Nowa europejska platforma zbada podatność mikroelektroniki na naturalne promieniowanie
Francuskie uniwersytety utworzyły wspólne laboratorium w celu zbadania wrażliwości złożonych układów mikroelektronicznych na naturalne promieniowanie tła. Układy mikroelektroniczne występują wszędzie; można je znaleźć w przedmiotach codziennego użytku, takich jak telefony komórkowe i komputery, a także w zastosowaniach związanych z kontrolą transakcji finansowych, systemach telefonicznych i pojazdach. W miarę, jak układy mikroelektroniczne stają się coraz mniejsze i bardziej złożone, są one coraz bardziej narażone na wpływ promieniowania kosmicznego i strumieni cząstek (neutronów w atmosferze). Choć natężenie tego promieniowania jest stosunkowo niewielkie na poziomie morza, wzrasta jednak znacząco wraz z wysokością - na wysokości przelotowej samolotów pasażerskich jest 1000 razy większe niż na poziomie morza. Niektóre cząstki, na przykład neutrony wysokoenergetyczne, są szczególnie inwazyjne i mogą przedostać się nawet przez zbrojony beton. Mogą one zatem stwarzać poważne problemy w układach elektronicznych, zmieniając ładunek elektryczny podzespołów systemu. Nowe laboratorium pod nazwą ASTEP (Altitude SEE Test European Platform) znajduje się w Alpach francuskich na wysokości ponad 2 500 m. Jest to doskonałe miejsce do badania wpływu promieniowania na układy mikroelektroniczne, po to by produkujące i wykorzystujące je firmy mogły zapewnić im lepszą ochronę. Rozpoczęto juz prace nad pierwszym eksperymentem. Na platformie zainstalowano miliony podzespołów, z których każdy może przechowywać informacje w postaci zero-jedynkowej. Przez kilka miesięcy komponenty będą obserwowane, aby stwierdzić, ile z nich zmieniło stan - przełączyło się z 0 na 1 bądź odwrotnie - w wyniku promieniowania. Pierwsze wyniki zostaną przedstawione we wrześniu.
Kraje
Francja