Skip to main content
Przejdź do strony domowej Komisji Europejskiej (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
polski polski
CORDIS - Wyniki badań wspieranych przez UE
CORDIS

Ferroelectric Vertical Low energy Low latency low volume Modules fOr Neural network Transformers In 3D

CORDIS oferuje możliwość skorzystania z odnośników do publicznie dostępnych publikacji i rezultatów projektów realizowanych w ramach programów ramowych HORYZONT.

Odnośniki do rezultatów i publikacji związanych z poszczególnymi projektami 7PR, a także odnośniki do niektórych konkretnych kategorii wyników, takich jak zbiory danych i oprogramowanie, są dynamicznie pobierane z systemu OpenAIRE .

Rezultaty

Elementary VNWFET devices (JL and PC) - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Fabrication of elementary VNWFET devices (JL and PC) - First version

Elementary VNWFET devices (JL and PC) - V2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Fabrication of elementary VNWFET devices (JL and PC) - improved version

Technology impact and exploitation innovation - Y3 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Technology impact and exploitation innovation - Third assessment

Thermal impedance and trap extraction - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

First report on the thermal impedance and trap extraction of VNWFETs devices fabricated in WP1

Plan for dissemination of the results - Y1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Annual plan for dissemination of the results

Workshops and summer school's report (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Report on workshops and summer school's

Plan for dissemination of the results - Y2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Annual plan for dissemination of the results, year 2

Technology impact and exploitation innovation - Y1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Technology impact and exploitation innovation First assessment

Pre-trained speech ASR/MT model and use-cases - V2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Second version of pre-trained speech ASR/MT model and use-cases

Open source release: parameterizable simulator with application examples - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

First open source release: parameterizable simulator with application examples

Plan for dissemination of the results - Y3 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Annual plan for dissemination of the results - year 3

Scaled-down N2C2 design (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Report on scaled-down N2C2 design

Library of optimized VNWFET-based logic cells (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Pre-trained speech ASR/MT model and use-cases - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

First version of pretrained speech ASRMT model and usecases

Architecture library, multi-objective trade-offs and calibrated thermal models - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

First version of architecture library, multi-objective trade-offs and calibrated thermal models

Technology impact and exploitation innovation - Y2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Technology impact and exploitation innovation - Second assessment

Virtual scalable N2C2 design and Pareto-front data - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Report on virtual scalable N2C2 design and Paretofront data V1

Co-optimized hardware/NN architecture for ASR/MT - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

First report on the co-optimized hardware/NN architecture for ASR/MT

Versatile and scalable 3D architectural interconnect framework (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Report on the versatile and scalable 3D architectural interconnect framework

Project handbook (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Handbook summarizing decisionmaking process and planned meetings quality process for deliverables deliverable template progress reports template

Parasitic element extraction - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Report on parasitic element extraction

Project Website and social network account (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Project Website and social networks accounts for FVLLMONTI are visible online

Publikacje

Logic Gates Based on 3D Vertical Junctionless Gate-All-Around Transistors with Reliable Multilevel Contact Engineering (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Abhishek Kumar, Jonas Müller, Sylvain Pelloquin, Aurélie Lecestre, Guilhem Larrieu
Opublikowane w: Nano Letters, Numer 24, 2024, Strona(/y) 7825-7832, ISSN 1530-6984
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.nanolett.3c04180

Signature of electrothermal transport in 18 nm vertical junctionless gate-all-around nanowire field effect transistors (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Houssem Rezgui, Yifan Wang, Chhandak Mukherjee, Marina Deng, Cristell Maneux
Opublikowane w: Journal of Physics D: Applied Physics, Numer 58, 2024, Strona(/y) 025110, ISSN 0022-3727
Wydawca: Institute of Physics Publishing
DOI: 10.1088/1361-6463/ad4716

