Skip to main content
Przejdź do strony domowej Komisji Europejskiej (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
polski polski
CORDIS - Wyniki badań wspieranych przez UE
CORDIS

Ferroelectric Vertical Low energy Low latency low volume Modules fOr Neural network Transformers In 3D

CORDIS oferuje możliwość skorzystania z odnośników do publicznie dostępnych publikacji i rezultatów projektów realizowanych w ramach programów ramowych HORYZONT.

Odnośniki do rezultatów i publikacji związanych z poszczególnymi projektami 7PR, a także odnośniki do niektórych konkretnych kategorii wyników, takich jak zbiory danych i oprogramowanie, są dynamicznie pobierane z systemu OpenAIRE .

Rezultaty

Elementary VNWFET devices (JL and PC) - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Fabrication of elementary VNWFET devices (JL and PC) - First version

Elementary VNWFET devices (JL and PC) - V2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Fabrication of elementary VNWFET devices (JL and PC) - improved version

Technology impact and exploitation innovation - Y3 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Technology impact and exploitation innovation - Third assessment

Thermal impedance and trap extraction - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

First report on the thermal impedance and trap extraction of VNWFETs devices fabricated in WP1

Plan for dissemination of the results - Y1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Annual plan for dissemination of the results

Workshops and summer school's report (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Report on workshops and summer school's

Plan for dissemination of the results - Y2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Annual plan for dissemination of the results, year 2

Technology impact and exploitation innovation - Y1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Technology impact and exploitation innovation First assessment

Pre-trained speech ASR/MT model and use-cases - V2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Second version of pre-trained speech ASR/MT model and use-cases

Open source release: parameterizable simulator with application examples - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

First open source release: parameterizable simulator with application examples

Plan for dissemination of the results - Y3 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Annual plan for dissemination of the results - year 3

Scaled-down N2C2 design (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Report on scaled-down N2C2 design

Library of optimized VNWFET-based logic cells (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
Pre-trained speech ASR/MT model and use-cases - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

First version of pretrained speech ASRMT model and usecases

Architecture library, multi-objective trade-offs and calibrated thermal models - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

First version of architecture library, multi-objective trade-offs and calibrated thermal models

Technology impact and exploitation innovation - Y2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Technology impact and exploitation innovation - Second assessment

Virtual scalable N2C2 design and Pareto-front data - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Report on virtual scalable N2C2 design and Paretofront data V1

Co-optimized hardware/NN architecture for ASR/MT - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

First report on the co-optimized hardware/NN architecture for ASR/MT

Versatile and scalable 3D architectural interconnect framework (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Report on the versatile and scalable 3D architectural interconnect framework

Project handbook (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Handbook summarizing decisionmaking process and planned meetings quality process for deliverables deliverable template progress reports template

Parasitic element extraction - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Report on parasitic element extraction

Project Website and social network account (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Project Website and social networks accounts for FVLLMONTI are visible online

Publikacje

A 16-bit floating-point near-sram architecture for low-power sparse matrix-vector multiplication (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Eggermann, G., Rios, M., Ansaloni, G., Nassif, S. and Atienza, D.
Opublikowane w: In 2023 IFIP/IEEE 31st International Conference on Very Large-Scale Integration (VLSI-SoC) In 2023 IFIP/IEEE 31st International Conference on Very Large-Scale Integration (VLSI-SoC), 2023, ISBN 979-8-3503-2599-7
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/vlsi-soc57769.2023.10321838

Strategies for Characterization and Parameter Extraction of Vertical Junction-less Nanowire FETs dedicated to Design Technology Co-Optimization (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: C. Maneux, C. Mukherjee, M. Deng, G. Larrieu, Y. Wang, Houssem Rezgui and B. Neckel Wesling
Opublikowane w: 243rd ECS Meeting, Boston, US, May 28th -June 2nd, 2023, Numer mai-23, 2023
Wydawca: ECS
DOI: 10.1149/11101.0209ecst

The 3D Neural Network Compute Cube (N2C2) Concept enabling Efficient Hardware Transformer Architectures towards Speech-to-Speech Translation

Autorzy: I. O'Connor, S. Mannaa, A. Bosio, B. Deveautour, D. Deleruyelle, T. Obukhova, C. Marchand, J. Trommer, C. Cakirlar, B. Neckel Wesling, T. Mikolajick, O. Baumgartner, M. Thesberg, D. Pirker, C. Lenz, Z. Stanojevic, M. Karner, G. Larrieu, S. Pelloquin, K. Moustakas, J. Muller, G. Ansaloni, A. Amirshahi, D. Atienza, J-L. Rouas, L. Ben Letaifa, G. Bordea, C. Brazier, Y. Wang, C. Mukherjee, M. Deng, M.
Opublikowane w: In 27th Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE 24), Multi-partner projects (MPP) papers, 2024
Wydawca: CESI

