1
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2017.8016161
Autori:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Apneet Kaur Sandhu, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Pubblicato in:
2017 22nd IEEE European Test Symposium (ETS), 2017, Pagina/e 1-2, ISBN 978-1-5090-5457-2
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ETS.2017.7968211
Autori:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Karl Janson, Nevin George, Adeboye Stephen Oyeniran, Tsotne Putkaradze, Apneet Kaur, Jaan Raik, Gert Jervan, Raimund Ubar, Thomas Hollstein
Pubblicato in:
2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2017, Pagina/e 48-53, ISBN 978-1-5386-0472-4
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/DDECS.2017.7934565
Autori:
Raimund Ubar, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
Pubblicato in:
2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2017, Pagina/e 152-157, ISBN 978-1-5386-0472-4
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/DDECS.2017.7934568
Autori:
Sergei Odintsov, Artur Jutman, Sergei Devadze
Pubblicato in:
2017 IEEE International Test Conference (ITC), 2017, Pagina/e 1-10, ISBN 978-1-5386-3413-4
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/TEST.2017.8242070
Autori:
Sergei Odintsov, Artur Jutman, Sergei Devadze, Igor Aleksejev
Pubblicato in:
2017 IEEE AUTOTESTCON, 2017, Pagina/e 1-9, ISBN 978-1-5090-4922-6
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/AUTEST.2017.8080516
Autori:
Juri Vain, Apneet Kaur, Leonidas Tsiopoulos, Jaan Raik, Maksim Jenihhin
Pubblicato in:
2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5386-7312-6
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2018.8600986
Autori:
Behrad Niazmand, Siavoosh Payandeh Azad, Tara Ghasempouri, Jaan Raik, Gert Jervan
Pubblicato in:
2018 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2018, Pagina/e 139-144, ISBN 978-1-5386-5180-3
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/itc-asia.2018.00034
Autori:
Emmanuel Ovie Osimiry, Raimund Ubar, Sergei Kostin, Jaan Raik
Pubblicato in:
2016 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS), 2016, Pagina/e 1-4, ISBN 978-1-5090-1095-0
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/norchip.2016.7792915
Autori:
Anton Tsertov, Artur Jutman, Sergei Devadze, Matteo Sonza Reorda, Erik Larsson, Farrokh Ghani Zadegan, Riccardo Cantoro, Mehrdad Montazeri, Rene Krenz-Baath
Pubblicato in:
2016 IEEE International Test Conference (ITC), 2016, Pagina/e 1-10, ISBN 978-1-4673-8773-6
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/test.2016.7805840
Autori:
Anton Karputkin, Jaan Raik
Pubblicato in:
Proceedings of the 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2016, Pagina/e 1124-1127, ISBN 978-3-9815370-7-9
Editore:
Research Publishing Services
DOI:
10.3850/9783981537079_0260
Autori:
Emmanuel Ovie Osimiry, Sergei Kostin, Jaan Raik, Raimund Ubar
Pubblicato in:
2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2016, Pagina/e 79-82, ISBN 978-1-5090-1393-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2016.7743733
Autori:
S. Kostin, E. Orasson, R. Ubar
Pubblicato in:
2016 11th European Workshop on Microelectronics Education (EWME), 2016, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-4673-8584-8
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ewme.2016.7496466
Autori:
Ardo Allik, Kristjan Pilt, Deniss Karai, Ivo Fridolin, Mairo Leier, Gert Jervan
Pubblicato in:
2016 IEEE EMBS Conference on Biomedical Engineering and Sciences (IECBES), 2016, Pagina/e 460-464, ISBN 978-1-4673-7791-1
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/iecbes.2016.7843493
Autori:
Ahto Kalja, Tarmo Robal, Triin Gailan
Pubblicato in:
2017 Portland International Conference on Management of Engineering and Technology (PICMET), 2017, Pagina/e 1-7, ISBN 978-1-890843-36-6
Editore:
IEEE
DOI:
10.23919/picmet.2017.8125312
Autori:
Tara Ghasempouri, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Jaan Raik
Pubblicato in:
2018 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2018, Pagina/e 61-66, ISBN 978-1-5386-5180-3
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/itc-asia.2018.00021
Autori:
Karl Janson, Rene Pihlak, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Gert Jervan, Jaan Raik
Pubblicato in:
2018 13th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2018, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5386-7957-9
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/recosoc.2018.8449374
Autori:
Yu. Gordienko, S. Stirenko, O. Alienin, K. Skala, Z. Sojat, A. Rojbi, J.R. Lopez Benito, E. Artetxe Gonzalez, U. Lushchyk, L. Sajn, A. Llorente Coto, G. Jervan
Pubblicato in:
2017 40th International Convention on Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics (MIPRO), 2017, Pagina/e 359-364, ISBN 978-953-233-090-8
Editore:
IEEE
DOI:
10.23919/mipro.2017.7973449
Autori:
Adeboye Stephen Oyeniran, Siavoosh Payandeh Azad, Raimund Ubar
Pubblicato in:
2018 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR), 2018, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5386-2205-6
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/aqtr.2018.8402708
Autori:
Priit Ruberg, Keijo Lass, Peeter Ellervee
Pubblicato in:
2016 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS), 2016, Pagina/e 1-5, ISBN 978-1-5090-1095-0
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/norchip.2016.7792916
Autori:
Priit Ruberg, Keijo Lass, Peeter Ellervee
Pubblicato in:
2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2016, Pagina/e 123-126, ISBN 978-1-5090-1393-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2016.7743744
Autori:
Priit Ruberg, Keijo Lass, Elvar Liiv, Peeter Ellervee
Pubblicato in:
2017 5th IEEE Workshop on Advances in Information, Electronic and Electrical Engineering (AIEEE), 2017, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5386-4137-8
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/aieee.2017.8270530
Autori:
Jaak Kousaar, Raimund Ubar, Sergei Kostin, Sergei Devadze, Jaan Raik
Pubblicato in:
"2018 25th International Conference ""Mixed Design of Integrated Circuits and System"" (MIXDES)", 2018, Pagina/e 305-310, ISBN 978-83-63578-14-5
Editore:
IEEE
DOI:
10.23919/mixdes.2018.8436880
Autori:
Tarmo Robal
Pubblicato in:
2018 28th EAEEIE Annual Conference (EAEEIE), 2018, Pagina/e 1-9, ISBN 978-1-5386-7711-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/eaeeie.2018.8534256
Autori:
Mairo Leier, Gert Jervan, Ardo Allik, Kristjan Pilt, Deniss Karai, Ivo Fridolin
Pubblicato in:
2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Pagina/e 1-4, ISBN 978-1-5386-7312-6
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2018.8600959
Autori:
Lembit Jurimagi, Raimund Ubar
Pubblicato in:
2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Pagina/e 1-4, ISBN 978-1-5386-7312-6
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2018.8600967
Autori:
Thiago Copetti, Guilherme Medeiros, Leticia Bolzani Poehls, Fabian Vargas, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar
Pubblicato in:
2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), 2016, Pagina/e 75-80, ISBN 978-1-5090-1331-9
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/latw.2016.7483343
Autori:
Jevgeni Marenkov, Tarmo Robal, Ahto Kalja
Pubblicato in:
Proceedings of the 8th International Conference on Web Intelligence, Mining and Semantics - WIMS '18, 2018, Pagina/e 1-9, ISBN 9781-450354899
Editore:
ACM Press
DOI:
10.1145/3227609.3227667
Autori:
Karl Janson, Rene Pihlak, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Gert Jervan, Jaan Raik
Pubblicato in:
2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Pagina/e 1-4, ISBN 978-1-5386-7312-6
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2018.8600989
Autori:
Sai Kumar Dwivedi, Siavoosh Payandeh Azad, Peeter Ellervee, Ratnakar Dash
Pubblicato in:
2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2016, Pagina/e 63-66, ISBN 978-1-5090-1393-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2016.7743729
Autori:
Artjom Rjabov
Pubblicato in:
2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2016, Pagina/e 59-62, ISBN 978-1-5090-1393-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/bec.2016.7743728
Autori:
Madis Kerner, Kalle Tammemae
Pubblicato in:
2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2017, Pagina/e 92-95, ISBN 978-1-5386-0472-4
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs.2017.7934577
Autori:
Lembit Jurimagi, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Sergei Devadze, Sergei Kostin
Pubblicato in:
2018 28th International Symposium on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS), 2018, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5386-6365-3
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/patmos.2018.8464176
Autori:
Artjom Jasnetski, Stephen Adeboye Oyeniran, Anton Tsertov, Mario Scholzel, Raimund Ubar
Pubblicato in:
2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2016, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5090-2467-4
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ddecs.2016.7482445