Overflow-free compute memories for edge AI acceleration (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Ponzina F, Rios M, Levisse A, Ansaloni G, Atienza D.
Opublikowane w: ACM Transactions on Embedded Computing Systems, Numer ACM Transactions on Embedded Computing SystemsVolume 22Numer 5sArticle No.: 121, 2023, Strona(/y) pp 1–23, ISSN 1539-9087
Wydawca: Association for Computing Machinary, Inc.
DOI: 10.1145/3609387

Evidence of trapping and electrothermal effects in vertical junctionless nanowire transistors (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Y. Wang, C. Mukherjee, H. Rezgui, M. Deng, J. Müller, S. Pelloquin, G. Larrieu, C. Maneux
Opublikowane w: Solid-State Electronics, Numer 211, 2025, Strona(/y) 108805, ISSN 0038-1101
Wydawca: Pergamon Press Ltd.
DOI: 10.1016/j.sse.2023.108805

On the Modeling of Polycrystalline Ferroelectric Thin Films: Landau-Based Models Versus Monte Carlo-Based Models Versus Experiment (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: M. Thesberg, M. N. K. Alam, B. Truijen, B. Kaczer, P. J. Roussel, Z. Stanojević, O. Baumgartner, F. Schanovsky, M. Karner, H. Kosina
Opublikowane w: IEEE TED Vol 69, n°6, 2022, 2022, ISSN 0018-9383
Wydawca: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/ted.2022.3167942

Single-step reactive ion etching process for device integration of hafnium-zirconium-oxide (HZO)/titanium nitride (TiN) stacks (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Tom Mauersberger; Jens Trommer; Saurabh Sharma; Martin Knaut; Darius Pohl; Bernd Rellinghaus; Thomas Mikolajick; Andre Heinzig
Opublikowane w: Semiconductor Science and Technology, Numer 1, 2021, ISSN 0268-1242
Wydawca: Institute of Physics Publishing
DOI: 10.1088/1361-6641/ac1827

A hardware/software co-design vision for deep learning at the edge (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Ponzina, Flavio, Simone Machetti, Marco Antonio Rios, Benoît Walter Denkinger, Alexandre Sébastien Julien Levisse, Giovanni Ansaloni, Miguel Peon Quiros, and David Atienza Alonso
Opublikowane w: IEEE Micro - Special Numer on Artificial Intelligence at the Edge, 2022, ISSN 0272-1732
Wydawca: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/mm.2022.3195617

Compact modeling of 3D vertical junctionless gate-all-around silicon nanowire transistors towards 3D logic design (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Mukherjee, C., Poittevin, A., O'Connor, I., Larrieu, G., Maneux, C.
Opublikowane w: Solid-State Electronics, 2021, ISSN 0038-1101
Wydawca: Pergamon Press Ltd.
DOI: 10.1016/j.sse.2021.108125

On the Potential of Ambipolar Schottky-Based Ferroelectric Transistor Designs for Enhanced Memory Windows in Scaled Devices (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Mischa Thesberg, Tetiana Obukhova, Damien Deleruyelle, Jens Trommer, Thomas Mikolajick, Oskar Baumgartner, Franz Schanovsky, Zlatan Stanojević, Markus Karner
Opublikowane w: IEEE Transactions on Electron Devices, Numer 71, 2024, Strona(/y) 6686-6690, ISSN 0018-9383
Wydawca: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/ted.2024.3459878

Pathways for electron device research in the AI era (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Jens Trommer
Opublikowane w: Device, Numer 3, 2025, Strona(/y) 100656, ISSN 2666-9986
Wydawca: Elsevier BV
DOI: 10.1016/j.device.2024.100656

Cross-Shape Reconfigurable Field Effect Transistor for Flexible Signal Routing (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: C. Cakirlar, M. Simon, G. Galderisi, I. O’Connor, T. Mikolajick, J. Trommer
Opublikowane w: Materials Today Electronics, Numer Volume 4, June 2023, 100040, 2023, ISSN 2772-9494
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/j.mtelec.2023.100040