Analysis of an Inverter Logic Cell based on 3D Vertical NanoWire Junction-Less Transistors

Autorzy: L. Réveil, C. Mukherjee, C. Maneux, M. Deng, F. Marc, A. Kumar, A. Lecestre, G. Larrieu, A. Poittevin, I. O'Connor, O. Baumgartner and D. Pirker
Opublikowane w: VLSI-SOC, Numer 2022, 2022
Wydawca: VLSI-SOC

Reconfigurable field effect transistors: A technology enablers perspective (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: T. Mikolajick, G. Galderisi, S. Rai, M. Simon, R. Böckle, M. Sistani, C. Cakirlar, N. Bhattacharjee, T. Mauersberger, A. Heinzig, A. Kumar, W.M. Weber, J. Trommer.
Opublikowane w: Solid-State Electronics, 2022
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/j.sse.2022.108381

Challenges in Electron Beam Lithography of Silicon Nanostructures (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: C Cakirlar, G Galderisi, C Beyer, M Simon, T Mikolajick, J Trommer
Opublikowane w: IEEE 22nd International Conference on Nanotechnology (IEEE NANO), 2022, ISBN 978-1-6654-5225-0
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/nano54668.2022.9928629

Electrothermal modeling of junctionless vertical Si nanowire transistors for 3D logic circuit design (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Y. Wang, C. Mukherjee. H. Rezgui, M. Deng, C. Maneux, S. Mannaa, I. O’Connor, J. Müller, S. Pelloquin, G. Larrieu
Opublikowane w: European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), Numer 2023, 2023
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/essderc59256.2023.10268560

Compact Metal-Ferroelectric-Insulator-Semiconductor (MFIS) Approaches Versus TCAD For the Modeling Of Ferroelectric Transistors (FeFETs): Percolation, Steep-Subthreshold and Depolarization (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Thesberg, M., Schanovsky, F., Stanojevic, Z., Baumgartner, O. and Karner, M.
Opublikowane w: International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), Numer 2023, 2023, ISBN 978-4-86348-803-8
Wydawca: IEEE
DOI: 10.23919/sispad57422.2023.10319645

Error Resilient In-Memory Computing Architecture for CNN Inference on the Edge (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Rios, M., Ponzina, F., Ansaloni, G., Levisse, A. and Atienza, D.
Opublikowane w: In Proceedings of the Great Lakes Symposium on VLSI 2022, Numer 2022, 2022, ISBN 9781450393225
Wydawca: Association for Computing Machinery
DOI: 10.1145/3526241.3530351

Using Algorithmic Transformations and Sensitivity Analysis to Unleash Approximations in CNNs at the Edge (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Ponzina, F., Ansaloni, G., Peón-Quirós, M. and Atienza, D.
Opublikowane w: Micromachines, 2023
Wydawca: MDPI
DOI: 10.3390/mi13071143

Advanced contacts on 3D nanostructured channels for vertical transport gate-all-around transistors (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Guilhem Larrieu, Jonas Müller, Sylvain Pelloquin, Abhishek Kumar, Konstantinos Moustakas, Pawel Michalowski, Aurelie Lecestre
Opublikowane w: 21st International Workshop on Junction Technology (IWJT), Numer 23 juin, 2023, ISBN 978-4-86348-807-6
Wydawca: IEEE
DOI: 10.23919/iwjt59028.2023.10175172

Layer-Wise Learning Framework for Efficient DNN Deployment in Biomedical Wearable Systems (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Baghersalimi, S., Amirshahi, A., Teijeiro, T., Aminifar, A. and Atienza, D.
Opublikowane w: 2023 IEEE 19th International Conference on Body Sensor Networks (BSN), 2023, ISBN 979-8-3503-3841-6
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/bsn58485.2023.10331334

Analysis of Energy-Delay-Product of a 3D Vertical Nanowire FET Technology

Autorzy: Ian O’Connor, Arnaud Poittevin, Sébastien Le Beux, Alberto Bosio, Zlatan Stanojevic, Oskar Baumgartner, C Mukherjee, C Maneux, J Trommer, T Mikolajick, G Larrieu
Opublikowane w: Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), 2021, Strona(/y) 1-4
Wydawca: NA