Autori:
Adeboye Stephen Oyeniran, Artjom Jasnetski, Anton Tsertov, Raimund Ubar
Pubblicato in:
2017 6th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO), 2017, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5090-6742-8
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/meco.2017.7977167
Autori:
Anton Tsertov, Artur Jutman, Konstantin Shibin, Sergei Devadze
Pubblicato in:
2018 IEEE AUTOTESTCON, 2018, Pagina/e 1-9, ISBN 978-1-5386-5223-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/autest.2018.8532559
Autori:
Sergei Odintsov
Pubblicato in:
2018 IEEE AUTOTESTCON, 2018, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5386-5223-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/autest.2018.8532547
Autori:
Johanna Sepulveda, Cezar Reinbrecht, Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Gert Jervan
Pubblicato in:
Proceedings of the 18th International Conference on Embedded Computer Systems Architectures, Modeling, and Simulation - SAMOS '18, 2018, Pagina/e 162-166, ISBN 9781-450364942
Editore:
ACM Press
DOI:
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Autori:
Tarmo Robal, Yue Zhao, Christoph Lofi, Claudia Hauff
Pubblicato in:
Proceedings of the 29th on Hypertext and Social Media - HT '18, 2018, Pagina/e 106-114, ISBN 9781-450354271
Editore:
ACM Press
DOI:
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Autori:
Artjom Rjabov, Alexander Sudnitson, Valery Sklyarov, Iouliia Skliarova
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IEEE
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Autori:
Behrad Niazmand, Siavoosh Payandeh Azad, Jose Flich, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
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2016 Tenth IEEE/ACM International Symposium on Networks-on-Chip (NOCS), 2016, Pagina/e 1-8, ISBN 978-1-4673-9030-9
Editore:
IEEE
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10.1109/nocs.2016.7579317
Autori:
Raimund Ubar, Adeboye Stephen Oyeniran, Olusiji Medaiyese
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2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, Pagina/e 1-4, ISBN 978-1-5386-7312-6
Editore:
IEEE
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10.1109/bec.2018.8600980
Autori:
Tarmo Robal, Ahto Kalja
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2016 Portland International Conference on Management of Engineering and Technology (PICMET), 2016, Pagina/e 1942-1952
Editore:
IEEE
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10.1109/picmet.2016.7806759
Autori:
Raimund Ubar, Stephen Adeboye Oyeniran
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2016 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR), 2016, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-4673-8692-0
Editore:
IEEE
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10.1109/aqtr.2016.7501287
Autori:
Artjom Jasnetski, Raimund Ubar, Anton Tsertov
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2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), 2016, Pagina/e 177-177, ISBN 978-1-5090-1331-9
Editore:
IEEE
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10.1109/latw.2016.7483357
Autori:
Artur Jutman, Igor Aleksejev, Sergei Devadze
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2016 21th IEEE European Test Symposium (ETS), 2016, Pagina/e 1-2, ISBN 978-1-4673-9659-2
Editore:
IEEE
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10.1109/ets.2016.7519295
Autori:
Konstantin Shibin, Sergei Devadze, Artur Jutman
Pubblicato in:
2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), 2016, Pagina/e 69-74, ISBN 978-1-5090-1331-9
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/latw.2016.7483342
Autori:
Tarmo Robal, Jevgeni Marenkov, Ahto Kalja
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2017 Portland International Conference on Management of Engineering and Technology (PICMET), 2017, Pagina/e 1-8, ISBN 978-1-890843-36-6
Editore:
IEEE
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10.23919/picmet.2017.8125425
Autori:
Adeboye Stephen Oyeniran, Siavoosh Payandeh Azad, Raimund Ubar
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2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2018, Pagina/e 1-5, ISBN 978-1-5386-4881-0
Editore:
IEEE
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10.1109/iscas.2018.8350936
Autori:
Priit Ruberg, Keijo Lass, Elvar Liiv, Peeter Ellervee
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IEEE
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Autori:
Uljana Reinsalu, Siavoosh Payandeh Azad, Mairo Leier, Kalle Tammemae, Thomas Hollstein
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2016 11th European Workshop on Microelectronics Education (EWME), 2016, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-4673-8584-8
Editore:
IEEE
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Autori:
Serhiy Avramenko, Siavoosh Payandeh Azad, Stefano Esposito, Behrad Niazmand, Massimo Violante, Jaan Raik, Maksim Jenihhin
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IEEE
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Artjom Rjabov, Valery Sklyarov, Iouliia Skliarova, Alexander Sudnitson
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Iouliia Skliarova, Valery Sklyarov, Alexander Sudnitson, Margus Kruus
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Autori:
Artur Jutman, Konstantin Shibin, Sergei Devadze
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Siavoosh Payandeh Azad, Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar
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2018 IEEE 21st International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2018, Pagina/e 21-26, ISBN 978-1-5386-5754-6
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Raimund Ubar, Lembit Jurimagi, Elmet Orasson, Jaan Raik
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Editore:
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Autori:
Siavoosh Payandeh Azad, Behrad Niazmand, Peeter Ellervee, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
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IEEE
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Autori:
Karl Janson, Carl Johann Treudler, Thomas Hollstein, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Goerschwin Fey
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2018 IEEE 21st International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2018, Pagina/e 147-152, ISBN 978-1-5386-5754-6
Editore:
IEEE
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10.1109/ddecs.2018.00033
Autori:
C. Sgouropoulou, I. Voyiatzis, A. Koutoumanos, S. Hamdioui, P. Pouyan, M. Comte, P. Prinetto, G. Airo Farulla, P. Ellervee, C. Delgado Kloos, R. Crespo Garcia
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2017 IEEE Global Engineering Education Conference (EDUCON), 2017, Pagina/e 1619-1621, ISBN 978-1-5090-5467-1
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Autori:
Yue Zhao, Tarmo Robal, Christoph Lofi, Claudia Hauff
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Editore:
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10.1145/3213586.3225241
Autori:
Raimund Ubar, Lembit Jurimagi, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Niyi-Leigh Olugbenga, Vladimir Viies
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2018 7th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO), 2018, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-5386-5683-9
Editore:
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10.1109/meco.2018.8406051
Autori:
Muhammad Adeel Tajammul, Syed M. A. H. Jafri, Ahmed Hemani, Peter Ellervee
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2016 26th International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS), 2016, Pagina/e 92-99, ISBN 978-1-5090-0733-2
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Autori:
Tarmo Robal, Yue Zhao, Christoph Lofi, Claudia Hauff
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Proceedings of the 2018 Conference on Human Information Interaction&Retrieval - IUI '18, 2018, Pagina/e 189-197, ISBN 9781-450349451
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ACM Press
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10.1145/3172944.3172987
Autori:
Maksim Jenihhin, Alexander Kamkin, Zainalabedin Navabi, Somayeh Sadeghi-Kohan
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2016 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS), 2016, Pagina/e 1-5, ISBN 978-1-5090-0693-9
Editore:
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Autori:
Marenkov, Jevgeni; Robal, Tarmo; Kalja, Ahto
Pubblicato in:
2016
Editore:
IOS Press
DOI:
10.3233/978-1-61499-714-6-283
Autori:
Artjom Jasnetski, Raimund Ubar, Anton Tsertov
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"2017 MIXDES - 24th International Conference ""Mixed Design of Integrated Circuits and Systems", 2017, Pagina/e 453-458, ISBN 978-83-63578-12-1
Editore:
IEEE
DOI:
10.23919/mixdes.2017.8005252
Autori:
Allik, A.; Mägi, S.; Pilt, K.; Karai, D.; Fridolin I.; Leier, M.; Jervan, G.