Nanoscale Thermal Transport in Vertical Gate-all-around Junction-less Nanowire Transistors - Part I: Experimental Methods (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: C. Mukherjee, H. Rezgui, Y. Wang, M. Deng, A. Kumar, J. Muller, G. Larrieu and C. Maneux
Opublikowane w: IEEE TED Vol 70 n°12, Numer 11 oct, 2023, ISSN 0018-9383
Wydawca: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/ted.2023.3321277

Bit-Line Computing for CNN Accelerators Co-Design in Edge AI Inference (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Rios, M., Ponzina, F., Levisse, A.S.J., Ansaloni, G., Alonso, D.A., Amirshahi, A., Klein, J.A.H., Orlandi, M., Zanghieri, M., Schiavone, D. and Donati, E.,
Opublikowane w: IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing ( Volume: 11, Numer: 2, 01 April-June 2023), 2023, ISSN 2168-6750
Wydawca: IEEE Computer Society
DOI: 10.1109/tetc.2023.3237914

3D Logic circuit design oriented electrothermal modeling of vertical junctionless nanowire FETs (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: R. Bishnoi, S. Diware, A. Gebregiorgis, S. Thomann, S. Mannaa, B. Deveautour, C. Marchand, A. Bosio, D. Deleruyelle, I. O'Connor, H. Amrouch, S. Hamdioui
Opublikowane w: J. Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, 2023, ISSN 2329-9231
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/jxcdc.2023.3309502

Nanoscale Thermal Transport in Vertical Gate-all-around Junction-less Nanowire Transistors- Part II: Multiphysics Simulation (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: H. Rezgui, C. Mukherjee, Y. Wang, M. Deng, A. Kumar, J. Muller, G. Larrieu and C. Maneux
Opublikowane w: IEEE TED Vol 70 n°12, Numer oct.-23, 2023, ISSN 0018-9383
Wydawca: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/ted.2023.3321280

A 16-bit floating-point near-sram architecture for low-power sparse matrix-vector multiplication (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Eggermann, G., Rios, M., Ansaloni, G., Nassif, S. and Atienza, D.
Opublikowane w: In 2023 IFIP/IEEE 31st International Conference on Very Large-Scale Integration (VLSI-SoC) In 2023 IFIP/IEEE 31st International Conference on Very Large-Scale Integration (VLSI-SoC), 2023, ISBN 979-8-3503-2599-7
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/vlsi-soc57769.2023.10321838

Strategies for Characterization and Parameter Extraction of Vertical Junction-less Nanowire FETs dedicated to Design Technology Co-Optimization (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: C. Maneux, C. Mukherjee, M. Deng, G. Larrieu, Y. Wang, Houssem Rezgui and B. Neckel Wesling
Opublikowane w: 243rd ECS Meeting, Boston, US, May 28th -June 2nd, 2023, Numer mai-23, 2023
Wydawca: ECS
DOI: 10.1149/11101.0209ecst

The 3D Neural Network Compute Cube (N2C2) Concept enabling Efficient Hardware Transformer Architectures towards Speech-to-Speech Translation

Autorzy: I. O'Connor, S. Mannaa, A. Bosio, B. Deveautour, D. Deleruyelle, T. Obukhova, C. Marchand, J. Trommer, C. Cakirlar, B. Neckel Wesling, T. Mikolajick, O. Baumgartner, M. Thesberg, D. Pirker, C. Lenz, Z. Stanojevic, M. Karner, G. Larrieu, S. Pelloquin, K. Moustakas, J. Muller, G. Ansaloni, A. Amirshahi, D. Atienza, J-L. Rouas, L. Ben Letaifa, G. Bordea, C. Brazier, Y. Wang, C. Mukherjee, M. Deng, M.
Opublikowane w: In 27th Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE 24), Multi-partner projects (MPP) papers, 2024
Wydawca: CESI

