CORDIS - Wyniki badań wspieranych przez UE
CORDIS

Microscopy - Making optimal use of photons and electrons

Publikacje

Optical Near-Field Electron Microscopy

Autorzy: Raphaël Marchand; Radek Šachl; Martin Kalbac; Martin Hof; Rudolf M. Tromp; Rudolf M. Tromp; Mariana Amaro; Sense Jan van der Molen; Thomas Juffmann
Opublikowane w: Physical Review Applied, 16(1), Numer 23317019, 2021, ISSN 2331-7019
Wydawca: American Physical Society.
DOI: 10.1103/physrevapplied.16.014008

Fundamental Bounds on the Precision of Classical Phase Microscopes

Autorzy: Dorian Bouchet, Jonathan Dong, Dante Maestre, Thomas Juffmann
Opublikowane w: Physical Review Applied, Numer 15/2, 2021, ISSN 2331-7019
Wydawca: APS
DOI: 10.1103/physrevapplied.15.024047

Programmable linear quantum networks with a multimode fibre

Autorzy: Saroch Leedumrongwatthanakun, Luca Innocenti, Hugo Defienne, Thomas Juffmann, Alessandro Ferraro, Mauro Paternostro, Sylvain Gigan
Opublikowane w: Nature Photonics, Numer 14/3, 2020, Strona(/y) 139-142, ISSN 1749-4885
Wydawca: Nature Pub. Group
DOI: 10.1038/s41566-019-0553-9

Fundamental bounds on the precision of iSCAT, COBRI and dark-field microscopy for 3D localization and mass photometry

Autorzy: Jonathan Dong, Dante Maestre, Clara Conrad-Billroth and Thomas Juffmann
Opublikowane w: Journal of Physics D: Applied Physics, Numer 54, 2021, Strona(/y) 394002, ISSN 0022-3727
Wydawca: Institute of Physics Publishing
DOI: 10.1088/1361-6463/ac0f22

SEEC: Photography at the speed of light

Autorzy: Enar de Dios Rodríguez, Brannon B. Klopfer, Philipp Haslinger, Thomas Juffmann
Opublikowane w: Leonardo, 2020, Strona(/y) 1-7, ISSN 0024-094X
Wydawca: MIT Press
DOI: 10.1162/leon_a_01940

Transverse Electron-Beam Shaping with Light

Autorzy: Marius Constantin Chirita Mihaila; Philipp Weber; Matthias Schneller; Lucas Grandits; Stefan Nimmrichter; Thomas Juffmann
Opublikowane w: Crossref, Numer 21603308, 2022, ISSN 2160-3308
Wydawca: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevx.12.031043

Electron optics for a multi-pass transmission electron microscope

Autorzy: Marian Mankos, Stewart A. Koppell, Brannon B. Klopfer, Thomas Juffmann, Vladimir Kolarik, Khashayar Shadman, Mark Kasevich
Opublikowane w: Advances in Imaging and Electron Physics Including Proceedings CPO-10, Numer 212, 2019, Strona(/y) 71-86, ISBN 9780128174753
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/bs.aiep.2019.08.003

Wyszukiwanie danych OpenAIRE...

Podczas wyszukiwania danych OpenAIRE wystąpił błąd

Brak wyników