Twinning for Excellence in Reliable Electronics

Informacje na temat projektu

TWIN-RELECT

Identyfikator umowy o grant: 101160314

DOI

10.3030/101160314

Data podpisania przez KE 29 Kwietnia 2024

Data rozpoczęcia 1 Października 2024

Data zakończenia 30 Września 2027

Finansowanie w ramach

• Widening participation and spreading excellence

Koszt całkowity

Brak danych

Wkład UE

€ 1 197 976,25

Koordynowany przez

PANEPISTIMIO THESSALIAS
Greece

CORDIS oferuje możliwość skorzystania z odnośników do publicznie dostępnych publikacji i rezultatów projektów realizowanych w ramach programów ramowych HORYZONT.

Odnośniki do rezultatów i publikacji związanych z poszczególnymi projektami 7PR, a także odnośniki do niektórych konkretnych kategorii wyników, takich jak zbiory danych i oprogramowanie, są dynamicznie pobierane z systemu OpenAIRE .

Publikacje

Conference proceedings (12)

A Synthesis Toolflow for the Predictable Implementation of High-Performance Bundled-Data Asynchronous NoCs on FPGA

Autorzy: Giuseppe Chessa; Elena Bellodi; Michele Favalli; Davide Zoni; Davide Bertozzi
Opublikowane w: 2025 29th IEEE International Symposium on Asynchronous Circuits and Systems (ASYNC), 2025, ISSN 2643-1483
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/ASYNC65240.2025.00013

Prediction of Single Event Transient Propagation Using Machine Learning Models

Autorzy: Marko Andjelkovic, Junchao Chen, Jelisaveta Aleksic, Vishnu Padmakumar, Milos Marjanovic, Nikolaos Zazatis, Trupti Ranjan Lenka, Danijel Dankovic, Christos Sotiriou, Fabian Vargas
Opublikowane w: 2025 21st International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods, and Applications to Circuits Design (SMACD), 2025
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/SMACD65553.2025.11092057

Compact SER Models via Model Order Reduction of Diffusion-Based Charge Collection

Autorzy: Pavlos Stoikos, Olympia Axelou, Pelopidas Tsoumanis, Georgios-Ioannis Paliaroutis, George Floros
Opublikowane w: 2025 21st International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods, and Applications to Circuits Design (SMACD), 2025
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/SMACD65553.2025.11092292

Design and Reliability Analysis of a Pipeline RISC-V Processor Core

Autorzy: Thiago H. Rausch, Wesley Grignani, Luigi Dilillo, and Douglas R. Melo
Opublikowane w: IEEE Latin-American Test Symp. (LATS), 2026, 2026
Wydawca: IEEE

Efficient TinyML Inference on a Fault-Tolerant RISC-V SoC with Vector Extension

Autorzy: Carolina Imianosky, Douglas A. Santos, Luigi Dilillo
Opublikowane w: 2025 10th International Workshop on Advances in Sensors and Interfaces (IWASI), 2025
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/IWASI66786.2025.11121981

Multi-Partner Project: Twinning for Excellence in Reliable Electronics (TWIN-RELECT)

Autorzy: Andjelkovic, Marko; Vargas, Fabian; Krstic, Milos; Dilillo, Luigi; Michez, Alain; Wrobel, Frederic; Bertozzi, Davide; Luján, Mikel; Georgakidis, Christos; Chatzivangelis, Nikolaos; Tsilingiri, Katerina; Zazatis, Nikolaos Zazatis; Paliaroutis, Georgios Ioanis; Tsoumanis, Pelopidas; Sotiriou, Christos
Opublikowane w: 2025 Design, Automation & Test in Europe Conference (DATE), 2025, ISSN 1558-1101
Wydawca: IEEE
DOI: 10.23919/DATE64628.2025.10992721