Modelling of vertical and ferroelectric junctionless technology for efficient 3D neural network compute cube dedicated to embedded artificial intelligence (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: C. Maneux, C. Mukherjee, M. Deng, M. Dubourg, L. Reveil, G. Bordea, A. Lecestre, G. Larrieu, J. Trommer, E.T. Breyer, S. Slesazeck, T. Mikolajick, O. Baumgartner, M. Karner, D. Pirker, Z. Stanojevic, David Atienza, A. Levisse, G. Ansaloni, A. Poittevin, A. Bosio, D. Deleruyelle, C. Marchand, I. O'Connor
Opublikowane w: 2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022, Strona(/y) 15.6.1-15.6.4
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/iedm19574.2021.9720572

Analysis of an Inverter Logic Cell based on 3D Vertical NanoWire Junction-Less Transistors

Autorzy: L. Réveil, C. Mukherjee, C. Maneux, M. Deng, F. Marc, A. Kumar, A. Lecestre, G. Larrieu, A. Poittevin, I. O'Connor, O. Baumgartner and D. Pirker
Opublikowane w: VLSI-SOC, Numer 2022, 2022
Wydawca: VLSI-SOC

Analysis of an Inverter Logic Cell based on 3D Vertical NanoWire Junction-Less Transistors (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Lucas Réveil, Chhandak Mukherjee, Cristell Maneux, Marina Deng, François Marc, Abhishek Kumar, Aurélie Lecestre, Guilhem Larrieu, Arnaud Poittevin, Ian O’Connor, Oskar Baumgartner, David Pirker
Opublikowane w: 2022 IFIP/IEEE 30th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2024, Strona(/y) 1-2
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/vlsi-soc54400.2022.9939576

Reconfigurable field effect transistors: A technology enablers perspective (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: T. Mikolajick, G. Galderisi, S. Rai, M. Simon, R. Böckle, M. Sistani, C. Cakirlar, N. Bhattacharjee, T. Mauersberger, A. Heinzig, A. Kumar, W.M. Weber, J. Trommer.
Opublikowane w: Solid-State Electronics, 2022
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/j.sse.2022.108381

Analysis of Energy-Delay-Product of a 3D Vertical Nanowire FET Technology (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: I. O'Connor, A. Poittevin, S. Le Beux, A. Bosio, Z. Stanojevic, O. Baumgartner, C. Mukherjee, C. Maneux, J. Trommer, T. Mikolajick, G. Larrieu
Opublikowane w: 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), 2022, Strona(/y) 1-4
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/eurosoi-ulis53016.2021.9560180

Challenges in Electron Beam Lithography of Silicon Nanostructures (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: C Cakirlar, G Galderisi, C Beyer, M Simon, T Mikolajick, J Trommer
Opublikowane w: IEEE 22nd International Conference on Nanotechnology (IEEE NANO), 2022, ISBN 978-1-6654-5225-0
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/nano54668.2022.9928629

Electrothermal modeling of junctionless vertical Si nanowire transistors for 3D logic circuit design (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Y. Wang, C. Mukherjee. H. Rezgui, M. Deng, C. Maneux, S. Mannaa, I. O’Connor, J. Müller, S. Pelloquin, G. Larrieu
Opublikowane w: European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), Numer 2023, 2023
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/essderc59256.2023.10268560

Compact Metal-Ferroelectric-Insulator-Semiconductor (MFIS) Approaches Versus TCAD For the Modeling Of Ferroelectric Transistors (FeFETs): Percolation, Steep-Subthreshold and Depolarization (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Thesberg, M., Schanovsky, F., Stanojevic, Z., Baumgartner, O. and Karner, M.
Opublikowane w: International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), Numer 2023, 2023, ISBN 978-4-86348-803-8
Wydawca: IEEE
DOI: 10.23919/sispad57422.2023.10319645

Error Resilient In-Memory Computing Architecture for CNN Inference on the Edge (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Rios, M., Ponzina, F., Ansaloni, G., Levisse, A. and Atienza, D.
Opublikowane w: In Proceedings of the Great Lakes Symposium on VLSI 2022, Numer 2022, 2022, ISBN 9781450393225
Wydawca: Association for Computing Machinery
DOI: 10.1145/3526241.3530351