Variable Scale Pruning for Transformer Model Compression in End-to-End Speech Recognition (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: L. Ben Letaifa and J.-L. Rouas
Opublikowane w: Algorithms Vol 16 n°9, 2023
Wydawca: MDPI
DOI: 10.3390/a16090398

INCLASS: incremental classification strategy for self-aware epileptic seizure detection

Autorzy: Ferretti, Lorenzo, Giovanni Ansaloni, Renaud Marquis, Tomas Teijeiro, Philippe Ryvlin, David Atienza, and Laura Pozzi
Opublikowane w: Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022, Strona(/y) 1449-1454
Wydawca: IEEE

VNWFET-based technology: from device modelling to standard cell library (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: S. Mannaa, C. Marchand, D. Deleruyelle, B. Deveautour, I. O'Connor, A. Bosio
Opublikowane w: Int. Conf. Nanotechnology (NANO), 2023
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/nano58406.2023.10231288

Extraction of small signal equivalent circuit for de−embedding of 3D vertical nanowire transistor (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: B. Neckel Wesling, M. Deng, C. Mukherjee, A. Kumar, G. Larrieu, et al.
Opublikowane w: 8th Joint International EuroSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI−ULIS) 2022, May, Numer mai 22, 2022
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/j.sse.2022.108359

Full System Exploration of On-Chip Wireless Communication on Many-Core Architectures

Autorzy: Medina Morillas, Rafael, Joshua Alexander Harrison Klein, Yasir Mahmood Qureshi, Marina Zapater Sancho, Giovanni Ansaloni, and David Atienza Alonso
Opublikowane w: IEEE 13th Latin America Symposium on Circuits and System (LASCAS), 2022
Wydawca: IEEE

Modelling of vertical and ferroelectric junctionless technology for efficient 3D neural network compute cube dedicated to embedded artificial intelligence

Autorzy: C. Maneux, C. Mukherjee, M. Deng, M. Dubourg, L. Reveil, G. Bordea, A. Lecestre, G. Larrieu, J. Trommer, E.T. Breyer, S. Slesazeck, T. Mikolajick, O. Baumgartner, M. Karner, D. Pirker, Z. Stanojevic, David Atienza, A. Levisse, G. Ansaloni, A. Poittevin, A. Bosio, D. Deleruyelle, C. Marchand, I. O'Connor
Opublikowane w: IEEE IEDM, 2021
Wydawca: IEEE

REMOTE: Re-thinking Task Mapping on Wireless 2.5D Systems-on-Package for Hotspot Removal (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Medina, R., Huang, D., Ansaloni, G., Zapater, M. and Atienza, D.
Opublikowane w: 2023 IFIP/IEEE 31st International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2023, ISBN 979-8-3503-2599-7
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/vlsi-soc57769.2023.10321912

Transformer model compression for end-to-end speech recognition on mobile devices

Autorzy: Leila Ben Letaifa, Jean-Luc Rouas.
Opublikowane w: EUSIPCO 2022, 2022
Wydawca: EUSIPCO

Circuit Design Flow dedicated to 3D vertical nanowire FET

Autorzy: C. Maneux, C. Mukherjee, M. Deng, B. Neckel Wesling, L. Reveil, Z. Stanojevic, O. baumgartner, A. Poittevin, I. O'Connor, G. Larrieu
Opublikowane w: IEEE LAEDC, 2022
Wydawca: NA

A Logic Cell Design and routing Methodology Specific to VNWFET (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: A. Poittevin, I. O‘Connor, C. Marchand, A. Bosio, C. Maneux, C. Mukherjee, G. Larrieu, A. Kumar
Opublikowane w: 20th IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS), 2022
Wydawca: NA
DOI: 10.1109/newcas52662.2022.9842100

Demonstration of a p-type Junctionless Silicon Nanowire Transistor with Ferroelectric Hafnium-Zirkonium-Oxide Gate

Autorzy: T. Mauersberger, J. Trommer, G. Galderisi, M. Knaut, D. Pohl, A. Tahn, B. Rellinghaus, T. Mikolajick, A. Heinzig
Opublikowane w: EMRS Fall Meeting, Warsaw, 2023, Numer No proceedings, talk only, 2023
Wydawca: EMRS

Advancements in HZO Layer Engineering for Ultimate 3D Vertical Transistors : Towards a Logic-In-Memory Application