Pubblicato in:
2017
Editore:
Springer
Autori:
Põld, Janari; Kalja, Ahto; Robal, Tarmo
Pubblicato in:
2017
Editore:
IOS Press
DOI:
10.3233/978-1-61499-720-7-13
Autori:
Artur Jutman, Christophe Lotz, Erik Larsson, Matteo Sonza Reorda, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Hans Kerkhoff, Rene Krenz-Baath, Piet Engelke
Pubblicato in:
Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017, 2017, Pagina/e 115-120, ISBN 978-3-9815370-8-6
Editore:
IEEE
DOI:
10.23919/DATE.2017.7926968
Autori:
Francesco Pellerey, Maksim Jenihhin, Giovanni Squillero, Jaan Raik, Matteo Sonza Reorda, Valentin Tihhomirov, Raimund Ubar
Pubblicato in:
2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), 2016, Pagina/e 304-309, ISBN 978-1-5090-3809-1
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ATS.2016.57
Autori:
Gadi Aleksandrowicz, Eli Arbel, Roderick Bloem, Timon Ter Braak, Sergei Devadze, Goerschwin Fey, Maksim Jenihhin, Artur Jutman, Hans G. Kerkhoff, Robert Konighofer, Jan Malburg, Shiri Moran, Jaan Raik, Gerard Rauwerda, Heinz Riener, Franz Rock, Konstantin Shibin, Kim Sunesen, Jinbo Wan, Yong Zhao
Pubblicato in:
2016 Forum on Specification and Design Languages (FDL), 2016, Pagina/e 1-8, ISBN 979-10-92279-17-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/FDL.2016.7880382
Autori:
D. Appello, P. Bernardi, G. Giacopelli, A. Motta, A. Pagani, G. Pollaccia, C. Rabbi, M. Restifo, P. Ruberg, E. Sanchez, C.M. Villa, F. Venini
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Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017, 2017, Pagina/e 646-649, ISBN 978-3-9815370-8-6
Editore:
IEEE
DOI:
10.23919/DATE.2017.7927068
Autori:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Ranganathan Hariharan, Jaan Raik, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Pubblicato in:
2015 10th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC), 2015, Pagina/e 1-8, ISBN 978-1-4673-7942-7
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/ReCoSoC.2015.7238079
Autori:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Ranganathan Hariharan, Gert Jervan, Thomas Hollstein
Pubblicato in:
2015 Euromicro Conference on Digital System Design, 2015, Pagina/e 288-292, ISBN 978-1-4673-8035-5
Editore:
IEEE
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Autori:
Syed, Saif Abrar; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan.
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International Conference on Advances in Computing, Communications and Informatics (ICACCI), Kochi, India, August 10-13, 2015, 2015, Pagina/e 1-6
Editore:
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Autori:
Pietro Saltarelli, Behrad Niazmand, Jaan Raik, Vineeth Govind, Thomas Hollstein, Gert Jervan, Ranganathan Hariharan
Pubblicato in:
Proceedings of the 9th International Symposium on Networks-on-Chip - NOCS '15, 2015, Pagina/e 1-8, ISBN 9781450333962
Editore:
ACM Press
DOI:
10.1145/2786572.2788713
Autori:
Palermo, N.; Tihhomirov, V.; Copetti, T.S.; Jenihhin, M.; Raik, J.; Kostin, S.; Gaudesi, M.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Vargas, F.; Bolzani Poehls, L.
