CORDIS oferuje możliwość skorzystania z odnośników do publicznie dostępnych publikacji i rezultatów projektów realizowanych w ramach programów ramowych HORYZONT.
Odnośniki do rezultatów i publikacji związanych z poszczególnymi projektami 7PR, a także odnośniki do niektórych konkretnych kategorii wyników, takich jak zbiory danych i oprogramowanie, są dynamicznie pobierane z systemu OpenAIRE .
Rezultaty
Fabrication of elementary VNWFET devices (JL and PC) - First version
Elementary VNWFET devices (JL and PC) - V2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Fabrication of elementary VNWFET devices (JL and PC) - improved version
Technology impact and exploitation innovation - Third assessment
Thermal impedance and trap extraction - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)First report on the thermal impedance and trap extraction of VNWFETs devices fabricated in WP1
Plan for dissemination of the results - Y1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Annual plan for dissemination of the results
Workshops and summer school's report (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Report on workshops and summer school's
Plan for dissemination of the results - Y2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Annual plan for dissemination of the results, year 2
Technology impact and exploitation innovation - Y1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Technology impact and exploitation innovation First assessment
Pre-trained speech ASR/MT model and use-cases - V2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Second version of pre-trained speech ASR/MT model and use-cases
Open source release: parameterizable simulator with application examples - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)First open source release: parameterizable simulator with application examples
Plan for dissemination of the results - Y3 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Annual plan for dissemination of the results - year 3
Scaled-down N2C2 design (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Report on scaled-down N2C2 design
Library of optimized VNWFET-based logic cells (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Pre-trained speech ASR/MT model and use-cases - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
First version of pretrained speech ASRMT model and usecases
Architecture library, multi-objective trade-offs and calibrated thermal models - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)First version of architecture library, multi-objective trade-offs and calibrated thermal models
Technology impact and exploitation innovation - Y2 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Technology impact and exploitation innovation - Second assessment
Virtual scalable N2C2 design and Pareto-front data - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Report on virtual scalable N2C2 design and Paretofront data V1
Co-optimized hardware/NN architecture for ASR/MT - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)First report on the co-optimized hardware/NN architecture for ASR/MT
Versatile and scalable 3D architectural interconnect framework (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Report on the versatile and scalable 3D architectural interconnect framework
Project handbook (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Handbook summarizing decisionmaking process and planned meetings quality process for deliverables deliverable template progress reports template
Parasitic element extraction - V1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)Report on parasitic element extraction
Project Website and social networks accounts for FVLLMONTI are visible online
Publikacje
Autorzy:
Abhishek Kumar, Jonas Müller, Sylvain Pelloquin, Aurélie Lecestre, Guilhem Larrieu
Opublikowane w:
Nano Letters, Numer 24, 2024, Strona(/y) 7825-7832, ISSN 1530-6984
Wydawca:
American Chemical Society
DOI:
10.1021/acs.nanolett.3c04180
Autorzy:
Houssem Rezgui, Yifan Wang, Chhandak Mukherjee, Marina Deng, Cristell Maneux
Opublikowane w:
Journal of Physics D: Applied Physics, Numer 58, 2024, Strona(/y) 025110, ISSN 0022-3727
Wydawca:
Institute of Physics Publishing
DOI:
10.1088/1361-6463/ad4716
Autorzy:
Ponzina F, Rios M, Levisse A, Ansaloni G, Atienza D.
Opublikowane w:
ACM Transactions on Embedded Computing Systems, Numer ACM Transactions on Embedded Computing SystemsVolume 22Numer 5sArticle No.: 121, 2023, Strona(/y) pp 1–23, ISSN 1539-9087
Wydawca:
Association for Computing Machinary, Inc.
