Opis projektu
Innowacyjne prognozy niezawodności systemów elektronicznych
Niezawodność systemów elektronicznych i przewidywanie ich awarii z dużym stopniem dokładności ma kluczowe znaczenie dla zapewnienia wydajnej pracy urządzeń. Finansowany ze środków UE projekt ABSREF zamierza znaleźć rozwiązanie tego problemu. W ramach projektu badacze zamierzają zaproponować innowacyjne symulacje uwzględniające starzenie się oraz obciążenie, które będą charakteryzowały się akceptowalnym czasem wykonania. Te ogólne ramy umożliwią optymalizację systemu pod kątem występowania wielu zjawisk związanych ze starzeniem się, w tym ujemnych i dodatnich niestabilności temperatury polaryzacji (zjawiska nazywane NBTI oraz PBTI) oraz degradacji spowodowanej zjawiskiem HCI. Według oczekiwań badaczy lepszy margines czasowy lub pasmo ochronne uzyskane dzięki temu przepływowi przyczyni się do dalszej poprawy szybkości, mocy i trwałości układów elektronicznych oraz spowoduje zmniejszanie kosztów.
Cel
This proposal envisions to foretell the reliability of electronic systems with high degree of accuracy by introducing a novel workload dependent aging aware simulation framework which has acceptable run-time. The framework is generic in nature and will enable one to perform system optimization in presence of multiple aging related phenomena including negative bias temperature instability, positive bias temperature instability, and hot carrier injection. Thus the benefits of the improved timing margin or guard-band incurred by this flow can be leveraged to further improve speed, power, durability of electronic systems and reduce cost. An efficient workload abstraction scheme will be employed which speeds up the transistor level degradation evaluation with accuracy comparable to that of cycle-accurate simulations. Using the device level degradation results, standard cell library characterization will be performed by statistical methods based on Design of Experiments and Response surface Modelling approach. The created workload dependent, aging aware cell libraries will be used to carry out static timing analysis and optimization. Critical path delay degradation evaluated under this framework will be compared with the corner based aging analysis to highlight the impact of the innovation. The framework will be validated using industry standardized, CPU intensive SPEC2006 benchmark suite run on top of multi-core industrial processor. Considering its interdisciplinary nature, the project will help bridge the gap between two disciplines: the device level reliability research and system level interactions. Working in highly international and intersectoral environment of the host IMEC, Dr. Mishra will enhance his professional skills to become a mature independent researcher.
Dziedzina nauki
Program(-y)
Temat(-y)
System finansowania
MSCA-IF-EF-ST - Standard EFKoordynator
3001 Leuven
Belgia