Using Algorithmic Transformations and Sensitivity Analysis to Unleash Approximations in CNNs at the Edge (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Ponzina, F., Ansaloni, G., Peón-Quirós, M. and Atienza, D.
Opublikowane w: Micromachines, 2023
Wydawca: MDPI
DOI: 10.3390/mi13071143

Advanced contacts on 3D nanostructured channels for vertical transport gate-all-around transistors (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Guilhem Larrieu, Jonas Müller, Sylvain Pelloquin, Abhishek Kumar, Konstantinos Moustakas, Pawel Michalowski, Aurelie Lecestre
Opublikowane w: 21st International Workshop on Junction Technology (IWJT), Numer 23 juin, 2023, ISBN 978-4-86348-807-6
Wydawca: IEEE
DOI: 10.23919/iwjt59028.2023.10175172

Layer-Wise Learning Framework for Efficient DNN Deployment in Biomedical Wearable Systems (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Baghersalimi, S., Amirshahi, A., Teijeiro, T., Aminifar, A. and Atienza, D.
Opublikowane w: 2023 IEEE 19th International Conference on Body Sensor Networks (BSN), 2023, ISBN 979-8-3503-3841-6
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/bsn58485.2023.10331334

Analysis of Energy-Delay-Product of a 3D Vertical Nanowire FET Technology

Autorzy: Ian O’Connor, Arnaud Poittevin, Sébastien Le Beux, Alberto Bosio, Zlatan Stanojevic, Oskar Baumgartner, C Mukherjee, C Maneux, J Trommer, T Mikolajick, G Larrieu
Opublikowane w: Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), 2021, Strona(/y) 1-4
Wydawca: NA

Variable Scale Pruning for Transformer Model Compression in End-to-End Speech Recognition (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: L. Ben Letaifa and J.-L. Rouas
Opublikowane w: Algorithms Vol 16 n°9, 2023
Wydawca: MDPI
DOI: 10.3390/a16090398

INCLASS: incremental classification strategy for self-aware epileptic seizure detection

Autorzy: Ferretti, Lorenzo, Giovanni Ansaloni, Renaud Marquis, Tomas Teijeiro, Philippe Ryvlin, David Atienza, and Laura Pozzi
Opublikowane w: Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022, Strona(/y) 1449-1454
Wydawca: IEEE

VNWFET-based technology: from device modelling to standard cell library (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: S. Mannaa, C. Marchand, D. Deleruyelle, B. Deveautour, I. O'Connor, A. Bosio
Opublikowane w: Int. Conf. Nanotechnology (NANO), 2023
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/nano58406.2023.10231288

Extraction of small signal equivalent circuit for de−embedding of 3D vertical nanowire transistor (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: B. Neckel Wesling, M. Deng, C. Mukherjee, A. Kumar, G. Larrieu, et al.
Opublikowane w: 8th Joint International EuroSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI−ULIS) 2022, May, Numer mai 22, 2022
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/j.sse.2022.108359

Full System Exploration of On-Chip Wireless Communication on Many-Core Architectures

Autorzy: Medina Morillas, Rafael, Joshua Alexander Harrison Klein, Yasir Mahmood Qureshi, Marina Zapater Sancho, Giovanni Ansaloni, and David Atienza Alonso
Opublikowane w: IEEE 13th Latin America Symposium on Circuits and System (LASCAS), 2022
Wydawca: IEEE

Modelling of vertical and ferroelectric junctionless technology for efficient 3D neural network compute cube dedicated to embedded artificial intelligence

Autorzy: C. Maneux, C. Mukherjee, M. Deng, M. Dubourg, L. Reveil, G. Bordea, A. Lecestre, G. Larrieu, J. Trommer, E.T. Breyer, S. Slesazeck, T. Mikolajick, O. Baumgartner, M. Karner, D. Pirker, Z. Stanojevic, David Atienza, A. Levisse, G. Ansaloni, A. Poittevin, A. Bosio, D. Deleruyelle, C. Marchand, I. O'Connor
Opublikowane w: IEEE IEDM, 2021
Wydawca: IEEE

