Skip to main content
Przejdź do strony domowej Komisji Europejskiej (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
polski polski
CORDIS - Wyniki badań wspieranych przez UE
CORDIS

NANOmaterials: STRategies for Safety Assessments in advanced Integrated Circuits Manufacturing

CORDIS oferuje możliwość skorzystania z odnośników do publicznie dostępnych publikacji i rezultatów projektów realizowanych w ramach programów ramowych HORYZONT.

Odnośniki do rezultatów i publikacji związanych z poszczególnymi projektami 7PR, a także odnośniki do niektórych konkretnych kategorii wyników, takich jak zbiory danych i oprogramowanie, są dynamicznie pobierane z systemu OpenAIRE .

Rezultaty

Health monitoring guideline (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
List of air sampling equipments & List of environmental and individual monitoring devices (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

. List of air sampling equipments . List of environmental and individual monitoring devices

Identification of the most appropriate risk assessment methodologies (including gap analysis) for use in the semiconductor industry. Guidance on the use of risk assessment methodology for semiconductor industry (Combined deliverable T3.1 and T3.2). (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Assessment report: gaps identified about water and wastewater characterization (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
A list of nanomaterials currently used in the semiconductor sector to be considered within NANOSTREEM (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Comparison of occupational exposure values (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Recommendations for use of emission monitoring as a complement to risk banding (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Report on establishment NanoStreeM Safety Community (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Public Project factsheet (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
List of standards for air sampling, as applicable in semiconductor activity ; Gaps identified (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

. List of standards for air sampling, as applicable in semiconductor activity . Gaps identified

Gap analysis on information and data for NP exposure scenarios in semiconductor industryGap analysis on information and data for NP exposure scenarios in semiconductor industry (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Gap analysis on information and data for NP exposure scenarios in semiconductor industry

A set of typical relevant exposure scenarios for NP’s in semiconductor industry (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
For nanomaterials listed in D1.1, a list of associated tasks, activities and operations where exposure might occur. (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Public final project report (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
A list of nanomaterials that are of strategic importance for the semiconductor sector in the future (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Publikacje

A list of nanomaterials that are of strategic importance for the semiconductor sector in the future (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Jank, Michael; Heyns, Marc; Prodanov Dimiter,
Opublikowane w: Numer 1, 2019
Wydawca: -
DOI: 10.5281/zenodo.2538649

Identification of the most appropriate risk assessment methodologies for use in the semiconductor industry (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Le Feber, Maaike; Prodanov, Dimiter; Zimmermann, Eric
Opublikowane w: Numer 2, 2017
Wydawca: -
DOI: 10.5281/zenodo.1188143

A set of typical relevant exposure scenarios for nanoparticles in semiconductor industry (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Prodanov, Dimiter; Belde, Peter; Moclair, Fiona
Opublikowane w: Numer 3, 2018
Wydawca: -
DOI: 10.5281/zenodo.2538388

A list of associated tasks, activities and operations where exposure might occur (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Belde, Peter; Maillet, Jean-Christophe; Moclair, Fiona; Morelli, Atillio; Prodanov, Dimiter; Roquet, Pascal
Opublikowane w: Numer 3, 2017
Wydawca: -
DOI: 10.5281/zenodo.804441

A list of nanomaterials currently used in the semiconductor sector to be considered within NanoStreeM (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Belde, Peter; Durand, Catherine; Jank, Michael; Maillet, Jean-Christophe; Moclair, Fiona; Morelli, Atillio; Pook, Beatrix; Prodanov, Dimiter; Roquet, Pascal
Opublikowane w: Numer 1, 2016
Wydawca: -
DOI: 10.5281/zenodo.804436

A list of nanomaterials that are of strategic importance for the semiconductor sector in the future (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Michael Jank; Marc Heyns
Opublikowane w: Numer 2, 2017
Wydawca: -
DOI: 10.5281/zenodo.557082

Analytical and Numerical Treatments of Conservative Diffusions and the Burgers Equation (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Dimiter Prodanov
Opublikowane w: Entropy, Numer 20/7, 2018, Strona(/y) 492, ISSN 1099-4300
Wydawca: Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI)
DOI: 10.3390/e20070492

Management of health risk related to use of engineered nanomaterials. An analogy with biosafety (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Dimiter Prodanov
Opublikowane w: Biomedical Reviews, Numer 28/0, 2018, Strona(/y) 100, ISSN 1310-392X
Wydawca: Bulgarian-American Center
DOI: 10.14748/bmr.v28.4455

Banding approach for engineered nanomaterial risk assessment and control (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Nausikaä Van Hoornick, Dimiter Prodanov, Alain Pardon
Opublikowane w: Journal of Physics: Conference Series, Numer 838, 2017, Strona(/y) 012017, ISSN 1742-6588
Wydawca: Institute of Physics
DOI: 10.1088/1742-6596/838/1/012017

Prospects and issues of nanomaterials use in microelectronics: Poster presented at Materials Research Society Spring Meeting 2016, Phoenix, Arizona, USA

Autorzy: Jank, Michael; Bauer, Anton; Frey, Lothar
Opublikowane w: Fraunhofer IISB, Numer 3, 2016
Wydawca: -

Wyszukiwanie danych OpenAIRE...

Podczas wyszukiwania danych OpenAIRE wystąpił błąd

Brak wyników

Moja broszura 0 0