Post-Placement Timing Optimisations on Asynchronous Designs

Autorzy: Dimitrios Tsalapatas, Nikolaos Chatzivangelis, Christos P. Sotiriou, Nikolaos Sketopoulos
Opublikowane w: 2025 29th IEEE International Symposium on Asynchronous Circuits and Systems (ASYNC), 2025
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/ASYNC65240.2025.00025

Special Session Paper: Simulation Methodologies and Experiments for Reliability Analysis of Devices in Radiation Harsh Environments

Autorzy: Nikoloas Chatzivangelis, Nikoloas Zazatis, Wesley Grignani, Georgios-Ioannis Paliaroutis, Douglas A. Santos, Carolina Imianosky, Maria Kastriotou, Carlo Cazzaniga, Frédéric Wrobel, Alessandro Veronesi, Christos Sotiriou, Marko Andjelkovic, Fabian L. Vargas, Davide Bertozzi, Luigi Dilillo
Opublikowane w: 2025 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2025
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/DFT66274.2025.11257502

Compact SER Models for Line-Source-Induced Charge Collection Using Model Order Reduction

Autorzy: Pavlos Stoikos, Olympia Axelou, Pelopidas Tsoumanis, Georgios-Ioannis Paliaroutis, Luigi Dilillo, Anuj Pathania, George Floros
Opublikowane w: 2025 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2025
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/DFT66274.2025.11257486

Characterization of a Fault-Tolerant RISC-V SoC in an SRAM-Based FPGA under Proton Irradiation

Autorzy: Wesley Grignani, Douglas A. Santos, Carolina Imianosky, Douglas R. Melo, Frédéric Wrobel, and Luigi Dilillo
Opublikowane w: IEEE Latin-American Test Symp. (LATS), 2026, 2026
Wydawca: IEEE

Resilience Analysis of a Fault-Tolerant MPSoC Interconnection Architecture under SEU Fault Injection

Autorzy: Douglas A. Santos, Wesley Grignani, Carolina Imianosky, Douglas R. Melo, and Luigi Dilillo
Opublikowane w: IEEE Latin-American Test Symp. (LATS), 2025, 2025
Wydawca: IEEE

Fault Injection Attacks Based on Layout-Driven SER Analysis

Autorzy: Alexandra Takou, Pelopidas Tsoumanis, Georgios-Ioannis Paliaroutis, Nestor Evmorfopoulos, George Stamoulis
Opublikowane w: 2025 21st International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods, and Applications to Circuits Design (SMACD), 2025
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/SMACD65553.2025.11092174

Peer reviewed articles (3)

UPSET: A Comprehensive Probabilistic Single Event Transient Analysis Flow for VLSI Circuits Using Static Timing Analysis

Autorzy: Christos Georgakidis, Dimitris Valiantzas, Nikolaos Chatzivangelis, Marko Andjelkovic, Christos Sotiriou, Milos Krstic
Opublikowane w: Electronics, Numer 15, 2026, ISSN 2079-9292
Wydawca: MDPI AG
DOI: 10.3390/ELECTRONICS15040818

IEEE Journal on Emerging and Selected Topics in Circuits and Systems

Autorzy: Su, Zhe; Ramini, Simone; Coffen Marcolin, Demetra; Veronesi, Alessandro; Krstic, Milos; Indiveri, Giacomo; Bertozzi, Davide; Nowick, Steven M
Opublikowane w: IEEE Journal on Emerging and Selected Topics in Circuits and Systems, 2024, ISSN 2156-3357
Wydawca: IEEE
DOI: 10.5167/UZH-268876

Efficient Reliability-Aware Hardware Trojan Design and Insertion for SET-Induced Soft Error Attacks

Autorzy: Alexandra Takou, Georgios-Ioannis Paliaroutis, Pelopidas Tsoumanis, Marko Andjelkovic, Fabian Vargas, Nestor Evmorfopoulos, George Stamoulis
Opublikowane w: Electronics, Numer 15, 2026, ISSN 2079-9292
Wydawca: MDPI AG
DOI: 10.3390/ELECTRONICS15020425