REMOTE: Re-thinking Task Mapping on Wireless 2.5D Systems-on-Package for Hotspot Removal (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Medina, R., Huang, D., Ansaloni, G., Zapater, M. and Atienza, D.
Opublikowane w: 2023 IFIP/IEEE 31st International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2023, ISBN 979-8-3503-2599-7
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/vlsi-soc57769.2023.10321912

Transformer model compression for end-to-end speech recognition on mobile devices

Autorzy: Leila Ben Letaifa, Jean-Luc Rouas.
Opublikowane w: EUSIPCO 2022, 2022
Wydawca: EUSIPCO

Circuit Design Flow dedicated to 3D vertical nanowire FET

Autorzy: C. Maneux, C. Mukherjee, M. Deng, B. Neckel Wesling, L. Reveil, Z. Stanojevic, O. baumgartner, A. Poittevin, I. O'Connor, G. Larrieu
Opublikowane w: IEEE LAEDC, 2022
Wydawca: NA

A Logic Cell Design and routing Methodology Specific to VNWFET (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: A. Poittevin, I. O‘Connor, C. Marchand, A. Bosio, C. Maneux, C. Mukherjee, G. Larrieu, A. Kumar
Opublikowane w: 20th IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS), 2022
Wydawca: NA
DOI: 10.1109/newcas52662.2022.9842100

Demonstration of a p-type Junctionless Silicon Nanowire Transistor with Ferroelectric Hafnium-Zirkonium-Oxide Gate

Autorzy: T. Mauersberger, J. Trommer, G. Galderisi, M. Knaut, D. Pohl, A. Tahn, B. Rellinghaus, T. Mikolajick, A. Heinzig
Opublikowane w: EMRS Fall Meeting, Warsaw, 2023, Numer No proceedings, talk only, 2023
Wydawca: EMRS

Advancements in HZO Layer Engineering for Ultimate 3D Vertical Transistors : Towards a Logic-In-Memory Application

Autorzy: K. Moustakas, B. Neckel-Wesling, A. Lecestre, F. Mathieu, T. Mikolajick, J. Trommer, G. Larrieu, L. Cancellara, J.-D. Grillet
Opublikowane w: EMRS Fall Meeting, Warsaw, 2023, Numer 23-oct., 2023
Wydawca: EMRS

Circuit Design Flow dedicated to 3D vertical nanowire FET (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Cristell Maneux, Chhandak Mukherjee, Marina Deng, Bruno Neckel Wesling, Lucas Reveil, Zlatan Stanojevic, Oskar Baumgartner, Guilhem Larrieu, Ian O'Connor, Arnaud Poittevin
Opublikowane w: 2022 IEEE Latin American Electron Devices Conference (LAEDC), 2022, Strona(/y) 1-4
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/laedc54796.2022.9908233

Extraction of small signal equivalent circuit for de-embedding of 3D vertical nanowire transistor

Autorzy: Neckel Wesling, Bruno; Deng, Marina; Chhandak, Mukherjee; Kumar, Abhishek; Larrieu, Guilhem; Trommer, Jens; Mikolajick, Thomas; Maneux, Cristell
Opublikowane w: Numer 16, 2022
Wydawca: EuroSOI-ULIS

Energy-Efficient Computation-In-Memory Architecture Using Emerging Technologies (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: R. Bishnoi, S. Diware, A. Gebregiorgis, S. Thomann, S. Mannaa, B. Deveautour, C. Marchand, A. Bosio, D. Deleruyelle, I. O'Connor, H. Amrouch, S. Hamdioui
Opublikowane w: International Conference on Microelectronics (ICM), 2023
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/icm60448.2023.10378889

TiC-SAT: Tightly-coupled Systolic Accelerator for Transformers

Autorzy: Amirshahi A, Klein JA, Ansaloni G, Atienza D.
Opublikowane w: InProceedings of the 28th Asia and South Pacific Design Automation Conference 2023, 2023, ISBN 978-1-4503-9783-4
Wydawca: IEEE