DOI:
10.1145/3609387
Autorzy:
Y. Wang, C. Mukherjee, H. Rezgui, M. Deng, J. Müller, S. Pelloquin, G. Larrieu, C. Maneux
Opublikowane w:
Solid-State Electronics, Numer 211, 2025, Strona(/y) 108805, ISSN 0038-1101
Wydawca:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2023.108805
Autorzy:
M. Thesberg, M. N. K. Alam, B. Truijen, B. Kaczer, P. J. Roussel, Z. Stanojević, O. Baumgartner, F. Schanovsky, M. Karner, H. Kosina
Opublikowane w:
IEEE TED Vol 69, n°6, 2022, 2022, ISSN 0018-9383
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2022.3167942
Autorzy:
Tom Mauersberger; Jens Trommer; Saurabh Sharma; Martin Knaut; Darius Pohl; Bernd Rellinghaus; Thomas Mikolajick; Andre Heinzig
Opublikowane w:
Semiconductor Science and Technology, Numer 1, 2021, ISSN 0268-1242
Wydawca:
Institute of Physics Publishing
DOI:
10.1088/1361-6641/ac1827
Autorzy:
Ponzina, Flavio, Simone Machetti, Marco Antonio Rios, Benoît Walter Denkinger, Alexandre Sébastien Julien Levisse, Giovanni Ansaloni, Miguel Peon Quiros, and David Atienza Alonso
Opublikowane w:
IEEE Micro - Special Numer on Artificial Intelligence at the Edge, 2022, ISSN 0272-1732
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/mm.2022.3195617
Autorzy:
Mukherjee, C., Poittevin, A., O'Connor, I., Larrieu, G., Maneux, C.
Opublikowane w:
Solid-State Electronics, 2021, ISSN 0038-1101
Wydawca:
Pergamon Press Ltd.
DOI:
10.1016/j.sse.2021.108125
Autorzy:
Mischa Thesberg, Tetiana Obukhova, Damien Deleruyelle, Jens Trommer, Thomas Mikolajick, Oskar Baumgartner, Franz Schanovsky, Zlatan Stanojević, Markus Karner
Opublikowane w:
IEEE Transactions on Electron Devices, Numer 71, 2024, Strona(/y) 6686-6690, ISSN 0018-9383
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2024.3459878
Autorzy:
Jens Trommer
Opublikowane w:
Device, Numer 3, 2025, Strona(/y) 100656, ISSN 2666-9986
Wydawca:
Elsevier BV
DOI:
10.1016/j.device.2024.100656
Autorzy:
C. Cakirlar, M. Simon, G. Galderisi, I. O’Connor, T. Mikolajick, J. Trommer
Opublikowane w:
Materials Today Electronics, Numer Volume 4, June 2023, 100040, 2023, ISSN 2772-9494
Wydawca:
Elsevier
DOI:
10.1016/j.mtelec.2023.100040
Autorzy:
C. Mukherjee, H. Rezgui, Y. Wang, M. Deng, A. Kumar, J. Muller, G. Larrieu and C. Maneux
Opublikowane w:
IEEE TED Vol 70 n°12, Numer 11 oct, 2023, ISSN 0018-9383
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2023.3321277
Autorzy:
Rios, M., Ponzina, F., Levisse, A.S.J., Ansaloni, G., Alonso, D.A., Amirshahi, A., Klein, J.A.H., Orlandi, M., Zanghieri, M., Schiavone, D. and Donati, E.,
Opublikowane w:
IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing ( Volume: 11, Numer: 2, 01 April-June 2023), 2023, ISSN 2168-6750
Wydawca:
IEEE Computer Society
DOI:
10.1109/tetc.2023.3237914
Autorzy:
R. Bishnoi, S. Diware, A. Gebregiorgis, S. Thomann, S. Mannaa, B. Deveautour, C. Marchand, A. Bosio, D. Deleruyelle, I. O'Connor, H. Amrouch, S. Hamdioui
Opublikowane w:
J. Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, 2023, ISSN 2329-9231
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/jxcdc.2023.3309502
Autorzy:
H. Rezgui, C. Mukherjee, Y. Wang, M. Deng, A. Kumar, J. Muller, G. Larrieu and C. Maneux
Opublikowane w:
IEEE TED Vol 70 n°12, Numer oct.-23, 2023, ISSN 0018-9383
Wydawca:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/ted.2023.3321280
Autorzy:
Eggermann, G., Rios, M., Ansaloni, G., Nassif, S. and Atienza, D.
Opublikowane w:
In 2023 IFIP/IEEE 31st International Conference on Very Large-Scale Integration (VLSI-SoC) In 2023 IFIP/IEEE 31st International Conference on Very Large-Scale Integration (VLSI-SoC), 2023, ISBN 979-8-3503-2599-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-soc57769.2023.10321838
Autorzy:
C. Maneux, C. Mukherjee, M. Deng, G. Larrieu, Y. Wang, Houssem Rezgui and B. Neckel Wesling
Opublikowane w:
243rd ECS Meeting, Boston, US, May 28th -June 2nd, 2023, Numer mai-23, 2023
Wydawca:
ECS
DOI:
10.1149/11101.0209ecst
Autorzy:
I. O'Connor, S. Mannaa, A. Bosio, B. Deveautour, D. Deleruyelle, T. Obukhova, C. Marchand, J. Trommer, C. Cakirlar, B. Neckel Wesling, T. Mikolajick, O. Baumgartner, M. Thesberg, D. Pirker, C. Lenz, Z. Stanojevic, M. Karner, G. Larrieu, S. Pelloquin, K. Moustakas, J. Muller, G. Ansaloni, A. Amirshahi, D. Atienza, J-L. Rouas, L. Ben Letaifa, G. Bordea, C. Brazier, Y. Wang, C. Mukherjee, M. Deng, M.
