Analiza nanostruktur na dużą skalę
Czujniki zbliżeniowe to sondy zdolne do wykrywania obecności pobliskich obiektów bez dotykania ich. Mikroskopy ze zbliżeniową sondą skanującą (SPP), a wśród nich mikroskopy sił atomowych (AFM), mierzą lokalne właściwości, takie jak wysokość czy absorpcja optyczna za pomocą końcówki sondy znajdującej się w bliskiej odległości od próbki. Sama sonda ma formę dźwigni, bardzo cienkiej struktury przypominającej igłę. Po przemieszczeniu jej nad powierzchnią próbki SPP umożliwia molekularną charakteryzację oraz manipulowanie, co ma szczególne znaczenie dla nanotechnologii. Dotychczas nanonarzędzia SPP składały się z zaledwie kilku sond o ograniczonym odczycie i wolnym tempie przetwarzania, wykorzystywanych przede wszystkim do badań. Opracowanie masowych równoległych szeregów sond oraz zastosowanie inteligentnych materiałów mogłoby znacznie zwiększyć szybkość, rozdzielczość powierzchni i kontrolę manipulatora, prowadząc do rozwoju kompletnie nowej klasy nanonarzędzi dla przemysłu. Europejscy naukowcy starali się wyprodukować równoległe szeregi czujników dźwigniowych z zastosowaniem materiałów piezorezystywnych (PR). Materiały PR to jedna z wielu klas materiałów inteligentnych. Reagują one na obciążenia mechaniczne zmianami oporności na przepływ prądu elektrycznego. W ramach finansowanego ze środków UE projektu "Narzędzia i technologie do analizy i syntezy nanostruktur" (Tasnano) naukowcy starali się wbudować technologię PR w ogólny nanoelektromechaniczny system modułów równoległych (PM-NEMS), który mógłby posłużyć do wytworzenia pakietów układów NEMS (AS-NEMS) do specyficznych zastosowań. Koncepcja Tasnano powinna umożliwić funkcjonalną i dostosowaną do potrzeb analizę na skalę przemysłową, kontrolę i manipulację nanostruktur. Mogą one mieć wpływ na szybką analizę danych, syntezę nowych produktów oraz całe mnóstwo nieodkrytych jeszcze zastosowań, pobudzając szybki rozwój procesów nanotechnologicznych i ich komercyjne wykorzystanie.
