CORDIS oferuje możliwość skorzystania z odnośników do publicznie dostępnych publikacji i rezultatów projektów realizowanych w ramach programów ramowych HORYZONT.
Odnośniki do rezultatów i publikacji związanych z poszczególnymi projektami 7PR, a także odnośniki do niektórych konkretnych kategorii wyników, takich jak zbiory danych i oprogramowanie, są dynamicznie pobierane z systemu OpenAIRE .
Rezultaty
Fabrication of elementary VNWFET devices (JL and PC) - First version
Elementary VNWFET devices (JL and PC) - V2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Fabrication of elementary VNWFET devices (JL and PC) - improved version
Technology impact and exploitation innovation - Third assessment
Thermal impedance and trap extraction - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)First report on the thermal impedance and trap extraction of VNWFETs devices fabricated in WP1
Plan for dissemination of the results - Y1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Annual plan for dissemination of the results
Workshops and summer school's report (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Report on workshops and summer school's
Plan for dissemination of the results - Y2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Annual plan for dissemination of the results, year 2
Technology impact and exploitation innovation - Y1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Technology impact and exploitation innovation First assessment
Pre-trained speech ASR/MT model and use-cases - V2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Second version of pre-trained speech ASR/MT model and use-cases
Open source release: parameterizable simulator with application examples - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)First open source release: parameterizable simulator with application examples
Plan for dissemination of the results - Y3 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Annual plan for dissemination of the results - year 3
Scaled-down N2C2 design (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Report on scaled-down N2C2 design
Library of optimized VNWFET-based logic cells (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Pre-trained speech ASR/MT model and use-cases - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
First version of pretrained speech ASRMT model and usecases
Architecture library, multi-objective trade-offs and calibrated thermal models - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)First version of architecture library, multi-objective trade-offs and calibrated thermal models
Technology impact and exploitation innovation - Y2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Technology impact and exploitation innovation - Second assessment
Virtual scalable N2C2 design and Pareto-front data - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Report on virtual scalable N2C2 design and Paretofront data V1
Co-optimized hardware/NN architecture for ASR/MT - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)First report on the co-optimized hardware/NN architecture for ASR/MT
Versatile and scalable 3D architectural interconnect framework (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Report on the versatile and scalable 3D architectural interconnect framework
Project handbook (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Handbook summarizing decisionmaking process and planned meetings quality process for deliverables deliverable template progress reports template
Parasitic element extraction - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Report on parasitic element extraction
Project Website and social networks accounts for FVLLMONTI are visible online
Publikacje
Autorzy:
Eggermann, G., Rios, M., Ansaloni, G., Nassif, S. and Atienza, D.
Opublikowane w:
In 2023 IFIP/IEEE 31st International Conference on Very Large-Scale Integration (VLSI-SoC) In 2023 IFIP/IEEE 31st International Conference on Very Large-Scale Integration (VLSI-SoC), 2023, ISBN 979-8-3503-2599-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-soc57769.2023.10321838
Autorzy:
C. Maneux, C. Mukherjee, M. Deng, G. Larrieu, Y. Wang, Houssem Rezgui and B. Neckel Wesling
Opublikowane w:
243rd ECS Meeting, Boston, US, May 28th -June 2nd, 2023, Numer mai-23, 2023
Wydawca:
ECS
DOI:
10.1149/11101.0209ecst
Autorzy:
I. O'Connor, S. Mannaa, A. Bosio, B. Deveautour, D. Deleruyelle, T. Obukhova, C. Marchand, J. Trommer, C. Cakirlar, B. Neckel Wesling, T. Mikolajick, O. Baumgartner, M. Thesberg, D. Pirker, C. Lenz, Z. Stanojevic, M. Karner, G. Larrieu, S. Pelloquin, K. Moustakas, J. Muller, G. Ansaloni, A. Amirshahi, D. Atienza, J-L. Rouas, L. Ben Letaifa, G. Bordea, C. Brazier, Y. Wang, C. Mukherjee, M. Deng, M.
Opublikowane w:
In 27th Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE 24), Multi-partner projects (MPP) papers, 2024
Wydawca:
CESI
Autorzy:
L. Réveil, C. Mukherjee, C. Maneux, M. Deng, F. Marc, A. Kumar, A. Lecestre, G. Larrieu, A. Poittevin, I. O'Connor, O. Baumgartner and D. Pirker
Opublikowane w:
VLSI-SOC, Numer 2022, 2022
Wydawca:
VLSI-SOC
Autorzy:
T. Mikolajick, G. Galderisi, S. Rai, M. Simon, R. Böckle, M. Sistani, C. Cakirlar, N. Bhattacharjee, T. Mauersberger, A. Heinzig, A. Kumar, W.M. Weber, J. Trommer.