Opublikowane w:
In 27th Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE 24), Multi-partner projects (MPP) papers, 2024
Wydawca:
CESI
Autorzy:
C. Maneux, C. Mukherjee, M. Deng, M. Dubourg, L. Reveil, G. Bordea, A. Lecestre, G. Larrieu, J. Trommer, E.T. Breyer, S. Slesazeck, T. Mikolajick, O. Baumgartner, M. Karner, D. Pirker, Z. Stanojevic, David Atienza, A. Levisse, G. Ansaloni, A. Poittevin, A. Bosio, D. Deleruyelle, C. Marchand, I. O'Connor
Opublikowane w:
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022, Strona(/y) 15.6.1-15.6.4
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/iedm19574.2021.9720572
Autorzy:
L. Réveil, C. Mukherjee, C. Maneux, M. Deng, F. Marc, A. Kumar, A. Lecestre, G. Larrieu, A. Poittevin, I. O'Connor, O. Baumgartner and D. Pirker
Opublikowane w:
VLSI-SOC, Numer 2022, 2022
Wydawca:
VLSI-SOC
Autorzy:
Lucas Réveil, Chhandak Mukherjee, Cristell Maneux, Marina Deng, François Marc, Abhishek Kumar, Aurélie Lecestre, Guilhem Larrieu, Arnaud Poittevin, Ian O’Connor, Oskar Baumgartner, David Pirker
Opublikowane w:
2022 IFIP/IEEE 30th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2024, Strona(/y) 1-2
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-soc54400.2022.9939576
Autorzy:
T. Mikolajick, G. Galderisi, S. Rai, M. Simon, R. Böckle, M. Sistani, C. Cakirlar, N. Bhattacharjee, T. Mauersberger, A. Heinzig, A. Kumar, W.M. Weber, J. Trommer.
Opublikowane w:
Solid-State Electronics, 2022
Wydawca:
Elsevier
DOI:
10.1016/j.sse.2022.108381
Autorzy:
I. O'Connor, A. Poittevin, S. Le Beux, A. Bosio, Z. Stanojevic, O. Baumgartner, C. Mukherjee, C. Maneux, J. Trommer, T. Mikolajick, G. Larrieu
Opublikowane w:
2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), 2022, Strona(/y) 1-4
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/eurosoi-ulis53016.2021.9560180
Autorzy:
C Cakirlar, G Galderisi, C Beyer, M Simon, T Mikolajick, J Trommer
Opublikowane w:
IEEE 22nd International Conference on Nanotechnology (IEEE NANO), 2022, ISBN 978-1-6654-5225-0
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/nano54668.2022.9928629
Autorzy:
Y. Wang, C. Mukherjee. H. Rezgui, M. Deng, C. Maneux, S. Mannaa, I. O’Connor, J. Müller, S. Pelloquin, G. Larrieu
Opublikowane w:
European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), Numer 2023, 2023
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/essderc59256.2023.10268560
Autorzy:
Thesberg, M., Schanovsky, F., Stanojevic, Z., Baumgartner, O. and Karner, M.
Opublikowane w:
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), Numer 2023, 2023, ISBN 978-4-86348-803-8
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/sispad57422.2023.10319645
Autorzy:
Rios, M., Ponzina, F., Ansaloni, G., Levisse, A. and Atienza, D.
Opublikowane w:
In Proceedings of the Great Lakes Symposium on VLSI 2022, Numer 2022, 2022, ISBN 9781450393225
Wydawca:
Association for Computing Machinery
DOI:
10.1145/3526241.3530351
Autorzy:
Ponzina, F., Ansaloni, G., Peón-Quirós, M. and Atienza, D.
