Skip to main content
Przejdź do strony domowej Komisji Europejskiej (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
polski polski
CORDIS - Wyniki badań wspieranych przez UE
CORDIS

3D Advanced Metrology and materials for advanced devices

CORDIS oferuje możliwość skorzystania z odnośników do publicznie dostępnych publikacji i rezultatów projektów realizowanych w ramach programów ramowych HORYZONT.

Odnośniki do rezultatów i publikacji związanych z poszczególnymi projektami 7PR, a także odnośniki do niektórych konkretnych kategorii wyników, takich jak zbiory danych i oprogramowanie, są dynamicznie pobierane z systemu OpenAIRE .

Rezultaty

Workshops year 2 and publication of presented material (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

•Program: Review of the R&D activities on stand-alone techniques of the first two 3DAM years •Authors: specialists of the 3DAM partner companies, academia and research institutes. •Timing: April 2018, right after the imec Partner Technical Week •Place: imec premises •Publication: => HD video recording of the lecturer, synchronized with a HD screen-recording of the presentation slides => PDF versions of the presentations will also be available => The result is a set of technical/scientific presentations open to the public, and on-line accessible on any device (laptop, tablet) through the Imec Academy streaming facilities •Participants: open to the public after registration at Imec Academy

Workshops year 1 and publication of presented material (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

•Program: reviews of the 2016 state-of-the-art of metrology and characterization techniques relevant for 3DAM •Authors: specialists from the 3DAM partner companies. •Timing: April 2017, right after the imec Partner Technical Week •Place: imec premises •Publication: => HD video recording of the lecturer, synchronized with a HD screen-recording of the presentation slides => PDF versions of the presentations will also be available => The result is an e-learning package which can be used as a tutorial on HVM metrology, open to the public, and on-line accessible on any device (laptop, tablet) through the Imec Academy streaming facilities •Participants: open to the public after registration at Imec Academy

Workshops year 3 and publication of presented material (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

•Program: Review of the hybrid/correlative techniques as from the results obtained during 3DAM •Authors: specialists from the 3DAM partner companies. •Timing: March 2019 •Place: MINATEC Grenoble •Publication: => PDF versions of the presentations will be available for the participant at the workshop •Participants: open to the public after registration

Publikacje

Electrical characterization of single nanometer-wide Si fins in dense arrays (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Steven Folkersma, Janusz Bogdanowicz, Andreas Schulze, Paola Favia, Dirch H Petersen, Ole Hansen, Henrik H Henrichsen, Peter F Nielsen, Lior Shiv, Wilfried Vandervorst
Opublikowane w: Beilstein Journal of Nanotechnology, Numer 9, 2018, Strona(/y) 1863-1867, ISSN 2190-4286
Wydawca: Beilstein-Institut Zur Forderung der Chemischen Wissenschaften
DOI: 10.3762/bjnano.9.178

Quality assessment of terahertz time-domain spectroscopy transmission and reflection modes for graphene conductivity mapping (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: David M. A. Mackenzie, Patrick R. Whelan, Peter Bøggild, Peter Uhd Jepsen, Albert Redo-Sanchez, David Etayo, Norbert Fabricius, Dirch Hjorth Petersen
Opublikowane w: Optics Express, Numer 26/7, 2018, Strona(/y) 9220, ISSN 1094-4087
Wydawca: Optical Society of America
DOI: 10.1364/oe.26.009220

Quality assessment of graphene: Continuity, uniformity, and accuracy of mobility measurements (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: David M. A. Mackenzie, Jonas D. Buron, Patrick R. Whelan, José M. Caridad, Martin Bjergfelt, Birong Luo, Abhay Shivayogimath, Anne L. Smitshuysen, Joachim D. Thomsen, Timothy J. Booth, Lene Gammelgaard, Johanna Zultak, Bjarke S. Jessen, Peter Bøggild, Dirch H. Petersen
Opublikowane w: Nano Research, Numer 10/10, 2017, Strona(/y) 3596-3605, ISSN 1998-0124
Wydawca: Tsinghua Univ Press
DOI: 10.1007/s12274-017-1570-y

Breakthrough in current-in-plane tunneling measurement precision by application of multi-variable fitting algorithm (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Alberto Cagliani, Frederik W. Østerberg, Ole Hansen, Lior Shiv, Peter F. Nielsen, Dirch H. Petersen
Opublikowane w: Review of Scientific Instruments, Numer 88/9, 2017, Strona(/y) 095005, ISSN 0034-6748
Wydawca: American Institute of Physics
DOI: 10.1063/1.4989994

Qualitative analysis of scanning gate microscopy on epitaxial graphene (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: David M A Mackenzie, Vishal Panchal, Héctor Corte-León, Dirch H Petersen, Olga Kazakova
Opublikowane w: 2D Materials, Numer 6/2, 2019, Strona(/y) 025023, ISSN 2053-1583
Wydawca: IOP Publishing Ltd
DOI: 10.1088/2053-1583/ab0572

Electrical Homogeneity Mapping of Epitaxial Graphene on Silicon Carbide (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Patrick R. Whelan, Vishal Panchal, Dirch H. Petersen, David M. A. Mackenzie, Christos Melios, Iwona Pasternak, John Gallop, Frederik W. Østerberg, Peter U. Jepsen, Wlodek Strupinski, Olga Kazakova, Peter Bøggild
Opublikowane w: ACS Applied Materials & Interfaces, Numer 10/37, 2018, Strona(/y) 31641-31647, ISSN 1944-8244
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsami.8b11428

Anisotropic stress in narrow sGe fin field-effect transistor channels measured using nano-focused Raman spectroscopy (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: T. Nuytten, J. Bogdanowicz, L. Witters, G. Eneman, T. Hantschel, A. Schulze, P. Favia, H. Bender, I. De Wolf, W. Vandervorst
Opublikowane w: APL Materials, Numer 6/5, 2018, Strona(/y) 058501, ISSN 2166-532X
Wydawca: APL Materials
DOI: 10.1063/1.4999277

Prawa własności intelektualnej

Xray shielding with improved vacuum conductivity

Numer wniosku/publikacji: US US 16/106,914
Data: 2018-08-21
Wnioskodawca/wnioskodawcy: FEI ELECTRON OPTICS BV

Multi mode system with a dispersion x-ray detector

Numer wniosku/publikacji: USPTO for US20180012728A1 Application for US20180012728A1
Data: 2018-01-11
Wnioskodawca/wnioskodawcy: APPLIED MATERIALS ISRAEL LTD

Wyszukiwanie danych OpenAIRE...

Podczas wyszukiwania danych OpenAIRE wystąpił błąd

Brak wyników

Moja broszura 0 0