Opublikowane w:
Solid-State Electronics, 2022
Wydawca:
Elsevier
DOI:
10.1016/j.sse.2022.108381
Autorzy:
C Cakirlar, G Galderisi, C Beyer, M Simon, T Mikolajick, J Trommer
Opublikowane w:
IEEE 22nd International Conference on Nanotechnology (IEEE NANO), 2022, ISBN 978-1-6654-5225-0
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/nano54668.2022.9928629
Autorzy:
Y. Wang, C. Mukherjee. H. Rezgui, M. Deng, C. Maneux, S. Mannaa, I. O’Connor, J. Müller, S. Pelloquin, G. Larrieu
Opublikowane w:
European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), Numer 2023, 2023
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/essderc59256.2023.10268560
Autorzy:
Thesberg, M., Schanovsky, F., Stanojevic, Z., Baumgartner, O. and Karner, M.
Opublikowane w:
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), Numer 2023, 2023, ISBN 978-4-86348-803-8
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/sispad57422.2023.10319645
Autorzy:
Rios, M., Ponzina, F., Ansaloni, G., Levisse, A. and Atienza, D.
Opublikowane w:
In Proceedings of the Great Lakes Symposium on VLSI 2022, Numer 2022, 2022, ISBN 9781450393225
Wydawca:
Association for Computing Machinery
DOI:
10.1145/3526241.3530351
Autorzy:
Ponzina, F., Ansaloni, G., Peón-Quirós, M. and Atienza, D.
Opublikowane w:
Micromachines, 2023
Wydawca:
MDPI
DOI:
10.3390/mi13071143
Autorzy:
Guilhem Larrieu, Jonas Müller, Sylvain Pelloquin, Abhishek Kumar, Konstantinos Moustakas, Pawel Michalowski, Aurelie Lecestre
Opublikowane w:
21st International Workshop on Junction Technology (IWJT), Numer 23 juin, 2023, ISBN 978-4-86348-807-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/iwjt59028.2023.10175172
Autorzy:
Baghersalimi, S., Amirshahi, A., Teijeiro, T., Aminifar, A. and Atienza, D.
Opublikowane w:
2023 IEEE 19th International Conference on Body Sensor Networks (BSN), 2023, ISBN 979-8-3503-3841-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/bsn58485.2023.10331334
Autorzy:
Ian O’Connor, Arnaud Poittevin, Sébastien Le Beux, Alberto Bosio, Zlatan Stanojevic, Oskar Baumgartner, C Mukherjee, C Maneux, J Trommer, T Mikolajick, G Larrieu
Opublikowane w:
Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), 2021, Strona(/y) 1-4
Wydawca:
NA
Autorzy:
L. Ben Letaifa and J.-L. Rouas
Opublikowane w:
Algorithms Vol 16 n°9, 2023
Wydawca:
MDPI
DOI:
10.3390/a16090398
Autorzy:
Ferretti, Lorenzo, Giovanni Ansaloni, Renaud Marquis, Tomas Teijeiro, Philippe Ryvlin, David Atienza, and Laura Pozzi
Opublikowane w:
Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022, Strona(/y) 1449-1454
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
S. Mannaa, C. Marchand, D. Deleruyelle, B. Deveautour, I. O'Connor, A. Bosio
Opublikowane w:
Int. Conf. Nanotechnology (NANO), 2023
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/nano58406.2023.10231288
Autorzy:
B. Neckel Wesling, M. Deng, C. Mukherjee, A. Kumar, G. Larrieu, et al.
Opublikowane w:
8th Joint International EuroSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI−ULIS) 2022, May, Numer mai 22, 2022
Wydawca:
Elsevier
DOI:
10.1016/j.sse.2022.108359
Autorzy:
Medina Morillas, Rafael, Joshua Alexander Harrison Klein, Yasir Mahmood Qureshi, Marina Zapater Sancho, Giovanni Ansaloni, and David Atienza Alonso
Opublikowane w:
IEEE 13th Latin America Symposium on Circuits and System (LASCAS), 2022
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
C. Maneux, C. Mukherjee, M. Deng, M. Dubourg, L. Reveil, G. Bordea, A. Lecestre, G. Larrieu, J. Trommer, E.T. Breyer, S. Slesazeck, T. Mikolajick, O. Baumgartner, M. Karner, D. Pirker, Z. Stanojevic, David Atienza, A. Levisse, G. Ansaloni, A. Poittevin, A. Bosio, D. Deleruyelle, C. Marchand, I. O'Connor
Opublikowane w:
IEEE IEDM, 2021
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Medina, R., Huang, D., Ansaloni, G., Zapater, M. and Atienza, D.