Opublikowane w:
Micromachines, 2023
Wydawca:
MDPI
DOI:
10.3390/mi13071143
Autorzy:
Guilhem Larrieu, Jonas Müller, Sylvain Pelloquin, Abhishek Kumar, Konstantinos Moustakas, Pawel Michalowski, Aurelie Lecestre
Opublikowane w:
21st International Workshop on Junction Technology (IWJT), Numer 23 juin, 2023, ISBN 978-4-86348-807-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/iwjt59028.2023.10175172
Autorzy:
Baghersalimi, S., Amirshahi, A., Teijeiro, T., Aminifar, A. and Atienza, D.
Opublikowane w:
2023 IEEE 19th International Conference on Body Sensor Networks (BSN), 2023, ISBN 979-8-3503-3841-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/bsn58485.2023.10331334
Autorzy:
Ian O’Connor, Arnaud Poittevin, Sébastien Le Beux, Alberto Bosio, Zlatan Stanojevic, Oskar Baumgartner, C Mukherjee, C Maneux, J Trommer, T Mikolajick, G Larrieu
Opublikowane w:
Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), 2021, Strona(/y) 1-4
Wydawca:
NA
Autorzy:
L. Ben Letaifa and J.-L. Rouas
Opublikowane w:
Algorithms Vol 16 n°9, 2023
Wydawca:
MDPI
DOI:
10.3390/a16090398
Autorzy:
Ferretti, Lorenzo, Giovanni Ansaloni, Renaud Marquis, Tomas Teijeiro, Philippe Ryvlin, David Atienza, and Laura Pozzi
Opublikowane w:
Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022, Strona(/y) 1449-1454
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
S. Mannaa, C. Marchand, D. Deleruyelle, B. Deveautour, I. O'Connor, A. Bosio
Opublikowane w:
Int. Conf. Nanotechnology (NANO), 2023
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/nano58406.2023.10231288
Autorzy:
B. Neckel Wesling, M. Deng, C. Mukherjee, A. Kumar, G. Larrieu, et al.
Opublikowane w:
8th Joint International EuroSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI−ULIS) 2022, May, Numer mai 22, 2022
Wydawca:
Elsevier
DOI:
10.1016/j.sse.2022.108359
Autorzy:
Medina Morillas, Rafael, Joshua Alexander Harrison Klein, Yasir Mahmood Qureshi, Marina Zapater Sancho, Giovanni Ansaloni, and David Atienza Alonso
Opublikowane w:
IEEE 13th Latin America Symposium on Circuits and System (LASCAS), 2022
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
C. Maneux, C. Mukherjee, M. Deng, M. Dubourg, L. Reveil, G. Bordea, A. Lecestre, G. Larrieu, J. Trommer, E.T. Breyer, S. Slesazeck, T. Mikolajick, O. Baumgartner, M. Karner, D. Pirker, Z. Stanojevic, David Atienza, A. Levisse, G. Ansaloni, A. Poittevin, A. Bosio, D. Deleruyelle, C. Marchand, I. O'Connor
Opublikowane w:
IEEE IEDM, 2021
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Medina, R., Huang, D., Ansaloni, G., Zapater, M. and Atienza, D.
Opublikowane w:
2023 IFIP/IEEE 31st International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2023, ISBN 979-8-3503-2599-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/vlsi-soc57769.2023.10321912
Autorzy:
Leila Ben Letaifa, Jean-Luc Rouas.