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IEEE Computer Society Press
Autori:
Ubar, Raimund; Jürimägi, Lembit; Orasson, Elmet; Raik, Jaan
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IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration - VLSI-SoC'2015, 2015, Pagina/e 1-6
Editore:
IEEE Computer Society Press
Autori:
Jasnetski, Artjom; Raik, Jaan; Tsertov, Anton; Ubar, Raimund
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IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - DDECS, 2015, Pagina/e 1-6
Editore:
IEEE Computer Society Press
Autori:
Kostin, Sergei; Raik, Jaan; Ubar, Raimund; Jenihhin, Maksim; Copetti, Thiago; Vargas, Fabian; Bolzani Poehls, Leticia
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Editore:
IEEE Computer Society Press
Autori:
Syed, Saif Abrar; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan
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IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems 2015, Belgrade, Serbia, 2015, Pagina/e 1-4
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IEEE Computer Society Press
Autori:
Vierhaus, Heinrich; Raik, Jaan; Ubar, Raimund
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Editore:
IEEE Computer Society
Autori:
Syed Saif Abrar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
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Editore:
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Autori:
Kõusaar, J.; Ubar, R.; Devadze, S.; Raik, J.
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17th Euromicro Conference on Digital System Design, Verona, Italy, August 27-29, 2014, 2014
Editore:
IEEE Computer Society
Autori:
Gaudesi, Marco; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Sanchez, Ernesto; Squillero, Giovanni; Tihomirov, Valentin; Ubar, Raimund
Pubblicato in:
Genetic and Evolutionary Computation Conference, Vancouver, BC, Canada, July 12-16, 2014, 2014, Pagina/e 1-6
Editore:
IEEE Computer Society Press
Autori:
Valentin Tihhomirov, Anton Tsepurov, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar
Pubblicato in:
2013 14th Latin American Test Workshop - LATW, 2013, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-4799-0597-3
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/LATW.2013.6562665
Autori:
Niazmand, Behrad; Hariharan, Ranganathan; Govind, Vineeth; Jervan, Gert; Hollstein, Thomas; Raik, Jaan
Pubblicato in:
Baltic Electronic Conference, Laulasmaa, Estonia, 2014, Pagina/e 1-4
Editore:
IEEE
Autori:
Syed, Saif Abrar; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan
Pubblicato in:
15th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Karlovy Vary, Czech Republic, April 8-10, 2013, 2013, Pagina/e 112-115
Editore:
IEEE
Autori:
Maksim Gorev, Raimund Ubar, Peeter Ellervee, Sergei Devadze, Jaan Raik, Mart Min
Pubblicato in:
2013 NORCHIP, 2013, Pagina/e 1-6, ISBN 978-1-4799-1647-4
Editore:
IEEE
DOI:
10.1109/NORCHIP.2013.6702000
Autori:
Syed, Saif Abrar; Shyam, Kiran A.; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Babu, C.
Pubblicato in:
Proc. of 2nd IEEE International Conference on Advances in Computing, Communications & Informatics, 2013, Pagina/e 1-6
Editore:
IEEE
Autori:
Ubar, Raimund; Vargas, Fabian; Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Kostin, Serge; Bolzani Poehls, Letícia
Pubblicato in:
Proceedings of the 16th Euromicro Conference on Digital System Design, 2013, Pagina/e 136–141
Editore:
IEEE Computer Society Press
Autori:
Ubar, Raimund; Kostin, Sergei; Raik, Jaan
Pubblicato in:
8th Int. Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era - DTIS’13, 2013, Pagina/e 1-6
Editore:
IEEE Computer Society
Autori:
Jevgeni Marenkov, Tarmo Robal, Ahto Kalja
Pubblicato in:
Complex Systems Informatics and Modeling Quarterly, Numero 15, 2018, Pagina/e 90-109, ISSN 2255-9922
Editore:
0302-9743
DOI:
10.7250/csimq.2018-15.05
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