European Commission logo
polski polski
CORDIS - Wyniki badań wspieranych przez UE
CORDIS

14 Anstrom CMOS IC technology

Opis projektu

Miniaturyzacja procesu technologicznego układów scalonych do 1,4 nm

Jesteśmy świadkami nieustannego rozwoju mikroprocesorów, przed którymi stawiamy coraz większe wymagania w zakresie wydajności obliczeniowej. Zespół finansowanego ze środków Unii Europejskiej projektu 14ACMOS zamierza opracować rozwiązania, które umożliwią wytwarzanie układów scalonych w procesie produkcyjnym 1,4 nm. Działania w ramach projektu obejmują cztery kluczowe zagadnienia – litografię, metrologię, infrastrukturę masek wykorzystywanych w procesie technologicznym oraz rozwiązania technologiczne, na których opiera się proces. Opracowywane rozwiązania litograficzne mają pozwolić na realizację procesu technologicznego 1,4 nm, z kolei badania fizyki plazmy w ekstremalnie dalekim ultrafiolecie pozwolą na optymalizację transmisji optycznej i żywotności. W ramach prac metrologicznych powstaną zaawansowane metody poprawy czułości pomiarów oraz ograniczenia ich niepewności, a także sposoby analizy i oceny oceny degradacji siatki spowodowanej ekstremalnie dalekim ultrafioletem. Badania dotyczące infrastruktury masek obejmą rozwój strategii naprawy masek w oparciu o technologię usuwania cząstek i ocenę ich trwałości. Z kolei prace w zakresie technologii procesowych obejmą rozwój rozwiązań w zakresie wzorcowania, aktywnego wyboru urządzeń i nowych technologii połączeń, które spełnią wyśrubowane wymagania procesu technologicznego 1,4 nm.

Cel

14ACMOS is about enabling manufacture of 14A Semiconductor technology. It addresses the 4 key pillars in IC technology development for manufacture; Lithography, Metrology, Mask Infrastructure and Process technology.

Carl ZEISS, Trumpf and ASML are the main parties to push the lithography solutions to 14A. Between Carl ZEISS, Fraunhofer, RWTH, UW and TNO further understanding of optics life time and plasma physics is pursued in optimizing optics transmission and lifetime.

Nova, BRT, ILT and PTB address measurement sensitivity enhancement of X-ray and optical based methodologies to meet the 14A requirements. Imec, TNO, PTB, UPB and RWTH will combine and tune metrology techniques specifically for the assessment of EUV reticle degradation. On throughput and resolution enhancement Bruker, EXC, PTB and AMIL will work on X-ray sources and AMIL, ICT and NFI on e-beam and SPM platforms for in-line metrology. On the reduction of Total Measurement Uncertainty, Prodrive and AMIL cover the development of an ultra-high precision wafer stage and NVIDIA, AMIL and Prodrive the development of a next generation image processing system.

In Mask Infrastructure there are FHG (IISB), ASML, Carl Zeiss covering the creation of a simulation based mask repair strategy and with Carl ZEISS, ASML, PI and UPB HW/SW and process technology for particle removal is created and repair durability is covered with Carl ZEISS, ASML, Suss and UPB.

Process technology covers the creation of patterning solutions with the involvement of imec and TEL. On active device selection there will be imec, Cadence, IBS, JSR, Recif and TEL with THERMO enabling advanced TEM characterization. Middle Of Line and Back End Of Line solution development is with imec, TEL, Solmates and Coventor for process modules and Cadence the interface with the design community. On Sustainable Semiconductor Technology and Systems there are imec, Recif and ThermoFisher covering sustainable material and processing alternatives.

Koordynator

ASML NETHERLANDS B.V.
Wkład UE netto
€ 2 593 750,00
Adres
DE RUN 6501
5504DR Veldhoven
Niderlandy

Zobacz na mapie

Region
Zuid-Nederland Noord-Brabant Zuidoost-Noord-Brabant
Rodzaj działalności
Private for-profit entities (excluding Higher or Secondary Education Establishments)
Linki
Koszt całkowity
€ 12 968 750,00

Uczestnicy (23)

Partnerzy (1)