System-Level Exploration of In-Package Wireless Communication for Multi-Chiplet Platforms

Autorzy: Medina R, Kein J, Ansaloni G, Zapater M, Abadal S, Alarcón E, Atienza D.
Opublikowane w: In Proceedings of the 28th Asia and South Pacific Design Automation Conference 2023 Jan 16, 2023, ISBN 978-1-4503-9783-4
Wydawca: IEEE

Understanding the substrate effect on de-embedding structures fabricated on SOI wafers using electromagnetic simulation

Autorzy: B. Neckel Wesling, M. Deng, C. Mukherjee, T. Mikolajick, J. Trommer and C. Maneux
Opublikowane w: IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), April 2024, Edinburgh, Scotland, Numer Avr 24, 2024
Wydawca: IEEE

Transformer Model Compression for End-to-End Speech Recognition on Mobile Devices (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Leila Ben Letaifa, Jean-Luc Rouas
Opublikowane w: 2022 30th European Signal Processing Conference (EUSIPCO), 2022, Strona(/y) 439-443
Wydawca: IEEE
DOI: 10.23919/eusipco55093.2022.9909765

Thermal consideration in nanoscale gate-all-around vertical transistors (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Guilhem Larrieu, Houssem Rezgui, Abhishek Kumar, Jonas Müller, Sylvain Pelloquin, Yifan Wang, Marina Deng, Aurelie Lecestre, Cristell Maneux, Chhandak Mukherjee
Opublikowane w: 2023 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), Kyoto, Japan, Numer juin-23, 2023, ISBN 978-4-86348-808-3
Wydawca: IEEE
DOI: 10.23919/snw57900.2023.10183951

A Study of the Variability and Design Considerations of Ferroelectric VNAND Memories With Polycrystalline Films Using An Experimentally Validated TCAD Model (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Thesberg M, Schanovsky F, Stanojević Z, Baumgartner O, Karner M.
Opublikowane w: ESSDERC 2023 - IEEE 53rd European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2023, ISBN 979-8-3503-0423-7
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/essderc59256.2023.10268518

INCLASS: Incremental Classification Strategy for Self-Aware Epileptic Seizure Detection (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Lorenzo Ferretti; Giovanni Ansaloni; Renaud Marquis; Tomas Teijeiro; Philippe Ryvlin; David Atienza; Laura Pozzi
Opublikowane w: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Numer 1, 2022, Strona(/y) 1449-1454
Wydawca: IEEE
DOI: 10.23919/date54114.2022.9774713

Fine-grained analysis of the transformer model for efficient pruning (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: L. Ben Letaifa and J.-L. Rouas
Opublikowane w: 21st IEEE International Conference on Machine Learning and Applications (ICMLA), Dec. 2022, Numer 2022, 2022
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/icmla55696.2022.00149

FVLLMONTI: The 3D Neural Network Compute Cube $(N^{2}C^{2})$ Concept for Efficient Transformer Architectures Towards Speech-to-Speech Translation (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Ian O'Connor, Sara Mannaa, Alberto Bosio, Bastien Deveautour, Damien Deleruyelle, Tetiana Obukhova, Cédric Marchand, Jens Trommer, Cigdem Cakirlar, Bruno Neckel Wesling, Thomas Mikolajick, Oskar Baumgartner, Mischa Thesberg, David Pirker, Christoph Lenz, Zlatan Stanojevic, Markus Karner, Guilhem Larrieu, Sylvain Pelloquin, Konstantinous Moustakas, Jonas Muller, Giovanni Ansaloni, Alireza Amirshah
Opublikowane w: 2024 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2024, Strona(/y) 1-6
Wydawca: IEEE
DOI: 10.23919/date58400.2024.10546700

Wyszukiwanie danych OpenAIRE...

Podczas wyszukiwania danych OpenAIRE wystąpił błąd

Brak wyników

Moja broszura 0 0