Opis projektu
Szkolenie badaczy z zakresu półprzewodników III-V
CMOS jest dominującą komercyjną technologią wytwarzania wykorzystywaną do produkcji obwodów zintegrowanych. Pierwsze procesy CMOS, opracowane w latach 60. XX wieku, wykorzystywały metal jako przewodnik bramki. Dzisiejsze bramki są wytwarzane z polisilikonu. Kolejna zmiana dotyczyła hybrydyzacji funkcji i polegała na wprowadzeniu czujników, zasilania, pamięci i rozwiązań z zakresu fotoniki do jednego układu scalonego. Obecnie obserwuje się wzmożone zainteresowanie integracją materiałów III-V oraz innych złożonych półprzewodników o właściwościach nadrzędnych względem silikonu. Twórcy finansowanego ze środków UE projektu DESIGN-EID odpowiedzą na wyzwania technologiczne w tym obszarze, badając wpływ defektów na wydajność urządzeń elektronicznych i fotonicznych. W ramach projektu przeszkolonych zostanie trzech naukowców na wczesnym etapie kariery, aby wypełnić lukę w zakresie symulacji predyktywnych, materiałów doświadczalnych i opracowywania urządzeń.
Cel
In semiconductor technology and applications today, we are increasingly observing a shift from the pure silicon CMOS technology towards hybridisation of function in terms of bringing in sensors, power, memory and photonics functionality on the same chip. In particular, there is a great interest in the heterogeneous and monolithic integration of III-V materials and other complex semiconductors, such as III-Nitrides and SiC on Si substrate. However, the direct growth of III-V materials on silicon inevitably will lead to crystal defects that significantly decreases performance of novel devices.
To overcome this main technological challenge and to make this new technology financially viable, the most cost-effective and time-effective approach is to combine experimental and simulation work, which indeed is the main aim on this project – DESING-EID. This will be achieved by addressing the following objectives.
The first objective of DESIGN-EID is to train three young ESRs who will bridge the gap between predictive simulations, experimental materials and device development by developing simulation tools for prediction of crystal growth as a function of process conditions. Secondly, completely eliminating defects in compound semiconductors is likely not achievable, therefore a simulation framework providing an accurate evaluation of their impact on device performance will be essential for designing devices and materials minimizing their impact. Furthermore, semiconductor defects in semiconductors may be exploited for their unique electronic properties if their presence and properties are controlled. For example, vacancies might be used to implement Qu-bits, whereas extended defects, such as dislocations, can provide unique transport properties. Hence, the last objective of the DESIGN-EID project focuses on experimental control and accurate simulation of the impact of defects on electronic and photonic device performance.
Dziedzina nauki
- engineering and technologymaterials engineeringcrystals
- engineering and technologyelectrical engineering, electronic engineering, information engineeringelectronic engineeringcomputer hardwarequantum computers
- natural sciencesphysical scienceselectromagnetism and electronicssemiconductivity
- natural scienceschemical sciencesinorganic chemistrymetalloids
- natural sciencescomputer and information sciencessoftwaresoftware applicationssimulation software
Słowa kluczowe
Program(-y)
Zaproszenie do składania wniosków
Zobacz inne projekty w ramach tego zaproszeniaSystem finansowania
MSCA-ITN - Marie Skłodowska-Curie Innovative Training Networks (ITN)Koordynator
G12 8QQ Glasgow
Zjednoczone Królestwo