Autorzy: K. Moustakas, B. Neckel-Wesling, A. Lecestre, F. Mathieu, T. Mikolajick, J. Trommer, G. Larrieu, L. Cancellara, J.-D. Grillet
Opublikowane w: EMRS Fall Meeting, Warsaw, 2023, Numer 23-oct., 2023
Wydawca: EMRS

Energy-Efficient Computation-In-Memory Architecture Using Emerging Technologies (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: R. Bishnoi, S. Diware, A. Gebregiorgis, S. Thomann, S. Mannaa, B. Deveautour, C. Marchand, A. Bosio, D. Deleruyelle, I. O'Connor, H. Amrouch, S. Hamdioui
Opublikowane w: International Conference on Microelectronics (ICM), 2023
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/icm60448.2023.10378889

TiC-SAT: Tightly-coupled Systolic Accelerator for Transformers

Autorzy: Amirshahi A, Klein JA, Ansaloni G, Atienza D.
Opublikowane w: InProceedings of the 28th Asia and South Pacific Design Automation Conference 2023, 2023, ISBN 978-1-4503-9783-4
Wydawca: IEEE

System-Level Exploration of In-Package Wireless Communication for Multi-Chiplet Platforms

Autorzy: Medina R, Kein J, Ansaloni G, Zapater M, Abadal S, Alarcón E, Atienza D.
Opublikowane w: In Proceedings of the 28th Asia and South Pacific Design Automation Conference 2023 Jan 16, 2023, ISBN 978-1-4503-9783-4
Wydawca: IEEE

Understanding the substrate effect on de-embedding structures fabricated on SOI wafers using electromagnetic simulation

Autorzy: B. Neckel Wesling, M. Deng, C. Mukherjee, T. Mikolajick, J. Trommer and C. Maneux
Opublikowane w: IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), April 2024, Edinburgh, Scotland, Numer Avr 24, 2024
Wydawca: IEEE

Thermal consideration in nanoscale gate-all-around vertical transistors (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Guilhem Larrieu, Houssem Rezgui, Abhishek Kumar, Jonas Müller, Sylvain Pelloquin, Yifan Wang, Marina Deng, Aurelie Lecestre, Cristell Maneux, Chhandak Mukherjee
Opublikowane w: 2023 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), Kyoto, Japan, Numer juin-23, 2023, ISBN 978-4-86348-808-3
Wydawca: IEEE
DOI: 10.23919/snw57900.2023.10183951

A Study of the Variability and Design Considerations of Ferroelectric VNAND Memories With Polycrystalline Films Using An Experimentally Validated TCAD Model (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Thesberg M, Schanovsky F, Stanojević Z, Baumgartner O, Karner M.
Opublikowane w: ESSDERC 2023 - IEEE 53rd European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2023, ISBN 979-8-3503-0423-7
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/essderc59256.2023.10268518

INCLASS: Incremental Classification Strategy for Self-Aware Epileptic Seizure Detection (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Lorenzo Ferretti; Giovanni Ansaloni; Renaud Marquis; Tomas Teijeiro; Philippe Ryvlin; David Atienza; Laura Pozzi
Opublikowane w: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Numer 1, 2022, Strona(/y) 1449-1454
Wydawca: IEEE
DOI: 10.23919/date54114.2022.9774713

Fine-grained analysis of the transformer model for efficient pruning (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: L. Ben Letaifa and J.-L. Rouas
Opublikowane w: 21st IEEE International Conference on Machine Learning and Applications (ICMLA), Dec. 2022, Numer 2022, 2022
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/icmla55696.2022.00149

Overflow-free compute memories for edge AI acceleration (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Ponzina F, Rios M, Levisse A, Ansaloni G, Atienza D.
Opublikowane w: ACM Transactions on Embedded Computing Systems, Numer ACM Transactions on Embedded Computing SystemsVolume 22Numer 5sArticle No.: 121, 2023, Strona(/y) pp 1–23, ISSN 1539-9087
Wydawca: Association for Computing Machinary, Inc.
DOI: 10.1145/3609387

On the Modeling of Polycrystalline Ferroelectric Thin Films: Landau-Based Models Versus Monte Carlo-Based Models Versus Experiment (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: M. Thesberg, M. N. K. Alam, B. Truijen, B. Kaczer, P. J. Roussel, Z. Stanojević, O. Baumgartner, F. Schanovsky, M. Karner, H. Kosina
Opublikowane w: IEEE TED Vol 69, n°6, 2022, 2022, ISSN 0018-9383
Wydawca: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/ted.2022.3167942