Opublikowane w:
EUSIPCO 2022, 2022
Wydawca:
EUSIPCO
Autorzy:
C. Maneux, C. Mukherjee, M. Deng, B. Neckel Wesling, L. Reveil, Z. Stanojevic, O. baumgartner, A. Poittevin, I. O'Connor, G. Larrieu
Opublikowane w:
IEEE LAEDC, 2022
Wydawca:
NA
Autorzy:
A. Poittevin, I. O‘Connor, C. Marchand, A. Bosio, C. Maneux, C. Mukherjee, G. Larrieu, A. Kumar
Opublikowane w:
20th IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS), 2022
Wydawca:
NA
DOI:
10.1109/newcas52662.2022.9842100
Autorzy:
T. Mauersberger, J. Trommer, G. Galderisi, M. Knaut, D. Pohl, A. Tahn, B. Rellinghaus, T. Mikolajick, A. Heinzig
Opublikowane w:
EMRS Fall Meeting, Warsaw, 2023, Numer No proceedings, talk only, 2023
Wydawca:
EMRS
Autorzy:
K. Moustakas, B. Neckel-Wesling, A. Lecestre, F. Mathieu, T. Mikolajick, J. Trommer, G. Larrieu, L. Cancellara, J.-D. Grillet
Opublikowane w:
EMRS Fall Meeting, Warsaw, 2023, Numer 23-oct., 2023
Wydawca:
EMRS
Autorzy:
Cristell Maneux, Chhandak Mukherjee, Marina Deng, Bruno Neckel Wesling, Lucas Reveil, Zlatan Stanojevic, Oskar Baumgartner, Guilhem Larrieu, Ian O'Connor, Arnaud Poittevin
Opublikowane w:
2022 IEEE Latin American Electron Devices Conference (LAEDC), 2022, Strona(/y) 1-4
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/laedc54796.2022.9908233
Autorzy:
Neckel Wesling, Bruno; Deng, Marina; Chhandak, Mukherjee; Kumar, Abhishek; Larrieu, Guilhem; Trommer, Jens; Mikolajick, Thomas; Maneux, Cristell
Opublikowane w:
Numer 16, 2022
Wydawca:
EuroSOI-ULIS
Autorzy:
R. Bishnoi, S. Diware, A. Gebregiorgis, S. Thomann, S. Mannaa, B. Deveautour, C. Marchand, A. Bosio, D. Deleruyelle, I. O'Connor, H. Amrouch, S. Hamdioui
Opublikowane w:
International Conference on Microelectronics (ICM), 2023
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/icm60448.2023.10378889
Autorzy:
Amirshahi A, Klein JA, Ansaloni G, Atienza D.
Opublikowane w:
InProceedings of the 28th Asia and South Pacific Design Automation Conference 2023, 2023, ISBN 978-1-4503-9783-4
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Medina R, Kein J, Ansaloni G, Zapater M, Abadal S, Alarcón E, Atienza D.
Opublikowane w:
In Proceedings of the 28th Asia and South Pacific Design Automation Conference 2023 Jan 16, 2023, ISBN 978-1-4503-9783-4
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
B. Neckel Wesling, M. Deng, C. Mukherjee, T. Mikolajick, J. Trommer and C. Maneux
Opublikowane w:
IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), April 2024, Edinburgh, Scotland, Numer Avr 24, 2024
Wydawca:
IEEE
Autorzy:
Leila Ben Letaifa, Jean-Luc Rouas
Opublikowane w:
2022 30th European Signal Processing Conference (EUSIPCO), 2022, Strona(/y) 439-443
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/eusipco55093.2022.9909765
Autorzy:
Guilhem Larrieu, Houssem Rezgui, Abhishek Kumar, Jonas Müller, Sylvain Pelloquin, Yifan Wang, Marina Deng, Aurelie Lecestre, Cristell Maneux, Chhandak Mukherjee
Opublikowane w:
2023 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), Kyoto, Japan, Numer juin-23, 2023, ISBN 978-4-86348-808-3
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/snw57900.2023.10183951
Autorzy:
Thesberg M, Schanovsky F, Stanojević Z, Baumgartner O, Karner M.
Opublikowane w:
ESSDERC 2023 - IEEE 53rd European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2023, ISBN 979-8-3503-0423-7
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/essderc59256.2023.10268518
Autorzy:
Lorenzo Ferretti; Giovanni Ansaloni; Renaud Marquis; Tomas Teijeiro; Philippe Ryvlin; David Atienza; Laura Pozzi
Opublikowane w:
2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Numer 1, 2022, Strona(/y) 1449-1454
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/date54114.2022.9774713
Autorzy:
L. Ben Letaifa and J.-L. Rouas
Opublikowane w:
21st IEEE International Conference on Machine Learning and Applications (ICMLA), Dec. 2022, Numer 2022, 2022
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.1109/icmla55696.2022.00149
Autorzy:
Ian O'Connor, Sara Mannaa, Alberto Bosio, Bastien Deveautour, Damien Deleruyelle, Tetiana Obukhova, Cédric Marchand, Jens Trommer, Cigdem Cakirlar, Bruno Neckel Wesling, Thomas Mikolajick, Oskar Baumgartner, Mischa Thesberg, David Pirker, Christoph Lenz, Zlatan Stanojevic, Markus Karner, Guilhem Larrieu, Sylvain Pelloquin, Konstantinous Moustakas, Jonas Muller, Giovanni Ansaloni, Alireza Amirshah
Opublikowane w:
2024 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2024, Strona(/y) 1-6
Wydawca:
IEEE
DOI:
10.23919/date58400.2024.10546700
Wyszukiwanie danych OpenAIRE...
Podczas wyszukiwania danych OpenAIRE wystąpił błąd
Brak wyników