Opublikowane w:
2023 IFIP/IEEE 31st International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2023, ISBN 979-8-3503-2599-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-soc57769.2023.10321912
Autorzy:
Leila Ben Letaifa, Jean-Luc Rouas.
Opublikowane w:
EUSIPCO 2022, 2022
Wydawca:
EUSIPCO
Autorzy:
C. Maneux, C. Mukherjee, M. Deng, B. Neckel Wesling, L. Reveil, Z. Stanojevic, O. baumgartner, A. Poittevin, I. O'Connor, G. Larrieu
Opublikowane w:
IEEE LAEDC, 2022
Wydawca:
NA
Autorzy:
A. Poittevin, I. O‘Connor, C. Marchand, A. Bosio, C. Maneux, C. Mukherjee, G. Larrieu, A. Kumar
Opublikowane w:
20th IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS), 2022
Wydawca:
NA
DOI:
10.1109/newcas52662.2022.9842100
Autorzy:
T. Mauersberger, J. Trommer, G. Galderisi, M. Knaut, D. Pohl, A. Tahn, B. Rellinghaus, T. Mikolajick, A. Heinzig
Opublikowane w:
EMRS Fall Meeting, Warsaw, 2023, Numer No proceedings, talk only, 2023
Wydawca:
EMRS
Autorzy:
K. Moustakas, B. Neckel-Wesling, A. Lecestre, F. Mathieu, T. Mikolajick, J. Trommer, G. Larrieu, L. Cancellara, J.-D. Grillet
Opublikowane w:
EMRS Fall Meeting, Warsaw, 2023, Numer 23-oct., 2023
Wydawca:
EMRS
Autorzy:
R. Bishnoi, S. Diware, A. Gebregiorgis, S. Thomann, S. Mannaa, B. Deveautour, C. Marchand, A. Bosio, D. Deleruyelle, I. O'Connor, H. Amrouch, S. Hamdioui
Opublikowane w:
International Conference on Microelectronics (ICM), 2023
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/icm60448.2023.10378889
Autorzy:
Amirshahi A, Klein JA, Ansaloni G, Atienza D.
Opublikowane w:
InProceedings of the 28th Asia and South Pacific Design Automation Conference 2023, 2023, ISBN 978-1-4503-9783-4
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Medina R, Kein J, Ansaloni G, Zapater M, Abadal S, Alarcón E, Atienza D.
Opublikowane w:
In Proceedings of the 28th Asia and South Pacific Design Automation Conference 2023 Jan 16, 2023, ISBN 978-1-4503-9783-4
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
B. Neckel Wesling, M. Deng, C. Mukherjee, T. Mikolajick, J. Trommer and C. Maneux
Opublikowane w:
IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), April 2024, Edinburgh, Scotland, Numer Avr 24, 2024
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Guilhem Larrieu, Houssem Rezgui, Abhishek Kumar, Jonas Müller, Sylvain Pelloquin, Yifan Wang, Marina Deng, Aurelie Lecestre, Cristell Maneux, Chhandak Mukherjee
Opublikowane w:
2023 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), Kyoto, Japan, Numer juin-23, 2023, ISBN 978-4-86348-808-3
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/snw57900.2023.10183951
Autorzy:
Thesberg M, Schanovsky F, Stanojević Z, Baumgartner O, Karner M.
Opublikowane w:
ESSDERC 2023 - IEEE 53rd European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2023, ISBN 979-8-3503-0423-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/essderc59256.2023.10268518
Autorzy:
Lorenzo Ferretti; Giovanni Ansaloni; Renaud Marquis; Tomas Teijeiro; Philippe Ryvlin; David Atienza; Laura Pozzi
Opublikowane w:
2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Numer 1, 2022, Strona(/y) 1449-1454
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/date54114.2022.9774713
Autorzy:
L. Ben Letaifa and J.-L. Rouas
Opublikowane w:
21st IEEE International Conference on Machine Learning and Applications (ICMLA), Dec. 2022, Numer 2022, 2022
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/icmla55696.2022.00149
Autorzy:
Ponzina F, Rios M, Levisse A, Ansaloni G, Atienza D.