Single-step reactive ion etching process for device integration of hafnium-zirconium-oxide (HZO)/titanium nitride (TiN) stacks (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Tom Mauersberger; Jens Trommer; Saurabh Sharma; Martin Knaut; Darius Pohl; Bernd Rellinghaus; Thomas Mikolajick; Andre Heinzig
Opublikowane w: Semiconductor Science and Technology, Numer 1, 2021, ISSN 0268-1242
Wydawca: Institute of Physics Publishing
DOI: 10.1088/1361-6641/ac1827

A hardware/software co-design vision for deep learning at the edge (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Ponzina, Flavio, Simone Machetti, Marco Antonio Rios, Benoît Walter Denkinger, Alexandre Sébastien Julien Levisse, Giovanni Ansaloni, Miguel Peon Quiros, and David Atienza Alonso
Opublikowane w: IEEE Micro - Special Numer on Artificial Intelligence at the Edge, 2022, ISSN 0272-1732
Wydawca: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/mm.2022.3195617

Compact modeling of 3D vertical junctionless gate-all-around silicon nanowire transistors towards 3D logic design (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Mukherjee, C., Poittevin, A., O'Connor, I., Larrieu, G., Maneux, C.
Opublikowane w: Solid-State Electronics, 2021, ISSN 0038-1101
Wydawca: Pergamon Press Ltd.
DOI: 10.1016/j.sse.2021.108125

On the Potential of Ambipolar Schottky-Based Ferroelectric Transistor Designs for Enhanced Memory Windows in Scaled Devices (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Mischa Thesberg, Tetiana Obukhova, Damien Deleruyelle, Jens Trommer, Thomas Mikolajick, Oskar Baumgartner, Franz Schanovsky, Zlatan Stanojević, Markus Karner
Opublikowane w: IEEE Transactions on Electron Devices, Numer 71, 2024, Strona(/y) 6686-6690, ISSN 0018-9383
Wydawca: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/ted.2024.3459878

Cross-Shape Reconfigurable Field Effect Transistor for Flexible Signal Routing (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: C. Cakirlar, M. Simon, G. Galderisi, I. O’Connor, T. Mikolajick, J. Trommer
Opublikowane w: Materials Today Electronics, Numer Volume 4, June 2023, 100040, 2023, ISSN 2772-9494
Wydawca: Elsevier
DOI: 10.1016/j.mtelec.2023.100040

Nanoscale Thermal Transport in Vertical Gate-all-around Junction-less Nanowire Transistors - Part I: Experimental Methods (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: C. Mukherjee, H. Rezgui, Y. Wang, M. Deng, A. Kumar, J. Muller, G. Larrieu and C. Maneux
Opublikowane w: IEEE TED Vol 70 n°12, Numer 11 oct, 2023, ISSN 0018-9383
Wydawca: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/ted.2023.3321277

Bit-Line Computing for CNN Accelerators Co-Design in Edge AI Inference (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Rios, M., Ponzina, F., Levisse, A.S.J., Ansaloni, G., Alonso, D.A., Amirshahi, A., Klein, J.A.H., Orlandi, M., Zanghieri, M., Schiavone, D. and Donati, E.,
Opublikowane w: IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing ( Volume: 11, Numer: 2, 01 April-June 2023), 2023, ISSN 2168-6750
Wydawca: IEEE Computer Society
DOI: 10.1109/tetc.2023.3237914

3D Logic circuit design oriented electrothermal modeling of vertical junctionless nanowire FETs (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: R. Bishnoi, S. Diware, A. Gebregiorgis, S. Thomann, S. Mannaa, B. Deveautour, C. Marchand, A. Bosio, D. Deleruyelle, I. O'Connor, H. Amrouch, S. Hamdioui
Opublikowane w: J. Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, 2023, ISSN 2329-9231
Wydawca: IEEE
DOI: 10.1109/jxcdc.2023.3309502

Nanoscale Thermal Transport in Vertical Gate-all-around Junction-less Nanowire Transistors- Part II: Multiphysics Simulation (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: H. Rezgui, C. Mukherjee, Y. Wang, M. Deng, A. Kumar, J. Muller, G. Larrieu and C. Maneux
Opublikowane w: IEEE TED Vol 70 n°12, Numer oct.-23, 2023, ISSN 0018-9383
Wydawca: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/ted.2023.3321280

Wyszukiwanie danych OpenAIRE...

Podczas wyszukiwania danych OpenAIRE wystąpił błąd

Brak wyników

Moja broszura 0 0