Leistungen
Initial benchmarking towards evolving wideband communication and sensing
Final report on electrical parameter, interface dielectric trap and RF (S parameter and NF) characterization of devices operated at cryogenic condition
Final report on electrical parameter interface dielectric trap and RF S parameter and NF characterization of devices operated at cryogenic condition
Report on first version of device compact models for LF and RF circuit simulationFirst report on interface dielectric trap and RF (S parameter and NF) characterization of devices operated at cryogenic condition
Web site launch
Report on extremely low temperature (20mK-4K) device characterization
Report on extremely low temperature 20mK4K device characterization
Road map for integrated and improved quantum computer electronicsReport on device compact modelling for LF and RF circuit simulation
Report on self heating device characterization by thermal and electrical techniques
Review of key building blocks for cryogenic logic and space, 40-70 K, as well as wideband communication, RT
First report on electrical characterization and parameter extraction of devices operated at cryogenic condition
External Communication Plan
Dissemination Plan
Final Dissemination Plan
Initial report on circuit design with layouts and simulated performance
Veröffentlichungen
Autoren:
G. Ghibaudo, M. Aouad, M. Casse, T. Poiroux, C. Theodorou
Veröffentlicht in:
Solid-State Electronics, Ausgabe 176, 2021, Seite(n) 107949, ISSN 0038-1101
Herausgeber:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2020.107949
Autoren:
Bruna Cardoso Paz, Mikael Casse, Christoforos Theodorou, Gerard Ghibaudo, Thorsten Kammler, Luca Pirro, Maud Vinet, Silvano de Franceschi, Tristan Meunier, Fred Gaillard
Veröffentlicht in:
IEEE Transactions on Electron Devices, Ausgabe 67/11, 2020, Seite(n) 4563-4567, ISSN 0018-9383
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2020.3021999
Autoren:
Fabian Thome, Arnulf Leuther
Veröffentlicht in:
IEEE Journal of Solid-State Circuits, 2021, Seite(n) 1-1, ISSN 0018-9200
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/jssc.2021.3052952
Autoren:
Patrik Olausson, Lasse Södergren, Mattias Borg, Erik Lind
Veröffentlicht in:
physica status solidi (a), Ausgabe 218/7, 2021, Seite(n) 2000720, ISSN 1862-6300
Herausgeber:
Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co.
DOI:
10.1002/pssa.202000720
Autoren:
Abinaya Krishnaraja, Johannes Svensson, Elvedin Memisevic, Zhongyunshen Zhu, Axel R. Persson, Erik Lind, Lars Reine Wallenberg, Lars-Erik Wernersson
Veröffentlicht in:
ACS Applied Electronic Materials, Ausgabe 2/9, 2020, Seite(n) 2882-2887, ISSN 2637-6113
Herausgeber:
ACS
DOI:
10.1021/acsaelm.0c00521
Autoren:
Mikaël Cassé, Bruna Cardoso Paz, Gérard Ghibaudo, Thierry Poiroux, Emmanuel Vincent, Philippe Galy, André Juge, Fred Gaillard, Silvano de Franceschi, Tristan Meunier, Maud Vinet
Veröffentlicht in:
Applied Physics Letters, Ausgabe 116/24, 2020, Seite(n) 243502, ISSN 0003-6951
Herausgeber:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/5.0007100
Autoren:
Christian Marty, Clarissa Convertino, Cezar Zota
Veröffentlicht in:
Semiconductor Science and Technology, Ausgabe 35/11, 2020, Seite(n) 115027, ISSN 0268-1242
Herausgeber:
Institute of Physics Publishing
DOI:
10.1088/1361-6641/abb841
Autoren:
Enrico Caruso, Jun Lin, Scott Monaghan, Karim Cherkaoui, Farzan Gity, Pierpaolo Palestri, David Esseni, Luca Selmi, Paul K. Hurley
Veröffentlicht in:
IEEE Transactions on Electron Devices, Ausgabe 67/10, 2020, Seite(n) 4372-4378, ISSN 0018-9383
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2020.3018095
Autoren:
Clarissa Convertino, Cezar B. Zota, Heinz Schmid, Daniele Caimi, Lukas Czornomaz, Adrian M. Ionescu, Kirsten E. Moselund
Veröffentlicht in:
Nature Electronics, Ausgabe 4/2, 2021, Seite(n) 162-170, ISSN 2520-1131
Herausgeber:
Nature
DOI:
10.1038/s41928-020-00531-3
Autoren:
Fabian Thome, Felix Heinz, Arnulf Leuther
Veröffentlicht in:
IEEE Microwave and Wireless Components Letters, Ausgabe 30/11, 2020, Seite(n) 1089-1092, ISSN 1531-1309
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/lmwc.2020.3025674
Autoren:
D. Caimi, H. Schmid, T. Morf, P. Mueller, M. Sousa, K.E. Moselund, C.B. Zota
Veröffentlicht in:
Solid-State Electronics, Ausgabe 185, 2021, Seite(n) 108077, ISSN 0038-1101
Herausgeber:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2021.108077
Autoren:
Daniele Caimi, Marilyne Sousa, Siegfried Karg and Cezar B. Zota
Veröffentlicht in:
Japanese Journal of Applied Physics, Ausgabe 60/SB, 2021, Seite(n) SB0801, ISSN 0021-4922
Herausgeber:
IOP Science
DOI:
10.35848/1347-4065/abd707
Autoren:
Arnout Beckers, Dominique Beckers, Farzan Jazaeri, Bertrand Parvais, Christian Enz
Veröffentlicht in:
Journal of Applied Physics, Ausgabe 129/4, 2021, Seite(n) 045701, ISSN 0021-8979
Herausgeber:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/5.0037432
Autoren:
Lasse Södergren, Navya Sri Garigapati, Mattias Borg, Erik Lind
Veröffentlicht in:
Applied Physics Letters, Ausgabe 117/1, 2020, Seite(n) 013102, ISSN 0003-6951
Herausgeber:
American Institute of Physics
DOI:
10.1063/5.0006530
Autoren:
Daniele Caimi, Preksha Tiwari, Marilyne Sousa, Kirsten E. Moselund, Cezar B. Zota
Veröffentlicht in:
IEEE Transactions on Electron Devices, 2021, Seite(n) 1-8, ISSN 0018-9383
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2021.3067273
Autoren:
Stefan Andric, Lars Ohlsson Fhager, Lars-Erik Wernersson
Veröffentlicht in:
IEEE Transactions on Nanotechnology, Ausgabe 20, 2021, Seite(n) 434-440, ISSN 1536-125X
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tnano.2021.3080621
Autoren:
M. Casse, B. Cardoso Paz, G. Ghibaudo, T. Poiroux, S. Barraud, M. Vinet, S. de Franceschi, T. Meunier, F. Gaillard
Veröffentlicht in:
IEEE Transactions on Electron Devices, Ausgabe 67/11, 2020, Seite(n) 4636-4640, ISSN 0018-9383
Herausgeber:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2020.3022607
Autoren:
Stefan Andrić, Lars Ohlsson-Fhager, Lars-Erik Wernersson
Veröffentlicht in:
Ausgabe 10-15 Jan. 2021, 2020
Herausgeber:
IEEE
Autoren:
M. Aouad, S. Martinie, F. Triozon, T. Poiroux, M. Vinet, G. Ghibaudo
Veröffentlicht in:
2020 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2020, Seite(n) 1-4, ISBN 978-1-7281-8765-5
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/eurosoi-ulis49407.2020.9365297
Autoren:
Abinaya Krishnaraja, Johannes Svensson, Lars-Erik Wernersson
Veröffentlicht in:
2020 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), 2020, Seite(n) 17-18, ISBN 978-1-7281-9735-7
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/snw50361.2020.9131656
Autoren:
Lars-Erik Wernersson
Veröffentlicht in:
2020 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS), 2020, Seite(n) 1-4, ISBN 978-1-7281-9749-4
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/bcicts48439.2020.9392932
Autoren:
Christian Enz, Arnout Beckers, Farzan Jazaeri
Veröffentlicht in:
2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, Seite(n) 25.3.1-25.3.4, ISBN 978-1-7281-8888-1
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm13553.2020.9371894
Autoren:
C. Convertino, L. Vergano, L. Czornomaz, C. B. Zota, S. Karg
Veröffentlicht in:
2020 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2020, Seite(n) 1-4, ISBN 978-1-7281-8765-5
Herausgeber:
IEEE
DOI:
10.1109/eurosoi-ulis49407.2020.9365288
Autoren:
Mikaël Cassé, Gérard Ghibaudo
Veröffentlicht in:
Low-Temperature Technologies [Working Title], 2021
Herausgeber:
IntechOpen
DOI:
10.5772/intechopen.98403
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