Opublikowane w:
ACM Transactions on Embedded Computing Systems, Numer ACM Transactions on Embedded Computing SystemsVolume 22Numer 5sArticle No.: 121, 2023, Strona(/y) pp 1–23, ISSN 1539-9087
Wydawca:
Association for Computing Machinary, Inc.
DOI:
10.1145/3609387
Autorzy:
M. Thesberg, M. N. K. Alam, B. Truijen, B. Kaczer, P. J. Roussel, Z. Stanojević, O. Baumgartner, F. Schanovsky, M. Karner, H. Kosina
Opublikowane w:
IEEE TED Vol 69, n°6, 2022, 2022, ISSN 0018-9383
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2022.3167942
Autorzy:
Tom Mauersberger; Jens Trommer; Saurabh Sharma; Martin Knaut; Darius Pohl; Bernd Rellinghaus; Thomas Mikolajick; Andre Heinzig
Opublikowane w:
Semiconductor Science and Technology, Numer 1, 2021, ISSN 0268-1242
Wydawca:
Institute of Physics Publishing
DOI:
10.1088/1361-6641/ac1827
Autorzy:
Ponzina, Flavio, Simone Machetti, Marco Antonio Rios, Benoît Walter Denkinger, Alexandre Sébastien Julien Levisse, Giovanni Ansaloni, Miguel Peon Quiros, and David Atienza Alonso
Opublikowane w:
IEEE Micro - Special Numer on Artificial Intelligence at the Edge, 2022, ISSN 0272-1732
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/mm.2022.3195617
Autorzy:
Mukherjee, C., Poittevin, A., O'Connor, I., Larrieu, G., Maneux, C.
Opublikowane w:
Solid-State Electronics, 2021, ISSN 0038-1101
Wydawca:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2021.108125
Autorzy:
Mischa Thesberg, Tetiana Obukhova, Damien Deleruyelle, Jens Trommer, Thomas Mikolajick, Oskar Baumgartner, Franz Schanovsky, Zlatan Stanojević, Markus Karner
Opublikowane w:
IEEE Transactions on Electron Devices, Numer 71, 2024, Strona(/y) 6686-6690, ISSN 0018-9383
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2024.3459878
Autorzy:
C. Cakirlar, M. Simon, G. Galderisi, I. O’Connor, T. Mikolajick, J. Trommer
Opublikowane w:
Materials Today Electronics, Numer Volume 4, June 2023, 100040, 2023, ISSN 2772-9494
Wydawca:
Elsevier
DOI:
10.1016/j.mtelec.2023.100040
Autorzy:
C. Mukherjee, H. Rezgui, Y. Wang, M. Deng, A. Kumar, J. Muller, G. Larrieu and C. Maneux
Opublikowane w:
IEEE TED Vol 70 n°12, Numer 11 oct, 2023, ISSN 0018-9383
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2023.3321277
Autorzy:
Rios, M., Ponzina, F., Levisse, A.S.J., Ansaloni, G., Alonso, D.A., Amirshahi, A., Klein, J.A.H., Orlandi, M., Zanghieri, M., Schiavone, D. and Donati, E.,
Opublikowane w:
IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing ( Volume: 11, Numer: 2, 01 April-June 2023), 2023, ISSN 2168-6750
Wydawca:
IEEE Computer Society
DOI:
10.1109/tetc.2023.3237914
Autorzy:
R. Bishnoi, S. Diware, A. Gebregiorgis, S. Thomann, S. Mannaa, B. Deveautour, C. Marchand, A. Bosio, D. Deleruyelle, I. O'Connor, H. Amrouch, S. Hamdioui
Opublikowane w:
J. Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, 2023, ISSN 2329-9231
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/jxcdc.2023.3309502
Autorzy:
H. Rezgui, C. Mukherjee, Y. Wang, M. Deng, A. Kumar, J. Muller, G. Larrieu and C. Maneux
Opublikowane w:
IEEE TED Vol 70 n°12, Numer oct.-23, 2023, ISSN 0018-9383
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2023.3321280
Wyszukiwanie danych OpenAIRE...
Podczas wyszukiwania danych OpenAIRE wystąpił błąd
Brak wyników