Machine Learning based Nanowire Classification method based on Nanowire Array Scanning Electron Microscope Images
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Enrico Brugnolotto ,Preslav Aleksandrov ,Marilyne Sousa ,Vihar P. Georgiev
Opublikowane w:
2023
Wydawca:
Tech rxiv
DOI:
10.36227/techrxiv.24107049.v1
Impact of different types of planar defects on current transport in Indium Phosphide (InP)
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Christian Dam Vedel, Enrico Brugnolotto, Soren Smidstrup, Vihar P. Georgiev
Opublikowane w:
2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), 2021, Strona(/y) 1-5, ISBN 978-1-6654-3745-5
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/eurosoi-ulis53016.2021.9560698
Evaluation of material profiles for III-V nanowire photodetectors
(odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Autorzy:
Cristina Martinez-Oliver, Kirsten E. Moselund, Vihar P. Georgiev
Opublikowane w:
2021 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD), 2021, Strona(/y) 39-40, ISBN 978-1-6654-1276-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/nusod52207.2021.9541533